S neox 探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇
| 參考價(jià) | ￥ 800000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京儀光科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 S neox
- 產(chǎn)地 西班牙
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/8/18 10:31:05
- 訪問次數(shù) 20
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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
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探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇 在科研與工業(yè)制造邁向精密化的當(dāng)下，微觀世界的精確測量愈發(fā)關(guān)鍵。Sensofar 白光干涉儀，憑借前沿技術(shù)與精心設(shè)計(jì)，成為諸多領(lǐng)域探索微觀奧秘、把控產(chǎn)品質(zhì)量的得力伙伴。
產(chǎn)品細(xì)節(jié)：精巧設(shè)計(jì)，操作便利
Sensofar 白光干涉儀造型緊湊，不占過多空間，可輕松適配各類實(shí)驗(yàn)與生產(chǎn)環(huán)境。儀器外觀線條流暢，盡顯工藝美感。其操作界面簡潔直觀，功能按鍵布局合理，即便是初次接觸的使用者，也能迅速熟悉操作流程，高效開展測量工作。設(shè)備的樣品臺(tái)設(shè)計(jì)精妙，能夠穩(wěn)固承載不同形狀與尺寸的樣品，同時(shí)支持靈活調(diào)整，確保樣品處于最佳測量位置。
產(chǎn)品性能：多元技術(shù)，穩(wěn)定可靠
這款儀器融合共聚焦顯微鏡與白光干涉測量等多種技術(shù)。共聚焦模式在應(yīng)對高陡坡、不透明或高反射率樣品時(shí)表現(xiàn)，可清晰捕捉復(fù)雜表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)。白光干涉模式則在光滑表面測量方面優(yōu)勢，能夠提供縱向分辨率，特別適用于光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體晶圓等超精密檢測場景。兩種模式可根據(jù)樣品特性自動(dòng)切換或協(xié)同使用，極大地拓展了儀器的適用范圍，確保在不同樣品上都能獲取精準(zhǔn)的測量數(shù)據(jù)。并且，設(shè)備在運(yùn)行過程中展現(xiàn)出良好的穩(wěn)定性，受外界環(huán)境干擾影響較小，為測量結(jié)果的可靠性提供有力保障。
用材講究：品質(zhì)之選，耐用持久
Sensofar 白光干涉儀在選材上極為用心。核心光學(xué)部件選用高品質(zhì)光學(xué)玻璃，具備出色的透光性與低色散特性，能有效減少光線傳播過程中的能量損失與圖像畸變，確保測量成像的清晰度與準(zhǔn)確性。儀器內(nèi)部的機(jī)械結(jié)構(gòu)采用高強(qiáng)度、耐腐蝕的金屬材料，不僅保證了設(shè)備整體的穩(wěn)固性，還顯著提升了其抗磨損能力，即便長期處于高頻使用狀態(tài)，也能維持良好的性能，延長設(shè)備的使用壽命，降低用戶的使用成本。
型號多樣，參數(shù)豐富
以旗艦產(chǎn)品 S neox 為例，其橫向分辨率可達(dá) 0.14μm，縱向精度更是突破 0.1nm，能夠精準(zhǔn)識(shí)別極其微小的表面特征變化。設(shè)備支持多種放大倍數(shù)物鏡切換，滿足不同尺寸樣品與測量精度需求。同時(shí)，具備快速掃描功能，可在短時(shí)間內(nèi)完成大面積樣品的測量工作，顯著提升檢測效率。此外，Sensofar 還有適用于不同應(yīng)用場景的其他型號產(chǎn)品，如用于工業(yè)在線檢測的 Sonix 系統(tǒng)，憑借高速攝像頭與優(yōu)化光學(xué)設(shè)計(jì)，將測量速度提升至傳統(tǒng)干涉系統(tǒng)數(shù)倍，且在保持高垂直分辨率的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了對大批量生產(chǎn)產(chǎn)品的實(shí)時(shí)質(zhì)量監(jiān)控。
廣泛用途：多領(lǐng)域大顯身手
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，Sensofar 白光干涉儀發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。它能夠精確檢測晶圓表面粗糙度、薄膜厚度均勻性以及蝕刻工藝后的臺(tái)階高度，為芯片制造的良品率提供堅(jiān)實(shí)保障。例如在 5G 通信用碳化硅基晶圓制備過程中，借助儀器的白光干涉模式，可量化晶體生長的均勻性，有效避免因表面缺陷引發(fā)的芯片性能衰減問題。在光學(xué)鏡片生產(chǎn)中，可用于檢測透鏡、反射鏡等元件的表面瑕疵，如劃痕、凹坑、污染以及面形誤差，確保光學(xué)元件的成像質(zhì)量。在消費(fèi)電子零部件檢測方面，對于手機(jī)玻璃蓋板、陶瓷背板等部件的表面粗糙度與缺陷測量，能夠滿足產(chǎn)線 100% 全檢的嚴(yán)格要求，通過高速掃描與 AI 缺陷分類技術(shù)，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)質(zhì)量控制，提升產(chǎn)品品質(zhì)。
使用說明：規(guī)范操作，保障效果
初次使用 Sensofar 白光干涉儀時(shí)，需仔細(xì)檢查設(shè)備外觀有無損壞，各部件連接是否牢固。將儀器放置在平穩(wěn)、無振動(dòng)的工作臺(tái)上，并確保工作環(huán)境溫度、濕度適宜。連接好電源及相關(guān)配件后，開啟設(shè)備進(jìn)行預(yù)熱，待設(shè)備穩(wěn)定后，依據(jù)樣品特性選擇合適的測量模式與參數(shù)。放置樣品時(shí)，務(wù)必小心輕放，避免損傷樣品與儀器樣品臺(tái)。測量過程中，密切關(guān)注儀器運(yùn)行狀態(tài)，如發(fā)現(xiàn)圖像異常、測量數(shù)據(jù)波動(dòng)過大等情況，應(yīng)立即停止測量，排查故障原因。測量完成后，及時(shí)關(guān)閉設(shè)備電源，清理樣品臺(tái)，并定期對儀器進(jìn)行清潔與維護(hù)，確保設(shè)備始終處于良好的工作狀態(tài)。
Sensofar 白光干涉儀憑借其出色的設(shè)計(jì)、穩(wěn)定的性能、豐富的功能以及廣泛的適用性，為科研工作者與工業(yè)生產(chǎn)者提供了可靠的微觀測量解決方案，助力各行業(yè)在精密測量領(lǐng)域不斷突破，邁向新的高度。探索 Sensofar 白光干涉儀開啟微觀測量新篇
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