HORIBA堀場高分辨微區(qū)X射線熒光分析儀

• <15µm 超高強度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率

• 高分辨相機和多種照明模式成像

• 雙檢測器！熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

• 輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

HORIBA堀場高分辨微區(qū)X射線熒光分析儀XGT-9000 以其精心設計的激發(fā)系統(tǒng)保證性能和靈活性，X射線發(fā)生器具有高達 50 kV 和 1000 µA 的高輸出。 此外可以通過我們多樣化的X射線頭提供多種尺寸（10μm - 1.2mm）的激發(fā)用初級 X 射線，其中就包括超高強度X射線頭（probe），以實現快速測量。
XGT-9000 樣品倉可容納各種樣品，包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓，并根據需求提供各種樣品架，此外最多可以選擇 4 種測量環(huán)境來提高靈敏度。

功能強大的XGT 9000 軟件，包括全面完整的基本測試功能，如單點測試、多點測試、線分析和Mapping測試等。除了基本測試功能外，還可以在軟件套件中添加高級模塊，以提供更豐富的用戶體驗。

• 多層FPM模塊可以進行厚度測試，有無標樣都可以進行

• RoHS檢測模塊用于RoHS要求的有害元素篩查

• 隊列模塊自動進行多區(qū)域自動測試

• 顆粒搜尋模塊可以進行顆粒分析以及原位分析

• LabSpec Link模塊，將數據導入到LabSpec 6以進行多變量分析

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達