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2023
02-26

X射線檢測(cè)殘余應(yīng)力分析儀的輻射安全標(biāo)準(zhǔn)
提到X射線，大家首先想到的就是輻射安全問題，是否有可能對(duì)人身造成傷害。X射線是電離輻射，對(duì)人體是有損傷的，接觸射線的時(shí)間越長(zhǎng)，距離越近致病的危險(xiǎn)性就越大，例如拍胸片、透視或者做CT等等。如果長(zhǎng)時(shí)間的接觸X射線，因?yàn)閄射線的輻射劑量可以在身體內(nèi)累積，所以就會(huì)大量破壞人體的白細(xì)胞，使人體血液中的白細(xì)胞數(shù)量減少，進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)體免疫功能下降，使病原微生物容易侵入機(jī)體而發(fā)生疾病。因此X射線類設(shè)備的安全問題尤為重要。GNR的殘余應(yīng)力分析儀裝有安全連鎖裝置，在射線及快門打開的情況下，艙門是無法打開的，如果強(qiáng)行打
2023
02-26

影響奧氏體形成速度的因素
1.加熱溫度隨加熱溫度的提高，原子擴(kuò)散速率急劇加快，使得奧氏體化速度大大增加，形成所需時(shí)間縮短。2.加熱速度加熱速度越快，孕育期縮短，奧氏體開始轉(zhuǎn)變的溫度和轉(zhuǎn)變終了的溫度越高，轉(zhuǎn)變終了所需的時(shí)間越短。3.合金元素及鋼的化學(xué)成分在一定的含碳量范圍內(nèi)，奧氏體中碳含量增高，晶粒長(zhǎng)大傾向增大。C%高，C在奧氏體中的擴(kuò)散速度以及Fe的自擴(kuò)散速度均增加，奧氏體晶粒長(zhǎng)大傾向增加，但C%超過一定量時(shí)，由于形成Fe3CII，阻礙奧氏體晶粒長(zhǎng)大。鋼中加入鈦、釩、鈮、鋯、鋁等元素，有利于得到本質(zhì)細(xì)晶粒鋼，因?yàn)樘蓟铩?
2023
02-26

X射線衍射(XRD)在職業(yè)衛(wèi)生檢測(cè)中的應(yīng)用
游離二氧化硅指巖石或礦物中沒有同金屬或金屬氧化物結(jié)合的二氧化硅（α-石英硅）。含有游離二氧化硅的粉塵進(jìn)入人體肺內(nèi)后，在二氧化硅的毒作用下，引起肺巨噬細(xì)胞解壞死度、導(dǎo)致肺組織纖維化，形成膠原纖維結(jié)節(jié)，使肺組織彈性喪失，硬度增大，造成通氣障礙，影響肺的呼吸活動(dòng)，即人吸入游離二氧化硅的粉塵可引起矽肺。矽肺是塵肺中進(jìn)展快、危害重的一種。粉塵中含有游離二氧化硅的量越高，對(duì)人體危害越大。我國(guó)關(guān)于矽塵的衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)在評(píng)價(jià)粉塵危害時(shí)，明確規(guī)定要檢測(cè)游離二氧化硅的含量。如GBZ/T192.4-2007《工作場(chǎng)所空氣中
2023
02-08

殘余應(yīng)力產(chǎn)生的原因及檢測(cè)方法介紹
殘余應(yīng)力是工件在制造過程中，將受到來自各種工藝等因素的作用與影響；當(dāng)這些因素消失之后，若構(gòu)件所受到的上述作用與影響不能隨之而完全消失，仍有部分作用與影響殘留在構(gòu)件內(nèi)，則這種殘留的作用與影響就是殘余應(yīng)力。.殘余應(yīng)力產(chǎn)生的主要原因有三個(gè)：1、熱變化當(dāng)工件從高溫（例如焊接后）冷卻后，整個(gè)受熱面的冷卻速率通常會(huì)有很大差異。工件的表面和內(nèi)部所經(jīng)歷的冷卻速率的差異導(dǎo)致熱收縮的局部變化。不同的熱收縮會(huì)產(chǎn)生不均勻的應(yīng)力。在冷卻過程中，表面以更快的速度冷卻，從而壓縮了中心處的加熱材料。當(dāng)中心的材料試圖冷卻時(shí)，它受
2023
01-18

X射線檢測(cè)殘余應(yīng)力的優(yōu)點(diǎn)及意義
殘余應(yīng)力的產(chǎn)生原因眾多，分布復(fù)雜、且檢測(cè)困難，在航空、航天、兵器等行業(yè)的機(jī)械加工領(lǐng)域中，殘余應(yīng)力是對(duì)工件的尺寸穩(wěn)定性、應(yīng)力腐蝕、結(jié)構(gòu)強(qiáng)度及疲勞壽命等指標(biāo)的主要影響因素之一，同時(shí)也是引起變形、開裂等問題的罪魁禍?zhǔn)?。殘余?yīng)力檢測(cè)技術(shù)及其特點(diǎn)現(xiàn)有的殘余應(yīng)力測(cè)量方法主要包括有損檢測(cè)(機(jī)械法)與無損檢測(cè)(物理法)兩大類：前者對(duì)試件具有一定破壞性，通過應(yīng)力釋放的方式可以測(cè)得第一類殘余應(yīng)力，主要包括盲孔法、剝層法、取條法、切槽法等；后者為非破壞性的檢測(cè)方式，包括激光干涉法、云紋分析法、X射線衍射法、中子衍射法
2023
01-18

奧氏體形成的步驟
逆共析轉(zhuǎn)變是高溫下進(jìn)行的擴(kuò)散性相變，轉(zhuǎn)變的全過程可以分為四個(gè)階段，即：奧氏體形核，奧氏體晶核長(zhǎng)大，剩余滲碳體溶解，奧氏體成分相對(duì)均勻化。各種鋼的奧氏體形核形成過程有一些區(qū)別，亞共析鋼、過共析鋼、合金鋼的奧氏體化過程中除了奧氏體形成的基本過程外，還有先共析相的溶解、合金碳化物的溶解等過程。奧氏體形成的熱力學(xué)條件：必須存在過冷度或過熱度?T。1.奧氏體形核奧氏體的形核位置通常在鐵素體和滲碳體兩相界面上，此外，珠光體領(lǐng)域的邊界，鐵素體嵌鑲塊邊界都可以成為奧氏體的形核地點(diǎn)。奧氏體的形成是不均勻形核，復(fù)合
2023
01-18

全反射X射線熒光(TXRF)前處理方式
全反射X射線熒光(TXRF)是一種微量分析(Microanalysis)方法，特別適用于樣品量小的樣品，一次分析所需樣品量，固體材料可達(dá)微克級(jí)，液體樣品則通常少于100μL。但一般原樣很少能直接上機(jī)檢測(cè)，多數(shù)需要將對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理得到溶液、懸濁液、細(xì)粉或薄片等。通常，固體樣品必須經(jīng)過研碎或消解等步驟，對(duì)于超痕量組分來說，還需要對(duì)基體進(jìn)行分離或破壞。因此，用于其他原子光譜的前處理方法，如AAS或ICP-OES等中所使用的消解、富集、凍干、萃取、絡(luò)合等都可用于TXRF。對(duì)于樣品量特別小的樣品，為避免
2023
01-18

X射線衍射(XRD)在鋰電行業(yè)中的應(yīng)用
鋰電池已經(jīng)成為我們?nèi)粘Ｉ畹谋匦杵贰ｄ囯姵氐氖褂梅秶謴V泛，在消費(fèi)品領(lǐng)域主要應(yīng)用在數(shù)碼產(chǎn)品、手機(jī)、移動(dòng)電源、筆記本等電子設(shè)備中。在工業(yè)領(lǐng)域，主要在應(yīng)用在醫(yī)療電子、光伏儲(chǔ)能、鐵路基建、安防通訊、勘探測(cè)繪等領(lǐng)域。在特種領(lǐng)域如特種航天中也會(huì)應(yīng)用到。近年來，鋰電池在下游消費(fèi)品領(lǐng)域發(fā)展迅速，其中筆記本和手機(jī)是鋰電池應(yīng)用中較為廣泛的兩大應(yīng)用領(lǐng)域。從長(zhǎng)遠(yuǎn)來看，隨著國(guó)家對(duì)新能源產(chǎn)業(yè)的扶持，電動(dòng)汽車的動(dòng)力電池應(yīng)用將逐漸成為鋰電池的超大需求產(chǎn)業(yè)之一。隨著我國(guó)智能化、信息化產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，我國(guó)鋰電池應(yīng)用領(lǐng)域也得到擴(kuò)展。
2023
01-18

杜馬斯蛋白質(zhì)分析儀采用的原理和應(yīng)用介紹
杜馬斯定氮法是由法國(guó)化學(xué)家杜馬斯在1831年提出，雖然該法比凱氏定氮法早半個(gè)世紀(jì)提出，但由于當(dāng)時(shí)設(shè)備條件難以滿足杜馬斯定氮法的要求，限制了其發(fā)展。.杜馬斯定氮法原理：樣品在高純氧中充分燃燒的過程中，將氮元素轉(zhuǎn)化為氮?dú)饣虻趸铮俳?jīng)過高溫銅的還原，使所有的氮轉(zhuǎn)化為N2，然后利用熱導(dǎo)檢測(cè)器檢測(cè)N2的含量來推算樣品中氮含量。因此杜馬斯定氮法也稱為杜馬斯燃燒法或燃燒定氮法。EA3017杜馬斯蛋白質(zhì)分析儀采用的TurboFlash動(dòng)態(tài)燃燒技術(shù)，不僅可設(shè)置合適的氧氣體積，還可對(duì)注入速率進(jìn)行優(yōu)化，使得氧氣的
2023
01-08

殘余應(yīng)力的檢測(cè)方法
殘余應(yīng)力的檢測(cè)方法主要有兩種：無損的物理檢測(cè)方法和有損的應(yīng)力釋放法。其中，X射線殘余應(yīng)力檢測(cè)方法是常用的無損法，盲孔法應(yīng)力檢測(cè)是有損法。相對(duì)來說X射線法檢測(cè)殘余應(yīng)力較為準(zhǔn)確，是無損法宏觀殘余應(yīng)力檢測(cè)常用的檢測(cè)方法。它是一種間接檢測(cè)應(yīng)力的方式，通過檢測(cè)衍射角2θ相對(duì)于晶面方位角ψ角變化率來檢測(cè)表層微小區(qū)域的應(yīng)力。由此可以看出，X射線方法檢測(cè)的是工件彈性應(yīng)力應(yīng)變，并不是塑性應(yīng)力應(yīng)變，塑性變形不會(huì)改變晶格間距，不會(huì)發(fā)生衍射角度的變化。在理想多晶體中，同族晶面的面間距d是相等的，無論X射線從什么角度入射
2023
01-08

ARE X殘余奧氏體測(cè)試的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
1.射線管位置及檢測(cè)器位置固定，在保證測(cè)試快速的同時(shí)，可有效減少維護(hù)區(qū)域。2.專業(yè)高清USB攝像機(jī)安裝在GNRAREX系統(tǒng)內(nèi)部，輔助對(duì)齊樣品所測(cè)試區(qū)域。3.提供多種不同規(guī)格的樣品架以匹配不同形狀的樣品。4.一旦樣品載入樣品架，關(guān)閉艙門，激光自動(dòng)測(cè)量樣品表面位置，可通過連接到Z臺(tái)的旋鈕手動(dòng)校準(zhǔn)。意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。AREX為專用的殘余奧氏體分析儀，無需依靠搭載模塊在
2023
01-08

全反射X射線熒光(TXRF)特點(diǎn)和其他技術(shù)對(duì)比
基于X射線熒光能譜法，全反射X射線熒光(TXRF)采用毫弧度的臨界角，由于采用此種近于切線方向的入射角，原級(jí)X射線光束幾乎全部被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時(shí)減小了載體的背景和噪聲。這種技術(shù)特點(diǎn)，使得全反射X射線熒光(TXRF)與其他傳統(tǒng)元素分析技術(shù)相比，有著諸多優(yōu)勢(shì)，見下表：意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求。X射線衍射儀（XR
2023
01-07

X射線衍射(XRD)在水泥行業(yè)中的應(yīng)用
水泥是一種常見的建筑用品，它對(duì)于建筑來說是不可少的，一般分普通硅酸鹽水泥、摻混合材料的硅酸鹽水泥和特殊水泥，使用多的就是硅酸鹽水泥。水泥的質(zhì)量主要取決于熟料的礦物組成和結(jié)構(gòu)。水泥熟料主要礦物相成分是硅酸鹽，還有一些微量的礦物相如游離CaO或硫酸鹽等，有時(shí)出現(xiàn)一些反應(yīng)不全的殘留相，如石英SiO2，還有一些添加的用于改善水泥質(zhì)量與性能的石膏等。各標(biāo)號(hào)不同水泥的差別的指標(biāo)是硅酸三鈣（3CaO·SiO2）、硅酸二鈣（2CaO·SiO2）、鋁酸三鈣（3CaO·Al2O3）、鐵鋁酸四鈣（4CaO·Al2O3
2022
12-21

全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)組成結(jié)構(gòu)
全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)主要包括：X射線源、光路系統(tǒng)、進(jìn)樣系統(tǒng)、探測(cè)器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)及其他附件，下文主要介紹前四部分。一、X射線源：由高壓發(fā)生器及射線管組成。提供初級(jí)X射線，對(duì)樣品中待測(cè)元素進(jìn)行激發(fā)得到X射線熒光，其強(qiáng)度正比于初級(jí)X射線的強(qiáng)度。通常，XRD或XRF發(fā)生器便可滿足TXRF的需求，高壓可達(dá)到80kV、電流可達(dá)80mA、整體功率可達(dá)3kW或以上；輸入穩(wěn)定性一般，輸出穩(wěn)定性。目前商用TXRF所用X射線管多為Mo或W靶，或是混合靶材，如GNR的TX2000全反射X射線熒光光譜儀提
2022
12-20

測(cè)試殘余奧氏體的靶材選擇
1.X射線管靶材及功率條件功率條件取決于作為目標(biāo)材料和焦點(diǎn)類型的射線管。盡管Cu靶廣泛用于衍射（特別是多用途衍射儀），但不建議使用Cu靶進(jìn)行殘余奧氏體分析，因?yàn)殍F基材料的熒光很強(qiáng)（可以使用Cu靶，但需要從衍射光束中去除熒光）。因此，可以使用Mo、Cr或Co來避免熒光，然后實(shí)現(xiàn)較低的背景。ASTM指出，推薦選擇是Cr或Mo，這取決于是否需要獲得更好的分辨率（Cr）或是否需要收集盡可能多的峰（Mo）以盡量減少樣品問題（樣品的不均勻性或織構(gòu)）。此外，Mo靶的輻射能量更高，也能使吸收效應(yīng)zui小化，從而
2022
12-05

TOC分析常用的氧化技術(shù)有哪些？
總有機(jī)碳經(jīng)常被當(dāng)作各種水樣品（包括飲用水、地下水、地表水和污水）中有機(jī)物的篩選參數(shù)，常以“TOC”表示。TOC是一個(gè)快速檢定的綜合指標(biāo)，它以碳的數(shù)量表示水中含有機(jī)物的總量。TOC分析儀的測(cè)定原理是溶液中有機(jī)碳經(jīng)氧化轉(zhuǎn)化為二氧化碳，在消除干擾物質(zhì)后由檢測(cè)器測(cè)得二氧化碳含量。利用二氧化碳與總有機(jī)碳之間碳含量的對(duì)應(yīng)關(guān)系，對(duì)溶液中的總有機(jī)碳進(jìn)行定量測(cè)定。常用的氧化技術(shù)有：燃燒氧化法、紫外線氧化法以及超臨界氧化法。1、燃燒氧化法其中燃燒氧化—非分散紅外吸收法優(yōu)勢(shì)是只需一次性轉(zhuǎn)化，流程簡(jiǎn)單、重現(xiàn)性好、靈敏度
2022
12-05

殘余奧氏體測(cè)試樣品的制備
1.用于殘余奧氏體分析儀的樣品必須經(jīng)過切割，將熱效應(yīng)降至低值，由于大多數(shù)含有殘余奧氏體的鋼鐵比較堅(jiān)硬，所以需要使用砂輪切割片磨削樣品，如果樣品不進(jìn)行適當(dāng)?shù)睦鋮s，砂輪片存在嚴(yán)重的熱效應(yīng)，可能導(dǎo)致樣品本身的殘余奧氏體發(fā)生改變。與采用鋼鋸切割比較，更建議使用砂輪切割。2.樣品粗模式時(shí)需要使用銑床或高壓輥磨機(jī)，此種處理方法會(huì)改變表面形狀和殘余奧氏體，使得體內(nèi)殘余奧氏體含量高于表面殘余奧氏體含量，在樣品打磨時(shí)將樣品切成小塊，可以有效的解決形變和殘余奧氏體變化。3.殘余奧氏體分析儀需要使用標(biāo)準(zhǔn)金相濕磨和拋光
2022
12-03

全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)原理簡(jiǎn)述
X射線熒光(XRF)是當(dāng)原級(jí)X射線照射樣品時(shí)，受激原子內(nèi)層電子產(chǎn)生能級(jí)躍遷所發(fā)射的特征二次X射線。該二次X射線的能量及強(qiáng)度可被探測(cè)，與樣品內(nèi)待測(cè)元素的含量相關(guān)，此為XRF光譜儀的理論依據(jù)。根據(jù)分光系統(tǒng)的不同，XRF光譜儀主要有波長(zhǎng)色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種，二者結(jié)構(gòu)示意如下圖：圖1WDXRF結(jié)構(gòu)示意圖圖2EDXRF結(jié)構(gòu)示意圖自上世紀(jì)40年代XRF光譜儀誕生，作為元素光譜分析技術(shù)的重要分支，在冶金、地質(zhì)、礦物、環(huán)境等領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。但常規(guī)XRF光譜儀并不適于痕量元素的檢測(cè)
2022
12-03

X射線衍射(XRD)的應(yīng)用
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,是一種分析技術(shù)。利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜，利用譜圖信息可以得到晶體材料的體相結(jié)構(gòu)信息。是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團(tuán)的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法。X射線衍射儀因其無損樣品、無污染、快速、精度高等優(yōu)點(diǎn)，已被廣泛應(yīng)用于材料研究表征和質(zhì)量控制。在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、化工、冶金、礦物、藥物、食品化妝品、塑料、陶瓷乃至考古、商檢等眾多學(xué)科和行業(yè)中都有廣泛的應(yīng)用。各行
2022
11-16

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀器需要在什么樣的環(huán)境下運(yùn)行？
電感耦等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP—AES)主要用于液體試樣(包括經(jīng)化學(xué)處理能轉(zhuǎn)變成溶液的固體試樣)中金屬元素和部分非金屬元素的定量分析。將樣品溶液以氣溶膠形式導(dǎo)入等離子體炬焰中，樣品被蒸發(fā)和激發(fā)，發(fā)射出所含元素的特征波長(zhǎng)的光。經(jīng)分光系統(tǒng)分光后，其譜線強(qiáng)度由光電元件接受并轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)而被記錄。根據(jù)元素濃度與譜線強(qiáng)度的關(guān)系，測(cè)定樣品中各相應(yīng)元素的含量。等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在一定的環(huán)境下運(yùn)行，失去這些條件，不僅儀器的使用效果不好，而且改變儀器的檢測(cè)性能，甚至造成損壞，縮短壽命。

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