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對于納米材料體系的粒度分析，首先要分清是對顆粒的一次粒度還是二次粒度進(jìn)行分析。由于納米材料顆粒間的強(qiáng)自吸特性，納米顆粒的團(tuán)聚體是不可避免的，單分散體系非常少見，兩者差異很大。
一次粒度的分析主要采用電鏡的直觀觀測，根據(jù)需要和樣品的粒度范圍，可依次采用掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）、掃描隧道電鏡（STM）、原子力顯微鏡（AFM）觀測，直觀得到單個顆粒的原始粒徑及形貌。由于電鏡法是對局部地區(qū)域的觀測，所以，在進(jìn)行粒度分布分析時，需要多幅照片的觀測，通過軟件分析得到統(tǒng)計的粒度分布。電鏡法得到的依次粒度分析結(jié)果一般很難代表實際樣品顆粒的分布狀態(tài)，對一些在強(qiáng)電子束轟擊下不穩(wěn)定甚至分解的微納顆粒、制樣困難的生物顆粒，微乳等樣品則很難得準(zhǔn)確的結(jié)果。因此，依次粒度檢測結(jié)果通常作為其他分析方法結(jié)果的比照。
納米材料顆粒體系二次粒度統(tǒng)計分析方法，按原理分較先進(jìn)的三種典型方法是：高速離心沉降法、激光粒度分析法和電超聲粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范圍不同，又劃分為光衍射法和動態(tài)光散射法。衍射法主要針對微米、亞微米級顆粒；散射法則主要針對納米、亞微米級顆粒的粒度分析。電超聲粒度分析方法是出現(xiàn)的粒度分析方法，主要針對高濃度體系的粒度分析。納米材料粒度分析的特點(diǎn)是分析方法多，主要針對高濃度體系的粒度分析。納米材料粒度分析的特點(diǎn)是分析方法多，獲得的是等效粒徑，相互之間不能橫向比較。每種分析方法均具有一定的適用范圍以及樣品條件，應(yīng)該根據(jù)實際情況選用合適的分析方法。
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