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日立分析儀器(上海)有限公司

新XRF技術(shù)實(shí)現(xiàn)化學(xué)鍍鎳層厚度和鎳磷成分比的測量

時間:2018-8-23 閱讀:1244
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50多年前,引入化學(xué)鍍鎳鍍層以便提高輕質(zhì)材料的燃料效率、耐腐蝕性能和耐用性。由于其能夠滿足環(huán)境法規(guī)的工程要求,因此被快速應(yīng)用于汽車、航空航天和運(yùn)輸行業(yè),同時也被視為鍍鉻的替代方式。


如今,化學(xué)鍍鎳已被廣泛應(yīng)用于交通運(yùn)輸行業(yè)中,例如:齒輪組件、軸承、燃油噴射系統(tǒng)、鋁燃料過濾器、安全銷和排出閥?;瘜W(xué)鍍鎳的另一個重要優(yōu)勢是,即使工件形狀和幾何結(jié)構(gòu)復(fù)雜,其仍能夠生成厚度均勻的沉淀物。


用于電鍍工藝質(zhì)量控制和篩選的微焦斑X射線熒光(XRF)分析儀


XRF分析儀是一項經(jīng)過現(xiàn)場驗(yàn)證的技術(shù),用于測定塊狀和相對較大產(chǎn)品的元素組成和鍍層厚度。如今,微焦斑XRF測厚儀越來越專業(yè)化以便滿足更嚴(yán)苛的分析需求。微焦斑是將大面積的一次X射線束減小到微米級來測量小型產(chǎn)品和樣品。該分析儀可以實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的測量,包括合金鍍層和多層鍍層。微焦斑XRF是一種理想的測試方法,因?yàn)樗鼘?shí)現(xiàn)了厚度和成分的無損測量,只需幾秒鐘即可獲得準(zhǔn)確、可重復(fù)的實(shí)時分析,無需使用化學(xué)品或凈化氣體。


同時測定鍍層厚度和化學(xué)成分


在微焦斑XRF方面所獲得的進(jìn)步(如高分辨率硅漂移探測器(SDD))也實(shí)現(xiàn)了鎳和磷含量在空氣路徑下的直接測量,因此可以同時測定鍍層厚度和化學(xué)成分。


作為提供鍍層臨界厚度分析的關(guān)鍵方法,微焦斑XRF能實(shí)現(xiàn)整個化學(xué)鍍鎳流程的質(zhì)量控制。當(dāng)期望生成不同鎳和磷比率的合金時,它將有助于提供的沉淀物測量。由于化學(xué)鍍鎳的物理和化學(xué)性質(zhì)主要取決于磷含量(%P),因此驗(yàn)證磷濃度非常重要,以確保鍍層厚度的均勻分布并實(shí)現(xiàn)相應(yīng)目標(biāo)磷含量。


XRF致力于為質(zhì)量控制/保證標(biāo)準(zhǔn)的工程師提率,可用于在電鍍流程任何階段(從來料檢驗(yàn)到終質(zhì)量檢查)的鍍層厚度測量。在整個電鍍過程中使用XRF分析可以帶來諸多好處,如成本優(yōu)化和標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性。它還有助于保證成品組件或產(chǎn)品的穩(wěn)定功能和較長使用壽命。重要的是,XRF分析可以幫助制造商避免召回零部件和產(chǎn)品所產(chǎn)生的高昂費(fèi)用,并且可以避免公司在產(chǎn)品出現(xiàn)故障時遭受無法挽回的損失。 

 

近,F(xiàn)T150分析儀新增了一項高性能,配置了光束尺寸小于17μm的多毛細(xì)管光學(xué)元件,可對電子行業(yè)的化學(xué)鍍鎳鍍層進(jìn)行無損分析。這種分析儀設(shè)計堅穩(wěn),功能多樣,適用于具挑戰(zhàn)性的工業(yè)環(huán)境。如需了解日立分析儀器鍍層分析產(chǎn)品的更多信息,請訪問我們的網(wǎng)站。

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