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德國(guó)韋氏納米系統(tǒng)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第9年

18721247059

KLA/科磊
薄膜測(cè)量系統(tǒng)
微組裝系統(tǒng)
Deposition沉積系統(tǒng)
Megasonic Clean /兆聲清洗系統(tǒng)
測(cè)量?jī)x器
ECOPIA/韓國(guó)
Etching/等離子蝕刻系統(tǒng)
Thin Film薄膜沉積系統(tǒng)
美國(guó)杜邦Dupont
Ethcing/等離子蝕刻系統(tǒng)
Probe station/探針臺(tái)
紫外掩膜對(duì)準(zhǔn)曝光系統(tǒng)
快速退火爐
生命科學(xué)
PIE scientific/美國(guó)
JFP microtechnic/法國(guó)
OAI/美國(guó)
Model 32 UV LED 光源 Model 30 準(zhǔn)直紫外光源及曝光系統(tǒng) MCP-T710 電阻儀 MCP-T380通用便攜式電阻率儀 Model 659 紫外線(xiàn)光強(qiáng)與能量計(jì) Model 656 紫外線(xiàn)光強(qiáng)與能量計(jì) Model 308 紫外線(xiàn)光度計(jì) 太陽(yáng)能電池高性能測(cè)試夾具 太陽(yáng)能功率計(jì) 集成式 IV 光伏測(cè)試系統(tǒng) AML 原位對(duì)準(zhǔn)晶圓鍵合機(jī) CPV 聚光太陽(yáng)模擬器 AAA 標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器 Model 6020 全自動(dòng)掩模曝光機(jī) Model 6000 生產(chǎn)型掩膜曝光機(jī) Model 2000 邊緣去膠紫外泛光曝光機(jī) Model 800E 紫外掩膜曝光機(jī) Model 212 紫外掩膜曝光機(jī) Model 200 紫外掩膜曝光機(jī)
Unitemp/德國(guó)
NanoMagnetics/英國(guó)
Reflow Oven /回流焊
  • KLA iNano®納米壓痕儀

    KLA iNano®納米壓痕儀使測(cè)量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡(jiǎn)單。準(zhǔn)確、靈活、用戶(hù)友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測(cè)試,包括壓痕、硬度、劃痕和...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/10 2:05:23 對(duì)比
    KLA iNano®納米壓痕儀inano納米壓痕儀納米劃痕儀inano壓痕儀
  • KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀

    KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級(jí)力學(xué)測(cè)試工具,可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/10 1:49:48 對(duì)比
    KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀半導(dǎo)體劃痕壓痕測(cè)量
  • KLA Candela® 7100系列缺陷檢測(cè)和分類(lèi)系統(tǒng)

    KLA Candela® 7100系列缺陷檢測(cè)和分類(lèi)系統(tǒng)為硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)提供了高級(jí)缺陷檢測(cè)和分類(lèi)功能。7100系列硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器缺陷檢測(cè)和分類(lèi)系統(tǒng)以...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/9 23:09:27 對(duì)比
    KLA Candela® 7100缺陷檢測(cè)分類(lèi)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)和分類(lèi)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)晶圓分類(lèi)系統(tǒng)半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)和分類(lèi)系統(tǒng)
  • KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)

    KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲(chǔ)基板和成品介質(zhì)提供了先進(jìn)的量測(cè)和檢測(cè)功能。隨著數(shù)據(jù)存儲(chǔ)制造商努力通過(guò)進(jìn)一步...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/9 22:57:56 對(duì)比
    KLA Candela® 6300光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面缺陷表面缺陷檢測(cè)光學(xué)檢測(cè)儀
  • KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀

    KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀提供3D量測(cè)和成像功能,與集成防震臺(tái)和晶圓操作系統(tǒng)結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技術(shù)...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/9 20:00:22 對(duì)比
    KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀臺(tái)階儀輪廓儀光學(xué)輪廓儀kla輪廓儀
  • KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀

    KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀可提供3D 量測(cè)和成像功能,與集成式防震臺(tái)和靈活的配置相結(jié)合,可以處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot&trade...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/9 19:53:24 對(duì)比
    KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀Zeta™-300光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀白光干涉儀粗糙度儀
  • KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀

    全新的KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀專(zhuān)為滿(mǎn)足優(yōu)良金屬化工藝中對(duì)于細(xì)柵線(xiàn)、接觸墊和主柵線(xiàn)的測(cè)量需求而設(shè)計(jì)。更為優(yōu)良的3D 成像技術(shù),以及最大...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/7 15:39:58 對(duì)比
    KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀eta™-Solar光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀輪廓儀白光干涉儀
  • KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀

    KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀是一個(gè)高度集成的光學(xué)輪廓顯微鏡,可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/7 15:12:45 對(duì)比
    KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀白光干涉儀KLA光學(xué)輪廓儀非接觸式輪廓儀
  • KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀

    KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀和 Profilm3D-200 光學(xué)輪廓儀經(jīng)濟(jì)實(shí)惠,是一套非接觸式基于白光干...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/7 14:50:31 對(duì)比
    KLA Filmetrics® Profilm3D®光學(xué)輪廓儀光學(xué)表面分析儀Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀白光干涉儀
  • KLA HRP®-260 探針式輪廓儀

    KLA HRP®-260 探針式輪廓儀是一個(gè)高分辨率、自動(dòng)化探針式輪廓儀,提供從幾納米到 300 微米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。P-260支持臺(tái)階高度、粗糙...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/7 14:40:10 對(duì)比
    kla hrp-260探針式輪廓儀輪廓儀臺(tái)階儀粗糙度儀
  • KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀

    KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動(dòng)化輪廓儀,可為生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、...

    型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): ¥50000更新時(shí)間:2025/3/7 14:32:42 對(duì)比
    KLATencor® P-170 探針式輪廓儀Tencor® P-170探針式輪廓儀輪廓儀

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