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反射膜厚儀 FT100

具體成交價以合同協(xié)議為準

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江蘇集萃中科旨在光學組件、光學儀器、智能光電感知三大方向,開展系列關鍵技術攻關與產(chǎn)業(yè)化實踐,目前已形成3D光學輪廓儀、白光干涉儀、反射膜厚儀、光致發(fā)光、無損檢測儀、光譜橢偏儀等標準化產(chǎn)品。公司服務涵蓋光學儀器的研發(fā)、生產(chǎn)及制造一站式服務,同時為客戶提供基于智能光電感知的智慧工廠整體解決方案。




白光干涉儀、光學輪廓儀、粗糙度儀、光學膜厚儀、光譜橢偏儀等光學產(chǎn)品。

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應用領域 綜合

反射膜厚儀 FT100描述:

緊湊型反射式膜厚儀測量系統(tǒng),初學者也能輕松上手解析,單點對焦并測量耗時1秒內(nèi)完成,支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析。用于表征介質(zhì)保護膜、半導體薄膜、玻璃鍍膜等各種樣式薄膜膜厚的光學計量專業(yè)化工具。


反射膜厚儀 FT100功能

膜層厚度無損測量

避免傳統(tǒng)接觸式測量(如臺階儀)可能造成的劃傷或形變。

支持單層、多層膜測量

通過干涉條紋間距或反射率極值點直接計算厚度。

便攜式設計

模塊化探頭,緊湊機身,產(chǎn)線快速抽檢。

支持平面曲面測量

通過可變?nèi)肷浣窃O計或曲面補償算法(如修正光程差),測量圓柱透鏡、球面鏡等。

可測多種狀態(tài)薄膜

如SiO?、光刻膠、PET薄膜,可通過多峰干涉解析各層厚度。

支持參數(shù)調(diào)整測量

用戶可保存不同材料的測量模板,提升批量檢測效率。


產(chǎn)品特點

1.高精度、高穩(wěn)定性

2.光學干涉方式,無損測量

3.多類解析算法,可精準和估算測量,滿足不同測量需要

4.高速測量,絕大多數(shù)樣品可1s內(nèi)完成測量

5.軟件簡潔,測量一鍵操作,簡單易用

6.機型結構小巧,輕質(zhì)化設計,便于攜帶


三視圖

  • 反射膜厚儀 FT100

    正視圖

  • 反射膜厚儀 FT100

    側視圖

  • 反射膜厚儀 FT100

    后視圖

  • 反射膜厚儀 FT100

    正視圖

  • 反射膜厚儀 FT100

    側視圖

  • 反射膜厚儀 FT100

    后視圖


技術參數(shù)

波長范圍

400-850nm

測量范圍(光學厚度)

50nm-80μm

測量重復性(RMS)

0.4nm

測量精度(與橢偏儀對比)

2nm或0.4%(以值為準)

入射角度

90°

光斑尺寸

標準1.5mm

測量時間

4ms-100ms

基片測量范圍

100mm,360°

通信接口

USB3.0




檢測案例:

  • 反射膜厚儀 FT100

    PVA膜檢測


  • 反射膜厚儀 FT100

    硅上鍍二氧化硅膜




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