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FISCHER XDL230臺式，菲希爾臺式測厚儀，F(xiàn)ischer代理，菲希爾X射線鍍層測厚儀

FISCHER XDL230臺式

通用規(guī)格：

設(shè)計用途	能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)，用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍	從元素氯(17) 到鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，多可同時測定24種元素
設(shè)計理念	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由上往下
X射線源
X射**	帶鈹窗口的鎢管
高壓	三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準(zhǔn)直器）	? 0.3 mm 可選：? 0.1 mm； ? 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm
測量點尺寸	取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小，實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致小的測量點大小約? 0.2mm
X射線探測
X射線接收器	測量距離
比例接收器	0 ~ 80 mm，使用**保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法
樣品定位
視頻系統(tǒng)	高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸）可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于精確定位樣品
放大倍數(shù)	40x – 160x
電氣參數(shù)
電源要求	220 V ，50 Hz
功率	* 120 W （不包括計算機(jī)）
保護(hù)等級	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸	寬×深×高[mm]：570×760×650
內(nèi)部測量室尺寸	寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品**高度"部分的說明）
重量	107 kg
環(huán)境要求
使用時溫度	10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度	0°C – 50°C
空氣相對濕度	≤ 95 %，無結(jié)露
工作臺	手動X/Y平臺
設(shè)計
X/Y平臺**移動范圍	95 x 150 mm
可用樣品放置區(qū)域	420 x 450 mm
Z軸	馬達(dá)驅(qū)動
Z軸移動范圍	140 mm
樣品**重量	20kg
樣品**高度	140 mm
激光（1級）定位點	有
計算單元
計算機(jī)	帶擴(kuò)展卡的WINOOWs®計算機(jī)系統(tǒng)
軟件標(biāo)準(zhǔn)	WinFTM® V.6 LIGHT
可選	WinFTM® V.6 BASIC，PDM，SUPER
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)CE合格標(biāo)準(zhǔn)	EN 61010
型式許可	作為受保護(hù)的儀器型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定。
訂貨號	FISCHERSCOPE X-RAY XDL230604-496
如有特殊要求，可與FISCHER磋商，定制特殊的XDL型號。

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