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努美(北京)科技有限公司

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功率測(cè)試儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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德雷射科深耕太陽光模擬器制造二十余載,匯聚光學(xué)、電子領(lǐng)域資深人才,德雷射科研發(fā)的 SAT 測(cè)試技術(shù)攻克高容性電池測(cè)量難題,獲眾多國(guó)內(nèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)認(rèn)可。

 

產(chǎn)品主要涵蓋:氙燈穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器、LED 穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器、氙燈瞬態(tài)太陽光模擬器、AM0 瞬態(tài)太陽光模擬器、定制太陽光模擬器等產(chǎn)品。

 

產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光伏、航空航天、汽車、高等院??蒲袌?chǎng)景。服務(wù)一線晶硅企業(yè)及鈣鈦礦企業(yè),支撐產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)控;為航天器提供太空光輻射模擬測(cè)試,保障性能;同時(shí),為高校提供專業(yè)科研設(shè)備,助力學(xué)術(shù)研究與實(shí)驗(yàn)開展。

 

公司產(chǎn)品遠(yuǎn)銷美國(guó)、英國(guó)、日本、澳大利亞等 20 余國(guó)家。作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制定參與者,德雷射科加入中國(guó)材料與試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)(CSTM)、中國(guó)光伏行業(yè)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)電池工作組;檢測(cè)中心獲 CNAS 認(rèn)證,彰顯檢測(cè)實(shí)力。未來,德雷射科將秉承“因?yàn)閷W?,所以專業(yè)”的理念,續(xù)賦能全球客戶。




太陽光模擬器,穩(wěn)態(tài)模擬器,大面積穩(wěn)態(tài)模擬器,氙燈穩(wěn)態(tài)模擬器,LED穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器,鈣鈦礦電池測(cè)試儀,AM0太陽光模擬器,大面積太陽模擬器,氙燈光源,

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 觸發(fā)模式 穩(wěn)態(tài)式
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,電氣,能源,電子/電池,電氣,

功率測(cè)試儀使?氙燈作為穩(wěn)態(tài)光源,可于晶硅、鈣鈦礦與疊層電池?及其相應(yīng)的組件的IV測(cè)試。設(shè)備主要配置有光源控制系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)、測(cè)試系統(tǒng)、恒溫系統(tǒng)、紅外測(cè)溫探頭、參考電池、計(jì)算機(jī)、顯示器等。

設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)標(biāo)配I-V、V-I掃描?式,具備MPPT(最?功率點(diǎn)追蹤)、I-t(定電壓)等多種測(cè) 試技術(shù)。可獲取I-V曲線,P-V曲線,輻照度曲線,短路電流,開路電壓,峰值功率,峰值功率點(diǎn)電壓、 電流,定電壓點(diǎn)電流,填充因?,轉(zhuǎn)換效率,串聯(lián)電阻,并聯(lián)電阻等測(cè)試參數(shù)。

功率測(cè)試儀產(chǎn)品參數(shù)

適配標(biāo)準(zhǔn) IEC60904-9:2020
光源類型 氙燈穩(wěn)態(tài)光源
冷卻方式 定制風(fēng)冷
光源壽命 >1000h
光譜范圍 300-1200nm
光源等級(jí) 1.光譜匹配度  0.875-1.125 A+
2.輻照度不均勻度  ≤2% A
3.輻照度不穩(wěn)定度  ≤1% A+
輻照度范圍 200W/㎡~1200W/㎡
測(cè)試面積 1.200*200mm2.240*240mm;3.300*300mm;4.320*320mm;5.可定制其他尺寸
測(cè)試模式   穩(wěn)態(tài)測(cè)試模式可自由設(shè)定由1s到連續(xù)照光
多通道設(shè)計(jì) 可實(shí)現(xiàn)36通道同時(shí)測(cè)試,通道數(shù)量可定制
測(cè)試技術(shù) 標(biāo)配I-V、V-I掃描方式,具備MPPT(最大功率點(diǎn)追蹤)、I-t(定電壓)等多種測(cè)試技術(shù),可通過軟件切換,同時(shí)集成逐點(diǎn)掃描方式(滿足最短≤0.2s步進(jìn)的掃描方式)
測(cè)試電池 多晶、單晶、Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層等
可增配項(xiàng) 1.集成溫控系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)溫度系數(shù)測(cè)試
2.
集成EL測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試
3.
可定制0BB測(cè)試工裝、鈣鈦礦適配工裝
4.
集成IR紅外熱像儀,實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試
5.
手套箱(米開羅那)


適配標(biāo)準(zhǔn)

Standard

IEC60904-9:2020

IEC60904-9:2020

光源類型

Light type

氙燈穩(wěn)態(tài)光源

Xenon Lamp

冷卻方式

Cooling

定制風(fēng)冷

Forced air cooling

光源壽命

Light source lifetime

>1000h

>1000h

光譜范圍

Spectrum wavelength

300-1200nm

300-1200nm

光源等級(jí)

Classfication of light source

光譜匹配度  0.875-1.125 A+

輻照度不均勻度  ≤2% A

輻照度不穩(wěn)定度  ≤1% A+

Spectral match is 0.875-1.125, class   A+

Irradiance non-uniformity is ≤2%,  class   A

Irradiance instability is ≤1%,  class   A+

輻照度范圍

Irradiance intensity

200W/㎡~1200W/㎡

200W/㎡~1200W/㎡

測(cè)試面積

Illumination area

? 200*200mm? 240*240mm

? 300*300mm? 320*320mm

? 可定制其他尺寸

? 200*200mm? 240*240mm

? 300*300mm? 320*320mm

? Other size can be customized

測(cè)試模式  

Test mode

穩(wěn)態(tài)測(cè)試模式可自由設(shè)定由1s到連續(xù)照光

Under steady-state mode, it can be set freely from 1s to continuous illumination. Besides

多通道設(shè)計(jì)

Multi-channel testing design

可實(shí)現(xiàn)36通道同時(shí)測(cè)試,通道數(shù)量可定制

36 channels can be tested simultaneously, and the number of channels can be customized

測(cè)試技術(shù)

Testing technology

標(biāo)配I-V、V-I掃描方式,具備MPPT(最大功率點(diǎn)追蹤)、I-t(定電壓)等多種測(cè)試技術(shù),可通過軟件切換,同時(shí)集成逐點(diǎn)掃描方式(滿足最短≤0.2s步進(jìn)的掃描方式)

It equipped with I-V, V-I scanning, MPPT (maximum power point tracking), I-t (constant voltage) and other test technologies, all these technologies can be switched by software.  It also equipped point-by-point scanning ( meet the shortest scanning in step of ≤0.2s

測(cè)試電池

Measurable cell type

多晶、單晶、Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層等

Poly-crystalline, Mono-crystalline, TopCon, HJT, BC,CIGS, GaAs, CdTe and Perovskite

可增配項(xiàng)

Optional service

? 集成溫控系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)溫度系數(shù)測(cè)試

? 集成EL測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試

? 可定制0BB測(cè)試工裝、鈣鈦礦適配工裝

? 集成IR紅外熱像儀,實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試

? 手套箱(米開羅那)

? Temperature Chamber can be integrated

   to achieve measurement of temperature

   coefficient

? EL testing system can achieve IV and EL

   testing at a same production section

? Jigs for 0BB cells and perovskite can be

   customized.

? Integrated with IR infrared thermal imager

   to realize heat spot testing

? Glove box(MIKROUNA)

 

 

 

 

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