膜厚分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:
1、磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高
2、渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低
3、超聲波測厚法:目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,個別有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。
4、電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高,測量起來較其他幾種麻煩。
膜厚分析儀的性能特點:
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;
小孔準直器可以滿足微小測試點的需求;
移動平臺可定位測試點,重復定位精度??;
采用高度定位激光,可自動定位測試高度;
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊;
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點;
高分辨率探頭使分析結果更加;
良好的射線屏蔽作用;
測試口高度敏感性傳感器保護。
膜厚分析儀具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。
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