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2020
02-24

x射線粉末衍射儀對于多晶混合物衍射圖譜分析鑒定時(shí)應(yīng)注意什么?
x射線粉末衍射儀分析晶體對X射線的衍射效應(yīng)是取決于它的晶體結(jié)構(gòu)，不同種類的晶體將給出不同的衍射花樣。假如一個(gè)樣品內(nèi)包含了幾種不同的物相，則各個(gè)物相仍然保持各自特征的衍射花樣不變。而整個(gè)樣品的衍射花樣則相當(dāng)于它們的迭合。除非兩物相衍射線剛好重迭在一起，二者一般之間不會(huì)產(chǎn)生干擾。這就為鑒別這些混合物樣品中和各個(gè)物相提供了可能。關(guān)鍵是如何將這幾套衍射線分開。這也是多相分析的難點(diǎn)所在。x射線粉末衍射儀談對于多晶混合物衍射圖譜分析鑒定時(shí)應(yīng)注意：1、低角度線的數(shù)據(jù)比高角度線的數(shù)據(jù)重要。這是因?yàn)椋瑢τ诓煌w
2020
01-17

接下來要說是關(guān)于X射線衍射儀的，別錯(cuò)過哦！
X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射儀的原理：x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家勞
2019
08-20

分析X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點(diǎn)
X射線熒光光譜儀的不斷完善和發(fā)展所帶動(dòng)的X射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、醫(yī)療、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測，對產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無損檢測，對人體進(jìn)行醫(yī)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：1、在測定微量成分時(shí)，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，致使目
2019
07-28

淺談X射線熒光光譜儀的物理原理
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。X射線熒光光譜儀的物理原理當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會(huì)
2019
07-21

來談?wù)勱P(guān)于X熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，
2019
05-28

zeta電位儀的測量方法的解析
zeta電位儀的測量方法：電泳法對許多熟悉利用此法進(jìn)行高分子分離的人來說，顆粒電泳也是一個(gè)類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場中；如果帶電他們會(huì)在電場產(chǎn)生流動(dòng)，陽性顆粒朝負(fù)極流動(dòng)，陰性顆粒朝正極流動(dòng)。然而，顆粒并不是獨(dú)自流動(dòng)，他們周圍會(huì)攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動(dòng)顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而zeta電位正是這一界面的電位。因此zeta電位可以通過測量顆粒在已知電場中的流速來測定。早期的測量儀器（Rank微電泳儀）通過充滿誤差，慢速度的手動(dòng)方法觀察顆粒，并自
2019
05-05

高分辨率 X 射線衍射儀可對幾乎的材料進(jìn)行無損分析
高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一系列應(yīng)用技術(shù)，用于對大多數(shù)幾乎的分層結(jié)晶結(jié)構(gòu)材料進(jìn)行無損分析。能夠揭示和量化結(jié)構(gòu)參數(shù)，對于成功應(yīng)用這些材料是至關(guān)重要的。目前，大多數(shù)現(xiàn)代半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)是在由硅、硅鍺、III-V和II-VI化合物制成的基體上氣相外延生長而成的。這些薄膜是幾乎的晶體薄膜，具有相對較低的位錯(cuò)密度。薄膜性能很大程度上取決于它們的成份和結(jié)構(gòu)參數(shù)。通過使用高分辨率X射線光學(xué)系統(tǒng)測量搖擺曲線和倒易空間圖來獲得諸如層厚度、成份、應(yīng)力、張馳度和結(jié)構(gòu)質(zhì)量的信息。通過X射線衍射成像方法，例如X射線
2019
04-26

使用微量熱法進(jìn)行生物材料分析時(shí)采用哪兩種量熱技術(shù)
量熱法是測量化學(xué)反應(yīng)或物理事件所引起熱量變化的一種技術(shù)。量熱法所依賴的事實(shí)是，所有化學(xué)反應(yīng)都涉及能量變化，通常伴有熱量釋放（放熱）或熱量吸收（吸熱）。與量熱法相比，微量熱法的靈敏度超高，可測定少量樣品中極細(xì)微的熱量變化，從而使其適合用于生物材料。微量熱法用于研究涉及生物分子的反應(yīng)，包括分子間的相互作用以及蛋白質(zhì)折疊之類的構(gòu)象變化。應(yīng)用范圍覆蓋從在小分子藥物發(fā)現(xiàn)過程中確認(rèn)預(yù)期結(jié)合靶標(biāo)到開發(fā)穩(wěn)定性生物治療藥物的多個(gè)領(lǐng)域。這些生物學(xué)過程通常采用兩種量熱技術(shù)進(jìn)行研究：等溫滴定量熱法(ITC)和差示掃描量
2019
04-23

X射線衍射儀的原理解析
X射線衍射儀的原理：x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家勞厄(M.vonLaue)提出的一個(gè)重要科學(xué)預(yù)見，隨即被實(shí)驗(yàn)所證實(shí)。1913年，英國物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上，不僅成功的
2019
04-12

EmpyreanX射線衍射可實(shí)現(xiàn)哪些X 射線成像測量技術(shù)
Empyrean銳影X射線衍射系統(tǒng)是荷蘭帕納科公司繼X’Pert專家系統(tǒng)后，十年一劍，推出的全新X射線衍射儀，可滿足當(dāng)前4大類X-射線分析要求的平臺(tái)，即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺(tái)，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發(fā)的X光管，的測角儀、*的新樣品臺(tái)和嚴(yán)格的輻射安全防護(hù)。衍射平臺(tái)上的三維探測系統(tǒng)，PIXcel3D探測器將使用于這一多功能的X-射線衍射系統(tǒng)上，將面探測技術(shù)與CT技術(shù)平民化。使用EmpyreanX射線衍射和混合像素探測器PIXcel3D和GaliPIX3
2019
04-08

Empyrean 支持各種 X 射線散射技術(shù)
EmpyreanNano版多功能X射線散射平臺(tái)是一種混合實(shí)驗(yàn)室X射線散射儀。這款*的設(shè)備支持多種技術(shù)，以多種長度比例進(jìn)行（納米）材料的結(jié)構(gòu)鑒定。與市場上的其它實(shí)驗(yàn)室儀器不同，EmpyreanNano版涵蓋了從sub-?ngstr?ms到微米級(jí)的布拉格間距，以及跨越幾乎50年的散射矢量q范圍——沒有任何間隙。主要應(yīng)用：1、SAXS（小角X射線散射）SAXS是分析各種樣品類型（液體、粉末、固體、凝膠...）的納米級(jí)結(jié)構(gòu)和尺寸的通用工具之一。樣品可以是無定形、結(jié)晶或半結(jié)晶。通過SAXS研究的典型樣品包
2019
04-02

兩種類別的X 射線熒光光譜的區(qū)別在哪
X射線熒光(XRF)光譜測定是一種無損式分析技術(shù)，可用于獲取不同類型材料的元素信息。它已在許多行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛運(yùn)用，包括：水泥生產(chǎn)、玻璃生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、制藥、保健產(chǎn)品和環(huán)保。光譜儀系統(tǒng)通常分為兩大類：波長色散式系統(tǒng)(WDXRF)和能量色散式系統(tǒng)(EDXRF)。兩者之間的區(qū)別在于檢測系統(tǒng)。在波長色散式光譜儀中，X射線光管用作直接照射樣品的光源，并且使用波長色散式檢測系統(tǒng)來測量樣品發(fā)出的熒光。分光晶體根據(jù)波長（而不是能量）來分離X射線，可用于識(shí)
2019
03-26

Zeta電位儀的特點(diǎn)解析
Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性?？蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。Zeta電位儀的特點(diǎn)：1、儀器采用新設(shè)計(jì)
2019
03-25

Aeris，重新定義臺(tái)式X射線衍射儀
2016年11月，X射線分析儀器和軟件供應(yīng)商帕納科宣布推出全新的Aeris臺(tái)式X射線粉末衍射儀（XRD）。這款新系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、地提供被測材料的物相信息。Aeris，重新定義臺(tái)式X射線衍射儀：（1）Aeris內(nèi)置的觸摸屏界面直觀，可直接顯示各種分析結(jié)果，所有人都可以無障礙地使用這款儀器。（2）Aeris還具有擁有成本低的優(yōu)點(diǎn)-它僅需要一個(gè)單相電源插口，既不需要冷卻水，也不需要壓縮空氣。（3）Aeris還具備帕納科設(shè)備所含的多種成熟技術(shù)，其性能超出常見的臺(tái)
2019
03-21

X 射線熒光技術(shù)可用于測定多種類型樣品的化學(xué)成分
X射線熒光(XRF)是可用于測定多種類型樣品（包括固體、液體、漿料和疏松粉末）化學(xué)成分的分析技術(shù)。X射線熒光還用于確定分層和涂層的厚度和成分。它可以分析從鈹(Be)到鈾(U)的各種元素，涵蓋從100wt%到百萬分之一以下的濃度范圍。XRF是一種可靠的技術(shù)，結(jié)合了高精度和準(zhǔn)確性以及簡便、快速的樣品制備等優(yōu)點(diǎn)。它可以在要求實(shí)現(xiàn)高處理量的工業(yè)環(huán)境下自動(dòng)完成使用準(zhǔn)備，并且提供定性和定量的樣品相關(guān)信息。這種定性和定量信息的輕松組合還使快速篩選（半定量）分析成為可能。XRF是一種原子發(fā)射方法，類似于光發(fā)射光
2019
03-18

多功能X射線衍射儀可實(shí)現(xiàn)多種功能應(yīng)用
多功能X射線衍射儀是全新概念的預(yù)校準(zhǔn)光路全模塊化的X射線衍射儀可實(shí)現(xiàn)多種功能應(yīng)用。不同光路系統(tǒng)及各種樣品臺(tái)等附件均可以在幾分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的更換。測角儀由于采用DOPS直接光學(xué)編碼器，直流馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，*消除機(jī)械誤差，精度與穩(wěn)定性大大提高。多功能X射線衍射儀配備多種新型光路及樣品臺(tái)模塊：入射光有可編程發(fā)散狹縫、Mirror鏡(平行光)、Lens鏡（多毛細(xì)管透鏡）、Monocapillary(單毛細(xì)管鏡）、Hybird(平行光單色器）提高光源的利用效率；衍射光路有可編程防反射狹縫、可編程接收狹縫、X’
2019
03-15

xrf分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域及功能特點(diǎn)
X射線熒光（XRF）分析技術(shù)是測定由初級(jí)X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實(shí)現(xiàn)固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時(shí)測定，檢出限在mg/kg量級(jí)范圍內(nèi)，制樣方法簡單，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、材料、環(huán)境、冶金樣品的常規(guī)分析。XRF作為一種無損檢測技術(shù)，可以直接應(yīng)用于現(xiàn)場、原位分析，在材料分析領(lǐng)域占有重要地位。一、xrf分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域：1、環(huán)境保護(hù)：土壤中重金屬分析；涂料、油漆、顏料及塑料中有害金屬分析；電子電器類
2019
03-15

Insitec在線粒度分析儀的主要優(yōu)勢
Insitec在線粒度分析儀是干濕一體式激光粒度儀，適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)，尤其對于在液體中會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)、形狀變化及損失的如中草藥、磁性材料等。Insitec在線粒度分析儀的主要優(yōu)勢：1、干濕一體化設(shè)計(jì)本款儀器將濕法與干法測試集成于一體，成功解決了干濕法一體化的各項(xiàng)技術(shù)問題，能夠?qū)崿F(xiàn)干濕一鍵切換，使用快捷方便，是顆粒測試、研究的*選擇。2、
2019
03-14

納米顆粒跟蹤分析原理和特點(diǎn)了解
納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。工作原理：激光光束穿過樣本室并沿光束散射光的路徑穿過懸浮液中的顆粒，從而能夠通過裝有攝像頭20倍長工作距離放大顯微鏡，輕松實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動(dòng)下移動(dòng)顆粒的視頻文件。軟件單獨(dú)追蹤多個(gè)顆粒并利用愛因斯坦方程式計(jì)算顆粒的流體力學(xué)直徑。NanoSight系列儀器提供高分辨率粒徑、濃度和聚合測量，同時(shí)熒光模式還可針對標(biāo)識(shí)顆粒提供特定的結(jié)果。該系列產(chǎn)品可利用經(jīng)可視化驗(yàn)證進(jìn)行*確認(rèn)的所有上述分析，實(shí)時(shí)監(jiān)測顆
2019
03-12

能量色散式 X 射線熒光光譜儀新成員助您輕松完成實(shí)驗(yàn)
帕納科隆重推出MiniPal系列能量色散式X射線熒光光譜儀的新成員–MiniPalQC，它的設(shè)計(jì)宗旨是隨時(shí)隨地根據(jù)您的需要提供快速、準(zhǔn)確和精密的分析結(jié)果。作為像MagiX、CubiX和Axios這樣的大型系統(tǒng)的備用工具，MiniPalQC的工作性能無庸置疑。MiniPalQC*自動(dòng)化的功能，能夠與遠(yuǎn)程系統(tǒng)和全自動(dòng)實(shí)驗(yàn)室集成。特別設(shè)計(jì)的易維護(hù)型灰塵收集裝置，讓用戶享受機(jī)器*運(yùn)行的樂趣。只需將樣品表面朝上放入儀器，MiniPalQC便能夠較以往更輕松、更快速地執(zhí)行現(xiàn)場X射線分析，不愧號(hào)稱為超級(jí)備用系

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馬爾文帕納科

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