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INTECS英特斯晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置PX 3437
INTECS英特斯晶圓檢測目視用UIH-1H霧度檢查用照明裝置PX 3437
INTECS英特斯晶圓光學(xué)檢測目視檢查燈UIH-1H照明燈現(xiàn)貨PX 3437
INTECS英特斯晶圓 光學(xué)檢測目視檢查燈UIH-1C照明燈現(xiàn)貨PX 3437
INTECS英特斯晶圓 光學(xué)檢測目視檢查燈UIH-2D照明燈現(xiàn)貨PX 3437
INTECS英特斯光學(xué)檢測用目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3DPX 3437
INTECS英特斯晶圓缺陷目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3DPX 3437
INTECS英特斯現(xiàn)貨晶圓缺陷鹵素?zé)鬠IH-3D灰塵照射檢測燈PX 3437
UIH-3D現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈PX 3437
UIH-2D現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈PX 3437
UIH-1C現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈PX 3437
京都玉崎晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨PX 3437
京都玉崎安德魯斯S-VAN光學(xué)檢測目視光源185LE現(xiàn)貨PX 3437
京都玉崎光學(xué)檢測設(shè)備目視光源185HLE照明裝置現(xiàn)貨PX 3437
京都玉崎光學(xué)檢測185LE電源控制器185HLE-MK2現(xiàn)貨PX 3437
京都玉崎晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨PX 3437
京都玉崎晶圓缺陷185LE-AL標(biāo)配鹵素?zé)舯?85/17LFAPX 3437
京都玉崎185LE晶圓缺陷檢查燈現(xiàn)貨鹵素?zé)舯?85/17LFAPX 3437
京都玉崎sena高照度玻璃185LE晶圓缺陷檢查燈現(xiàn)貨PX 3437
京都玉崎晶圓缺陷表面檢查燈sena lamp現(xiàn)貨370TFI/RPX 3437
京都玉崎現(xiàn)貨高照度185LE-AL手持晶圓缺陷表面檢查燈PX 3437
京都玉崎SENA 高照度晶圓缺陷表面檢查燈185LE現(xiàn)貨PX 3437
ET4000A全自動微形狀測量機PX 1950
CA20型CT系統(tǒng)PX 1950
CC系列CT系統(tǒng)PX 1950
UX系列CT系統(tǒng)PX 1950
FF系列CT系統(tǒng)PX 1950
SAM Premium超聲掃描顯微鏡PX 1950
SAM全自動全自動超聲波掃描顯微鏡PX 1950
SAM超聲波掃描顯微鏡PX 1950
SENTECH SENDURO®MEMS全自動薄膜質(zhì)量控制PX 1950
SpectraRay/4薄膜計量光譜儀軟件PX 1950
SENTECH SENDIRA薄膜計量紅外光譜橢圓儀PX 1950
SENTECH SENpro薄膜計量橢圓光譜儀PX 1950
ET200A型微型輪廓儀(光學(xué)檢測)PX 1950
SENresearch 4.0薄膜計量橢圓光譜儀PX 1950
SENTECH SE 500adv薄膜計量激光橢圓儀PX 1950
FTPadv Expert薄膜計量光譜反射儀軟件PX 1950
FTPadv薄膜計量膜厚探頭PX 1950
RM 1000/RM 2000薄膜計量光譜反射儀PX 1950
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
渦流法金屬薄膜電阻率測試儀
晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012
晶圓THK測量設(shè)備
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-Q
晶圓電子束密閉檢測儀
晶圓光學(xué)除塵儀
自動粉體半導(dǎo)電電阻測試儀
EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測燈 PSVLX1-F5016
全自動非接觸電阻率方阻測試儀
晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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