HORIBA堀場體積小X射線熒光分析儀為了滿足 RoHS/ELV 測試和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以來，全球已有 1000 臺(tái)儀器用于這些應(yīng)用，以滿足客戶在不切割樣品的情況下分析樣品的關(guān)鍵需求。 2012 年，HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀，在很短的時(shí)間內(nèi)變得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無需液氮的精密檢測器，As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。
HORIBA堀場體積小X射線熒光分析儀

1. 快速

• 硅漂移檢測器(SDD) 大幅度減少了測量時(shí)間，在高通量的同時(shí)提供了更高的靈敏度

2. 小巧

• 便攜、體積小、重量輕

• 內(nèi)部電池供電

3. 簡單

• 減少日常維護(hù)工作（無需液氮）

• 無需真空泵

• 各種材料測量直觀簡單

4. 智能

• 英文/日文/中文多語言操作界面

• Excel數(shù)據(jù)管理工具

5. 安全

• 無需擔(dān)心 X 射線泄漏

各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設(shè)備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學(xué)膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺(tái)階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學(xué)（環(huán)境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)