TH-晶圓測(cè)試 晶圓集成系統(tǒng)
參考價(jià) | ¥100000-¥300000/件 |
- 公司名稱 天恒科儀(蘇州)光電有限技術(shù)公司
- 品牌其他品牌
- 型號(hào)TH-晶圓測(cè)試
- 所在地蘇州市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2025/5/29 11:54:31
- 訪問次數(shù) 13
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主營(yíng)集成系統(tǒng)、探針臺(tái)、示波器、邏輯分析儀、半導(dǎo)體/光電分析平臺(tái)及定制測(cè)試方案供應(yīng)商
探針臺(tái)
1.1. 8英寸-80℃ to +200℃高低溫密閉腔體
1.2.卡盤X/Y軸平面無間隙氣浮快速移動(dòng),移動(dòng)速率可調(diào),單手控制,快速移動(dòng)行程:8英寸X8英寸,任意位置自動(dòng)鎖止,同時(shí)X/Y軸平面無間隙微調(diào)移動(dòng)行程:8英寸X8英寸,精度:1um
1.3.卡盤Z軸無間隙升降移動(dòng),行程:0~10mm,微調(diào)精度:1um
1.4.探針平臺(tái)快速升降行程 0/0.3/3.0mm并帶自動(dòng)鎖定功能
1.5.顯微鏡底座在 X-Y軸平面內(nèi)微調(diào)移動(dòng),行程:2英寸X2英寸,精度1微米
1.6.顯微鏡Z軸氣浮快速升降,行程0~50mm,升降速率可調(diào)
1.7.高分辨顯微觀察系統(tǒng),光學(xué)分辨率0.5um,配合2000萬(wàn)像素高清工業(yè)相機(jī)和液晶顯示器,帶拍照、錄像和尺寸測(cè)量軟件
1.8.直流、脈沖、高壓、大電流、高頻探針均可配置。
高低溫卡盤
2.1. 8英寸高低溫卡盤,同軸結(jié)構(gòu),背柵電極測(cè)試,可兼容Banana、BNC、TRIAX、SMA、HV TRIAX等測(cè)試接口
2.2. 溫度范圍:-80℃ to +200℃
2.3. 溫度分辨率 : 0.1℃
2.4. 溫度穩(wěn)定性: ±0.1℃
2.5. 控溫方式 : 全自動(dòng)控溫軟件,一鍵控制溫控器、傳感器和液氮流量
IV儀表
3.1. 提供寬動(dòng)態(tài)范圍:200mV~200V, 1μA~1A, 20W
3.2. 最小電流分辨率:0.1fA
3.3. 最小電壓分辨率:1uV
3.4. 四象限工作
3.5. 數(shù)字I/O提供快速分選與機(jī)械手連接GPIB,RS-232
CV儀表
4.1. 測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz(10 mHz~100 Hz步進(jìn))
4.2. 測(cè)量模式:?jiǎn)未?連續(xù)測(cè)量
4.3. 基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°
4.4 最小電容分辨率:0.1fF
4.5. DC偏壓-200V~+200V
測(cè)試軟件
5.1. 人機(jī)交互界面多功能軟件;
5.2. 具備數(shù)據(jù)圖形化分析功能,具備輸出通道、測(cè)試通道、輸出類型、掃描模式、電壓/電流參數(shù)、掃描步長(zhǎng)、輸出延遲、循環(huán)次數(shù)、接線方式設(shè)置功能;
5.3. 可實(shí)時(shí)測(cè)得IV曲線、VI曲線、IT曲線、VT曲線、RT曲線、PT曲線、RV曲線、FET特性曲線、BJT特性曲線、C-F、C-V、C-T實(shí)時(shí)曲線;
5.4.濾波設(shè)置,對(duì)測(cè)量值取平均;
5.5. 手動(dòng)設(shè)置輸出和測(cè)量的量程范圍,也可設(shè)置自動(dòng)量程;
5.6. 設(shè)置測(cè)量積分時(shí)間,控制測(cè)量速率和精確度,積分時(shí)間可設(shè)置為0.001s~25s;
5.7. 通訊接口支持GPIB、RS-232、USB、LAN;