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化工儀器網>產品展廳>半導體行業(yè)專用儀器>其它半導體行業(yè)儀器設備>其它半導體設備>集成系統(tǒng) 天恒科儀 晶圓測試系統(tǒng) 半導體封測

集成系統(tǒng) 天恒科儀 晶圓測試系統(tǒng) 半導體封測

具體成交價以合同協(xié)議為準

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


 

公司簡介:

我公司已開發(fā)直流、光電、射頻、微波、光波、特殊應用定制等全系列常溫、高溫、高低溫、真空環(huán)境探針測試平臺、半導體器件參數測試系統(tǒng)、光電藕合測試系統(tǒng)、射頻、微波器件測試系統(tǒng)、功率器件高壓、大電流測試系統(tǒng)等產品。

研發(fā)設計:

經過多年的發(fā)展,我公司在精密儀器檢測行業(yè)具有較強的產品競爭力和研發(fā)能力。我們的愿景是成為專業(yè)的精密儀器檢測產品和技術供應商,打造的高精尖精密儀器研發(fā)制造基地。

解決方案:

天恒科儀從公司成立之初始終把研發(fā)部做為公司核心的一個部門之一,引進專業(yè)的PDM管理系統(tǒng)進行研發(fā)部管理。研發(fā)團隊定期參加行業(yè)舉辦的各項技術交流活動,以此推動研發(fā)部研發(fā)出創(chuàng)新技術和高品質的產品。

 

主營集成系統(tǒng)、探針臺、示波器、邏輯分析儀、半導體/光電分析平臺及定制測試方案供應商

價格區(qū)間 30萬-50萬 應用領域 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合
天恒科儀 晶圓測試系統(tǒng)

晶圓探針測試系統(tǒng)(Wafer Probing System),是半導體制造過程中的關鍵設備之一,用于在晶圓切割成單個芯片(Die)之前,對晶圓上的每個芯片進行電性能測試和功能驗證。其核心目標是篩選出合格芯片、定位缺陷并收集數據,以提升生產良率并降低后續(xù)封裝成本。

核心功能

電性能測試
檢測芯片的電壓、電流、頻率、功耗等參數是否滿足設計要求。


功能驗證
驗證芯片的邏輯功能、信號處理能力等是否符合預期。


缺陷定位
標記失效芯片的位置,避免后續(xù)封裝環(huán)節(jié)的資源浪費。


數據收集與分析

為工藝改進提供數據支持,優(yōu)化制造流程。




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