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FISCHERSCOPE X-RAY XDL210
技術(shù)參數(shù)表如下：
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 X射線熒光光譜儀，采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測(cè)量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 FISCHERSCOPE X-RAY XDL
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測(cè)量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。
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