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KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/17 10:30:38
對(duì)比
KLAP-17探針式輪廓儀臺(tái)階儀粗糙度測(cè)量
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KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀
半導(dǎo)體薄膜生長(zhǎng)表面檢測(cè)KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。D-600 還支持2...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/17 10:27:03
對(duì)比
科磊探針式輪廓儀Alpha-Step® D-600kla半導(dǎo)體表面測(cè)量
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KLA Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x通過(guò)將顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧y(cè)量工具，實(shí)現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測(cè)量。該設(shè)備配備集成彩色攝像機(jī)，可在1秒內(nèi)完成...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:59:43
對(duì)比
KLA Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F40白光干涉測(cè)厚儀
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KLA Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)控沉積過(guò)程，提供高精度、快速且非侵入式的測(cè)量解決方案，適用于多種半導(dǎo)體和電介質(zhì)材料。其主要特點(diǎn)包括提...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:53:14
對(duì)比
KLA Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀Filmetrics F30薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x系列，涵蓋近紅外光波長(zhǎng)范圍980 nm、1310 nm及1550 nm，能夠測(cè)量從15納米至3毫米的薄膜厚...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:42:31
對(duì)比
KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)xF3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀Filmetrics F3-sX
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KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測(cè)量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測(cè)量系統(tǒng)專為微小視野及樣品設(shè)計(jì)，支持快速、簡(jiǎn)易的厚度測(cè)量，適用于聚對(duì)二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動(dòng)校正功能，可...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:34:59
對(duì)比
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測(cè)量系統(tǒng)快速厚度測(cè)量系統(tǒng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀F3-CS快速厚度測(cè)量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x通過(guò)同時(shí)測(cè)量反射和透射光譜，實(shí)現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設(shè)備價(jià)格合理，具備分析、FWHM確定及顏色分...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:28:14
對(duì)比
Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量
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KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x是一款專為測(cè)量單層和多層硬涂層設(shè)計(jì)的儀器，基于F20平臺(tái)，采用光譜反射分析技術(shù)，提供快速準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:21:12
對(duì)比
Filmetrics F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x汽車薄膜厚度測(cè)量白光干涉測(cè)厚儀F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x
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KLA Filmetrics F20臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F20臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng);經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測(cè)量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:12:59
對(duì)比
Filmetrics F20Filmetrics F20白光干涉測(cè)厚儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長(zhǎng)壽命、低功率光源可以測(cè)量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:02:14
對(duì)比
Filmetrics F10-ARcKLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F10-ARc白光干涉測(cè)厚儀
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KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測(cè)量?jī)x便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長(zhǎng)壽命、低功率光源可以測(cè)量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒鐘...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 2:57:44
對(duì)比
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測(cè)量?jī)xKLA Filmetrics白光干涉測(cè)厚儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜測(cè)量設(shè)備
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KLA NanoFlip納米壓痕儀
KLA NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準(zhǔn)確、精密地進(jìn)行硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其它納米力學(xué)性能的測(cè)試。無(wú)論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 2:30:38
對(duì)比
KLA NanoFlip納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀NanoFlip納米壓痕儀納米檢測(cè)
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KLA iNano®納米壓痕儀
KLA iNano®納米壓痕儀使測(cè)量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡(jiǎn)單。準(zhǔn)確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測(cè)試，包括壓痕、硬度、劃痕和...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 2:05:23
對(duì)比
KLA iNano®納米壓痕儀inano納米壓痕儀納米劃痕儀inano壓痕儀
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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級(jí)力學(xué)測(cè)試工具，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 1:49:48
對(duì)比
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀半導(dǎo)體劃痕壓痕測(cè)量
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KLA Candela® 7100系列缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)提供了高級(jí)缺陷檢測(cè)和分類功能。7100系列硬盤驅(qū)動(dòng)器缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)以...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 23:09:27
對(duì)比
KLA Candela® 7100缺陷檢測(cè)分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)晶圓分類系統(tǒng)半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)
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KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)
KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲(chǔ)基板和成品介質(zhì)提供了先進(jìn)的量測(cè)和檢測(cè)功能。隨著數(shù)據(jù)存儲(chǔ)制造商努力通過(guò)進(jìn)一步...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 22:57:56
對(duì)比
KLA Candela® 6300光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面缺陷表面缺陷檢測(cè)光學(xué)檢測(cè)儀
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KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀提供3D量測(cè)和成像功能，與集成防震臺(tái)和晶圓操作系統(tǒng)結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技術(shù)...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 20:00:22
對(duì)比
KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀臺(tái)階儀輪廓儀光學(xué)輪廓儀kla輪廓儀
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KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀可提供3D 量測(cè)和成像功能，與集成式防震臺(tái)和靈活的配置相結(jié)合，可以處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot&trade...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/9 19:53:24
對(duì)比
KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀Zeta™-300光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀白光干涉儀粗糙度儀
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KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀
全新的KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀專為滿足優(yōu)良金屬化工藝中對(duì)于細(xì)柵線、接觸墊和主柵線的測(cè)量需求而設(shè)計(jì)。更為優(yōu)良的3D 成像技術(shù)，以及最大...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/7 15:39:58
對(duì)比
KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀eta™-Solar光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀輪廓儀白光干涉儀
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KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀是一個(gè)高度集成的光學(xué)輪廓顯微鏡，可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/7 15:12:45
對(duì)比
KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀白光干涉儀KLA光學(xué)輪廓儀非接觸式輪廓儀
