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薄膜計量紅外光譜橢圓儀
SENTECH SENDIRA 專為紅外（FTIR）而設計。這款緊湊的臺式儀器包括吹掃橢偏儀光學元件、計算機控制的測角儀、水平樣品平臺、自動準直望遠鏡、商用...
型號： SENTECH S... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:14:53 對比

紅外光譜薄膜計量
探針臺
定制基于靈活模塊的 150 mm 探針臺FormFactor為150 mm探針臺引入了新的模塊化概念。這將使您更容易以令人難以置信的價格配置個性化探頭解決方案，...
型號： MPS150系列所在地：美國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:13:02 對比

探針臺光電傳感 MPS150系列 Formfactor
薄膜計量橢圓光譜儀
SENTECH SENpro 橢圓偏振光譜儀具有操作簡單、測量速度快、不同入射角橢偏振測量的組合數(shù)據(jù)分析等特點。它的測量光譜范圍為 370 nm 至 1,050...
型號： SENTECH S... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:10:53 對比

薄膜計量
薄膜計量橢圓光譜儀
SENTECH SENresearch 4.0 使用快速 FTIR 橢圓偏振法分別測量高達 2,500 nm 或 3,500 nm 的近紅外光譜。它提供最寬的光...
型號： SENresear... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:06:39 對比

薄膜計量
薄膜計量激光橢圓儀
SENTECH SE 500adv結合了橢圓偏振法和反射法，消除了測量透明薄膜層厚的模糊性。它將可測量的厚度擴展到 25 μm。因此，SE 500adv 擴展了...
型號： SENTECH S... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:04:26 對比

激光橢圓薄膜計量
薄膜計量光譜反射儀軟件
FTPadv Expert薄膜測量軟件具有FTPadv標準軟件中包含的用戶友好和以配方為導向的操作概念。突出顯示擬合參數(shù)、測量和計算的反射光譜以及主要結果的光學...
型號： FTPadv Ex... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:02:51 對比

薄膜計量
薄膜計量膜厚探頭
FTPadv是一種經濟高效的臺式光譜反射解決方案，具有快速厚度測量功能。測量時間不到 100 ms，精度低于 0.3 nm，膜厚范圍為 50 nm – 25 μ...
型號： FTPadv 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 10:00:29 對比

膜厚檢測快速檢測
薄膜計量光譜反射儀
RM 1000 和 RM 2000 光譜反射儀可測量表面光滑或粗糙的平面或彎曲樣品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單膜或層疊的厚...
型號： RM 1000/R... 所在地：德國參考價：面議更新時間：2025/6/6 9:54:21 對比

SENTECH 光譜反射儀
多模態(tài)光電顯微鏡
燭龍™系列中的多模態(tài)光電顯微鏡是一臺具有超高穩(wěn)定性的多功能光電綜合測試和微加工系統(tǒng)，可根據(jù)客戶需求提供多種靈活可選的配置和方案。系統(tǒng)集成了電動運動臺...
型號：所在地：蘇州市參考價：面議更新時間：2025/6/6 9:22:09 對比

托托科技顯微鏡
MPI探針臺
CAPELLA系列探針臺支持從晶圓到封裝芯片級的所有LED產品類型（垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片）的電氣和光學表征。無論您是需要高性能、高性價比還是專業(yè)探針系統(tǒng)...
型號： CAPELLA系列所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/6 8:17:40 對比

CAPELLA系列 MPI 探針臺光電傳感光電測試
MPI探針臺
Micro LED（μLED）是顯示行業(yè)的光學技術突破。Micro LED顯示器為消費/顯示器/汽車應用提供了巨大的潛力，因為與其他發(fā)射設備相比，它們更亮、更快...
型號： GEMINI系列所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/6 8:01:03 對比

GEMINI系列 MPI 探針臺光電測試光電傳感
MPI探針臺
MPI AVIOR 系列為光通信市場提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射（TP）、倒裝芯片（FP）發(fā)射和裸片/封裝（DP）配置，...
型號： AVIOR系列所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/6 7:52:18 對比

AVIOR系列 MPI 探針臺光電分析光電傳感
超顯微壓痕硬度計
“ELIONIX "系列第五代超顯微壓痕硬度計，在日本制造的納米壓痕測試儀具有友好的 GUI，通過抑制測量環(huán)境中的干擾實現(xiàn)高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性。
型號： ELIONIX-5 所在地：日本參考價：面議更新時間：2025/6/6 7:24:00 對比

半導體工藝測量檢測
MPI探針臺
VEGA系列概述MPI VEGA 探針系列已準備好滿足激光二極管（VCSEL、EEL）和光學模塊市場的各種測試和材料處理要求。
型號： VEGA系列所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/5 21:59:59 對比

探針臺 MPI VEGA系列光學通信光學傳感
精密研磨拋光機
TAP-400/600/450A/500精密研磨拋光機系列設備是兩軸高精密單面拋光設備，拋光頭可自轉、可擺動，可實現(xiàn)高壓力、高轉速拋光，可以單片拋光，也可以多片...
型號： TAP-400/6... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/6/5 20:43:17 對比

晶圓拋光
單面拋光機
單面拋光機是一款操作簡單，兼容性強，搭配不同盤配合相應的液可實現(xiàn)多種半導體材料高精度拋光設備，拋光盤可定制，根據(jù)量產要求多種規(guī)格可選。
型號： TSP-610 /... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/6/5 20:41:08 對比

晶圓拋光
單面拋光機
TSP-400/450/380晶片研磨機系列設備是落地式的高精度單面拋光設備，可搭配銅盤、錫盤、玻璃盤、不銹鋼盤等，配合不同類型的拋光液，適用于各種半導體材料的...
型號： TSP-400/4... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/5 20:39:13 對比

晶圓拋光
雙面拋光機
雙面拋光機分為雙面機械拋光和雙面化學拋光兩種，分別代表雙面拋光的粗加工和精加工。主要用于晶片的表面拋光，操作簡單，搭配不同的夾具，拋光墊，拋光液可以實現(xiàn)不同材料...
型號： TDP-1200/... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/5 20:37:02 對比

拋光機
鈦寶石飛秒激光放大器
鈦寶石飛秒激光放大器的優(yōu)勢：1.Astrella 提供更好的數(shù)據(jù)并降低整體數(shù)據(jù)成本。Astrella 具備高脈沖能量（高達 9 mJ）、短脈沖寬度（ 35 fs...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/5 9:54:56 對比

鈦寶石飛秒激光放大器飛秒激光放大器
深能級瞬態(tài)譜儀(DLTS)
深能級瞬態(tài)譜儀(DLTS) 技術優(yōu)勢：1. 數(shù)字瞬態(tài)記錄器最大采樣 64000點2. 數(shù)字瞬態(tài)記錄器采樣間隔 2us-4s3. 耦合方式提供28種耦合方式,包...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2025/6/5 9:50:52 對比

深能級瞬態(tài)譜儀(DLTS)瞬態(tài)譜儀(DLTS)

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深圳市矢量科學儀器有限公司

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