國創(chuàng)科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000

核心參數(shù)

1.能量范圍：2-20keV
2.樣品處光通量：≥1×10? photons/s @7-9keV
3.能量分辨率：0.4-0.9eV@2-5 keV
4.能量重復(fù)性：≤30 meV@24h
5.調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)精度：能量掃描最小步長0.1eV

適用性強(qiáng)

滿足全部常規(guī)樣品測試的同時(shí)，亦可滿足特殊樣品測試，如磷、鉀、錒系、有毒、有放射性樣品等。

操作便捷

1.內(nèi)置不同元素參數(shù)，快速切換測量。
2.提供標(biāo)樣數(shù)據(jù)庫，簡化分析流程。
3.支持多樣品自動(dòng)采集，減少進(jìn)樣次數(shù)。
4.遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)監(jiān)控，配備多重安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)。

國創(chuàng)科儀 寬能譜X射線吸收譜儀 SuperXAFS T2000

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES）是一種用于研究材料局部結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)的非破壞性技術(shù)。該技術(shù)利用 X 射線與物質(zhì)的相互作用，獲取指定元素的近邊吸收譜（XANES）、擴(kuò)展遠(yuǎn)邊吸收譜（EXAFS）和特定能帶發(fā)射譜，分別用于分析元素的化學(xué)狀態(tài)和價(jià)態(tài)、原子周圍局部環(huán)境的配位結(jié)構(gòu)，以及甄別測量元素的配位原子類別，是表征晶態(tài)和非晶態(tài)材料微觀配位結(jié)構(gòu)的重要手段。XAFS/XES主要應(yīng)用于催化劑 、合金、陶瓷、環(huán)境污染物、各類晶態(tài)和非晶態(tài)材料及生物樣品內(nèi)金屬離子的價(jià)態(tài)、配位結(jié)構(gòu)及電子狀態(tài)分析，以及材料局部結(jié)構(gòu)在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結(jié)構(gòu)動(dòng)態(tài)演化過程研究等。