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2020
08-072020
08-04課堂 | 連續(xù)斷層3D重構(gòu)中的超薄切片制備,ARTOS 3D了解一下?
當需要以納米級分辨率觀察樣品超微結(jié)構(gòu)時,科學家通常借助電子顯微鏡(觀察表面結(jié)構(gòu)的掃描電鏡SEM和觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的透射電鏡TEM)——它們是當前科研界可使用的大顯微成像工具。電鏡成像要求對樣品進行通常20-150nm的超薄切片,使用超薄切片機切割的切片厚度薄、表面平整、光滑且無人為干擾因素,因此可以滿足電鏡成像對制備樣品的嚴苛要求。如果大量超薄切片具有樣品結(jié)構(gòu)的前后連續(xù)性,SEM成像采集的圖像就可以進行樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的3D重建,形成可用于分析的完整超微、精細立體圖像,即連續(xù)斷層成像技術(shù)(ArrayTo2020
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