微型CMOS高速相機(jī) 參考價(jià)：面議
這款微型CMOS高速相機(jī)HAS-U1是一款小型高速攝像機(jī),搭載1/2英寸CMOS圖像傳感器,有效分辨率為1280×1024像素,全分辨率下拍攝速度為2...
CMOS高速成像相機(jī) 參考價(jià)：面議
CMOS高速成像相機(jī)系列是美國(guó)高性價(jià)比CMOS高速攝影相機(jī)，廣泛用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控。
高清運(yùn)動(dòng)高速攝像機(jī) 參考價(jià)：面議
高清運(yùn)動(dòng)高速攝像機(jī)是一款為動(dòng)作捕捉和高速運(yùn)動(dòng)攝像攝影設(shè)計(jì)的高速攝影相機(jī),最高分辨率高達(dá)5K,滿幅攝像速率高達(dá)5350fps.
高速攝像機(jī),高速成像相機(jī) 參考價(jià)：面議
這款高速攝像機(jī)是多用途高速成像相機(jī),在滿幅1280x1028像素分辨率的最高攝像速度達(dá)2000fps,最高成像幀頻15000fps,適合碰撞試驗(yàn)高速攝像,PIV...
門控增強(qiáng)相機(jī) 參考價(jià)：面議
門控增強(qiáng)相機(jī)GOI是門控超快單幅相機(jī),采用微通道板像增強(qiáng)器和超快選通成像技術(shù)構(gòu)建超快光學(xué)門控成像系統(tǒng)
增強(qiáng)型選通成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
增強(qiáng)型選通成像系統(tǒng)GOI2是增強(qiáng)型選通成像相機(jī),采用超快選通像增強(qiáng)器構(gòu)建高速選通分幅相機(jī),廣泛用于超高速攝影,激光等離子體研究.快門寬范圍80ps-5ns,慢門...
高分辨率高速分幅相機(jī) 參考價(jià)：面議
高分辨率高速分幅相機(jī)simx是一款多通道超快分幅攝像機(jī),一次可獲得16幅高分辨率超快圖像,每秒成像幀頻高達(dá)10億次。
高速相機(jī)增強(qiáng)器 參考價(jià)：面議
這款高速相機(jī)增強(qiáng)器適合多數(shù)高速相機(jī)成像增強(qiáng)，適UV-NIR紫外~近紅外范圍的合弱光成像，也適合快速選通門控應(yīng)用。典型的應(yīng)用是與高速相機(jī)或傳統(tǒng)相機(jī)結(jié)合,用于燃燒，...
超高速分幅攝相機(jī) 參考價(jià)：面議
超高速分幅攝相機(jī)系列能夠以高達(dá)2400萬(wàn)像素捕捉快速事件或瞬態(tài)事件,具有*獨(dú)立可編程曝光和延遲低至5ns，幀速率高達(dá)200M fps，增強(qiáng)器和多種觸發(fā)可選，包括...
四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì) 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì)可快速測(cè)量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測(cè)量。
自動(dòng)四探針電阻率mapping測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
自動(dòng)四探針電阻率mapping測(cè)試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設(shè)計(jì)的工業(yè)級(jí)自動(dòng)四點(diǎn)探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，提供快速、準(zhǔn)確和可靠的晶圓樣品...
四探針方塊電阻測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
四探針方塊電阻測(cè)量?jī)x是為Sheet Resistivity薄層電阻率測(cè)量設(shè)計(jì)的四點(diǎn)探針電阻測(cè)量?jī)x器,滿足各種材料的薄層電阻率測(cè)量,包括IV族半導(dǎo)體、金屬和化合物...
晶圓厚度變化測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測(cè)量?jī)xMX10x系列是德國(guó)測(cè)量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達(dá)10nm，可以在幾秒鐘內(nèi)適應(yīng)不同的厚度范圍。
硅片TTV厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
硅片TTV厚度測(cè)試儀,測(cè)量硅片厚度 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x是大尺寸玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x和玻璃彎曲度測(cè)試儀,廣泛用于翹曲度測(cè)量,彎曲度測(cè)量,表面形貌測(cè)量和鍍膜測(cè)量等。,玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x,玻璃彎曲度測(cè)試儀由...
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量?jī)x器。
晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款多功能晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x是為晶圓生產(chǎn)線上自動(dòng)晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)計(jì)的大型自動(dòng)晶圓測(cè)量?jī)x器,具有晶圓厚度測(cè)量,晶圓翹曲度測(cè)量,晶圓BOW/WARP測(cè)量,晶圓wave...
硅錠壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
硅錠壽命測(cè)量?jī)x是精確的非接觸式測(cè)量本體壽命的儀器,適合任意生長(zhǎng)硅錠表面任意曲率半徑硅錠測(cè)量壽命。也適合單晶硅硅錠和多晶硅硅錠壽命測(cè)量
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀 參考價(jià)：面議
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀MTF Micro是為極短焦距的微光學(xué)元件設(shè)計(jì)的光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀器,它在5個(gè)像場(chǎng)點(diǎn)和焦點(diǎn)測(cè)量MTF切向和矢狀。
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x是為光學(xué)鏡頭和光學(xué)模組分析測(cè)試設(shè)計(jì)的光學(xué)鏡頭分析測(cè)試儀器,滿足鏡頭經(jīng)典光學(xué)參數(shù)的測(cè)量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負(fù)）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
紅外自準(zhǔn)直儀 參考價(jià)：面議
紅外自準(zhǔn)直儀是專門為1550nm波長(zhǎng)設(shè)計(jì)的電子紅外自動(dòng)準(zhǔn)直儀器,具有電子圖像評(píng)估功能和1弧秒的精度。
磁場(chǎng)消除系統(tǒng),磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場(chǎng)噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像MRI,...
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價(jià)：面議
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場(chǎng)干擾而設(shè)計(jì)的主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽和主動(dòng)消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場(chǎng)干擾影響的環(huán)境.(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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