PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2015/8/31 15:25:23
- 訪問(wèn)次數(shù) 1116
產(chǎn)品標(biāo)簽
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產(chǎn)品介紹:
PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)?/span>單晶硅片及電池、多晶硅片及電池、薄膜電池、化合物電池等幾乎所用的太陽(yáng)能電池進(jìn)行少子壽命掃描、串聯(lián)電阻掃描、硅片分類、各種缺陷、暗條件I-V 曲線、光照條件I-V 曲線等完整的一系列參數(shù)快速準(zhǔn)確分析。能夠在線和離線對(duì)硅片、絨面、擴(kuò)散、刻蝕、PECVD、電極印刷、燒結(jié)、電池片等各個(gè)工藝環(huán)節(jié)進(jìn)行檢測(cè)和分析；是分析工藝問(wèn)題，提高成品率，降低成本*的關(guān)鍵設(shè)備，為產(chǎn)品質(zhì)量和公司品質(zhì)提供了*可靠的保障。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
■ 適用幾乎所有類型太陽(yáng)能電池：?jiǎn)尉Ч杵半姵?/span>/多晶硅片及電池/薄膜電池/化合物電池
■ 完整的檢測(cè)系統(tǒng)：
少子壽命掃描/串聯(lián)電阻掃描/硅片分類/隱裂/暗條件I-V曲線/光照條件I-V曲線
■ 速度快，每片測(cè)試時(shí)間小于1秒
■ 精度高，能實(shí)時(shí)找到每個(gè)致少子壽命降低的缺陷
■ 可以監(jiān)控和優(yōu)化關(guān)鍵工藝，包括擴(kuò)散、去磷硅玻璃等等
■ 可以在線和離線分析
■ 功能強(qiáng)大的分析軟件，可以分析幾乎所有的缺陷
■ 先投入先產(chǎn)出，投入產(chǎn)出比遠(yuǎn)高于行業(yè)的1：2
■ 革命性的產(chǎn)品，未來(lái)的趨勢(shì)所在
技術(shù)參數(shù)：
■ 銦砷鎵傳感器：900-1500nm
■ 測(cè)試尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm
■ 像素：752×480pixel
■ 尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg
■ 每片測(cè)試時(shí)間<1s
典型客戶:
美國(guó)，歐洲，亞洲及國(guó)內(nèi)太陽(yáng)能及半導(dǎo)體客戶。
采購(gòu)中心
化工儀器網(wǎng)