對于納米材料體系的粒度分析,首先要分清是對顆粒的一次粒度還是二次粒度進(jìn)行分析。由于納米材料顆粒間的強(qiáng)自吸特性,納米顆粒的團(tuán)聚體是不可避免的,單分散體系非常少見,兩者差異很大。
一次粒度的分析主要采用電鏡的直觀觀測,根據(jù)需要和樣品的粒度范圍,可依次采用掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)、掃描隧道電鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)觀測,直觀得到單個顆粒的原始粒徑及形貌。由于電鏡法是對局部地區(qū)域的觀測,所以,在進(jìn)行粒度分布分析時,需要多幅照片的觀測,通過軟件分析得到統(tǒng)計的粒度分布。電鏡法得到的依次粒度分析結(jié)果一般很難代表實際樣品顆粒的分布狀態(tài),對一些在強(qiáng)電子束轟擊下不穩(wěn)定甚至分解的微納顆粒、制樣困難的生物顆粒,微乳等樣品則很難得準(zhǔn)確的結(jié)果。因此,依次粒度檢測結(jié)果通常作為其他分析方法結(jié)果的比照。
納米材料顆粒體系二次粒度統(tǒng)計分析方法,按原理分較先進(jìn)的三種典型方法是:高速離心沉降法、激光粒度分析法和電超聲粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范圍不同,又劃分為光衍射法和動態(tài)光散射法。衍射法主要針對微米、亞微米級顆粒;散射法則主要針對納米、亞微米級顆粒的粒度分析。電超聲粒度分析方法是出現(xiàn)的粒度分析方法,主要針對高濃度體系的粒度分析。納米材料粒度分析的特點(diǎn)是分析方法多,主要針對高濃度體系的粒度分析。納米材料粒度分析的特點(diǎn)是分析方法多,獲得的是等效粒徑,相互之間不能橫向比較。每種分析方法均具有一定的適用范圍以及樣品條件,應(yīng)該根據(jù)實際情況選用合適的分析方法。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。