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2019
03-05

納米顆粒跟蹤分析技術(shù)的原理和實(shí)際應(yīng)用
NanoSight開發(fā)出一種*的高分辨率，實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)納米顆粒檢測技術(shù)，可以對(duì)于10nm–2000nm范圍內(nèi)顆粒進(jìn)行直接觀察粒徑檢測。如果對(duì)于復(fù)雜體系中的特定顆粒進(jìn)行熒光標(biāo)記，此技術(shù)可以對(duì)于被標(biāo)記的顆粒進(jìn)行特定檢測，不受到復(fù)雜組分溶液環(huán)境的影響。納米顆粒跟蹤分析技術(shù)軟件（NanoparticleTrackingAnalysis，NTA）單獨(dú)跟蹤視野中每一個(gè)顆粒的運(yùn)動(dòng)軌跡以得到每一個(gè)顆粒的粒徑信息。納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。激光光束穿過樣本
2018
07-27

zeta電位儀樣品制備的濃度問題分析
zeta電位儀樣品制備的濃度問題分析zeta電位儀樣品制備有2個(gè)關(guān)鍵問題：1.合適的濃度；2.保證檢測體系和實(shí)際體系的一致性，包括：pH、系統(tǒng)的總離子濃度、存在的任何表面活性劑或聚合物的濃度。我們今天來看看合適的濃度因素，它包括低濃度和高濃度。低濃度：在zeta電位儀測試過程中所需的小光強(qiáng)為20kcps。因此低濃度取決于相對(duì)折光指數(shù)差（粒子和溶劑間的折光指數(shù)差值）和粒子尺寸。粒子的尺寸越大所產(chǎn)生的散射光越強(qiáng)，所需的濃度也就越低。對(duì)于折光指數(shù)差較大的樣品，譬如TiO2粒子的水性懸浮液，TiO2的折
2018
06-26

Insitec在線粒度分析儀的性能特點(diǎn)介紹
Insitec在線粒度分析儀的性能特點(diǎn)介紹Insitec在線粒度分析儀是實(shí)現(xiàn)選礦生產(chǎn)過程控制和管理自動(dòng)化的基礎(chǔ),該在線粒度分析儀主要用于對(duì)礦山球磨和分級(jí)工藝過程中通過輸送管道或槽輸送的礦漿粒度顆粒粒度實(shí)時(shí)在線連續(xù)檢測。該儀器測量系統(tǒng)主要由粒度探頭和微處理變換器組成。粒度探頭安裝在需要檢測的輸送礦漿的管道上（或槽里），通過探測桿將截取的礦石顆粒進(jìn)行電感應(yīng)產(chǎn)生電子信號(hào)，電子信號(hào)輸送到安裝距離不大于10m的變換器上并在變換器上對(duì)設(shè)定的粒度級(jí)別百分含量自動(dòng)連續(xù)顯示。從變換器可將信號(hào)接至中央計(jì)算對(duì)測量結(jié)果
2018
05-29

淺談zeta電位儀的安裝方式
淺談zeta電位儀的安裝方式1.打開電腦主機(jī)箱，安裝視頻采集卡，將視頻采集卡安裝在電腦主板上的PCI插槽中。2.安裝連接所有接線。注意：串口線必須連接到計(jì)算機(jī)的COM1的串口上，其他串口不行的。視頻線連接到計(jì)算機(jī)上的視頻采集卡上。3.連通所有電源，打開儀器主機(jī)電源和計(jì)算機(jī)電源。查看計(jì)算機(jī)中的設(shè)備管理器，找到未安裝的驅(qū)動(dòng)程序的新硬件。可按照下面的步驟重新安裝：點(diǎn)擊“屬性”按鈕；然后點(diǎn)擊“更新驅(qū)動(dòng)程序”按鈕，選擇驅(qū)動(dòng)程序的位置單選框；然后點(diǎn)擊“下一步”按鈕；點(diǎn)擊“瀏覽”按鈕，選擇驅(qū)動(dòng)程序所在的目錄，
2018
05-14

全自動(dòng)熔樣機(jī)的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)
全自動(dòng)熔樣機(jī)廣泛應(yīng)用于鋼鐵、冶金、化工、地質(zhì)、水泥、陶瓷、耐火材料等行業(yè)，采用觸摸屏顯示控制，界面友好，操作簡便，自動(dòng)化程度高，具有升溫快、控溫，節(jié)能、運(yùn)行穩(wěn)定的特點(diǎn)。全自動(dòng)熔樣機(jī)優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)介紹：1、工作可靠性高該機(jī)采用特種耐火材料及電器元件，應(yīng)用了的設(shè)計(jì)理念，確保使用過程中性能穩(wěn)定。具有故障率低，節(jié)能*，外形美觀等特點(diǎn)。2、自動(dòng)化程度高該機(jī)設(shè)計(jì)了機(jī)械手進(jìn)出樣品、擺動(dòng)式熔融和爐內(nèi)自動(dòng)澆注的工作方式。一次可同時(shí)熔融四個(gè)樣片，具有體積小，自動(dòng)化程度高，工作效率高，對(duì)操作人員熱輻射影響小等特點(diǎn)。實(shí)現(xiàn)了全
2018
05-04

X射線衍射儀相關(guān)知識(shí)了解
X射線衍射儀技術(shù)(XRD)通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線衍射儀的原理：當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分
2018
04-24

X'Pert PRO MRD/XL高分辯衍射儀介紹
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長為0.154056nm。X'PertPROMRD/XL高分辯衍射儀是半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備，用于：材料科學(xué)和納米技術(shù)，半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制，可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如：搖擺曲線分析和倒易空間Mapping，反射率和薄膜相分析，殘余應(yīng)力和織
2018
04-17

如何判斷激光粒度分析儀的優(yōu)劣？
以往的粒度分析方法通常采用篩分或沉降法。常用的沉降法存在著檢測速度慢（尤其對(duì)小粒子）、重復(fù)性差、對(duì)非球型粒子誤差大、不適用于混合物料（即粒子比生必須一致才能較準(zhǔn)備）、動(dòng)態(tài)范圍窄等缺點(diǎn)。激光粒度分析儀采用濕法分散技術(shù),具有操作簡便、輸出數(shù)據(jù)直觀等優(yōu)點(diǎn)，與傳統(tǒng)儀器比較，提高了時(shí)效和分析精度。那么如何來判斷激光粒度分析儀的優(yōu)劣呢？主要看以下幾個(gè)方面：1.粒度測量范圍：粒度范圍寬，適合的應(yīng)用廣。不僅要看儀器所報(bào)出的范圍，而是看超出主檢測面積的小粒子散射（＜0.5μm）如何檢測。的途徑是全范圍直接檢測，這
2018
03-26

熒光光譜儀的四個(gè)組成部分介紹
熒光光譜儀又稱熒光分光光度計(jì)，是一種定性、定量分析的儀器，主要用于測試光致發(fā)光的樣品的各種發(fā)光性質(zhì)。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。熒光光譜儀主要包括光源、激發(fā)單色器、樣品池、熒光單色器及檢測器等部件。1．光源早期的熒光分光光度計(jì)，配有能發(fā)生很窄汞線的低壓汞燈。使用高壓汞燈，譜線被加寬，而且也存在高強(qiáng)度的連續(xù)帶。然而，一個(gè)完整的激發(fā)光譜的測定需一種能發(fā)射從可見到紫外范圍的較高強(qiáng)度的
2018
03-16

X射線衍射儀應(yīng)用介紹
X射線衍射法是一種利用單色X射線光束照射到一顆晶體（單晶X射線衍射法，SXRD）或眾多隨機(jī)取向的微小晶體（粉末X射線衍射法，PXRD）來測量樣品分子三維立體結(jié)構(gòu)或特征X射線衍射圖譜的檢測分析方法。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線衍射儀是由X射線光源（直流高壓電源、真空管、陽極靶）、準(zhǔn)直系統(tǒng)（準(zhǔn)直管、樣品架）、儀器控制系統(tǒng)（指令控制
2018
03-01

中子活化分析的原理和優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)介紹
中子活化分析，又稱儀器中子活化分析，是通過鑒別和測試式樣因輻照感生的放射性核素的特征輻射，進(jìn)行元素和核素分析的放射分析化學(xué)方法?；罨治龅幕A(chǔ)是核反應(yīng)，以中子或質(zhì)子照射試樣，引起核反應(yīng)，使之活化產(chǎn)生輻射能，用γ射線分光儀測定光譜，根據(jù)波峰分析確定試樣成分；根據(jù)輻射能的強(qiáng)弱進(jìn)行定量分析。一般中子源由核動(dòng)力裝置提供，質(zhì)子源采用回旋加速器或范德格拉夫式加速器?；罨治龃篌w分為5個(gè)步驟，即：試樣和標(biāo)準(zhǔn)的制備、活化、放射化學(xué)分離、核輻射測量和數(shù)據(jù)處理。中子活化分析的優(yōu)勢(shì)在于靈敏度*，準(zhǔn)確度和精密度也很高；
2018
01-19

納米粒度儀的原理和優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)
納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀，其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復(fù)及測試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測試的產(chǎn)品。儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中布朗運(yùn)動(dòng)的速度測定顆粒大小。具有原理、精度*的特點(diǎn)，從而保證了測試結(jié)果的真實(shí)性和有效性。納米粒度儀優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)介紹：1、高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管（PMT），對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪
2018
01-11

評(píng)價(jià)激光粒度儀的幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)
激光粒度儀利用了激光具有的單色性和*的方向性等特性，通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小。對(duì)于激光粒度儀的評(píng)價(jià)主要包括四個(gè)方面：重復(fù)性、分辨力、準(zhǔn)確度、穩(wěn)定性。1.重復(fù)性粒度分布過程中，在短時(shí)間內(nèi)，由同一位操作者、在相同條件下、使用同一臺(tái)儀器、對(duì)同一分散樣本進(jìn)行特性量值的多次測定，其測定結(jié)果的一致性程度，此類重復(fù)性不包含由于取樣和分散造成的變化。2.分辨力粒度分析儀是否能清晰地分辨出由兩個(gè)或兩個(gè)以上單一粒徑混合成的樣品出現(xiàn)雙峰或多峰曲線的能力。3.準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度指在一定實(shí)驗(yàn)條件
2017
12-30

工業(yè)X射線衍射儀的工作環(huán)境要求
工業(yè)X射線衍射儀是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同成都的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子結(jié)構(gòu)、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有個(gè)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。工業(yè)X射線衍射儀的工作環(huán)境要求：1、建議房間溫度15℃-25℃，溫度變化小于1℃/30分鐘2、高分辨儀器的房間溫度：22℃±1℃3、相對(duì)濕度：20%-80%4、環(huán)境整潔：定期清潔儀器內(nèi)部以免灰塵聚集在某些重要部
2017
12-06

X射線粉末衍射儀的注意點(diǎn)
多晶X射線衍射分析法又被稱為粉末X射線衍射分析法，利用此法時(shí)要先把樣品制成很細(xì)的粉末，再對(duì)粉末進(jìn)行壓片制樣.它有很多優(yōu)點(diǎn)，例如：粉末X射線衍射分析法是一種非破壞性的分析方法，特別適合做物相分析；可以測定一些晶態(tài)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)參數(shù)和晶體結(jié)構(gòu)；同時(shí)也可以測定非晶態(tài)物質(zhì)，因此，它是物理學(xué)中一種非常重要的實(shí)驗(yàn)方法。X射線粉末衍射分析法是研究物質(zhì)材料結(jié)構(gòu)和成分分析的主要方法，具有無污染、不損壞樣品的特點(diǎn)，為近代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展做出了巨大的貢獻(xiàn)，是重要的材料分析技術(shù)之一。作為便捷的分析測試儀器，X射線粉末衍射儀被
2017
11-23

波長色散X射線熒光光譜儀相關(guān)介紹
X射線熒光光譜儀根據(jù)分光方式不同，可分為波長色散和能量色散X射線熒光光譜儀兩大類；根據(jù)激發(fā)方式又可細(xì)分為偏振光、同位素源、同步輻射和粒子激發(fā)X射線熒光光譜儀；根據(jù)X射線的出射、入角還可有全反射、掠出入射X射線熒光光譜儀等。波長色散XRF光譜儀利用分光晶體的衍射來分離樣品中的多色輻射，能量色散光譜儀則利用探測器中產(chǎn)生的典雅脈沖和脈高分析器來分辨樣品中的特征射線。波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒
2017
10-27

工業(yè)X射線衍射儀的工作原理
X射線衍射儀是一種常用的檢測儀器，利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。X射線衍射儀的原理：x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。對(duì)于晶體材料，當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時(shí)，那些滿足布拉格衍射的晶面就會(huì)被檢測
2017
09-25

X射線熒光光譜儀的維護(hù)知識(shí)
X射線熒光分析技術(shù)（XRF）作為一種快速分析手段，為相關(guān)部門提供了一種可行的、低成本的并且及時(shí)的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。相對(duì)于其他分析方法，XRF具有無需對(duì)樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理，快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢(shì)，特別適合用于各類相關(guān)部門作為過程控制和檢測使用。X射線熒光光譜儀的維護(hù)保養(yǎng)：1、X射線熒光光譜儀中zui昂貴的部分是高壓X射線光管，它是儀器的核心部件。X射線光管對(duì)冷卻水的溫度、壓力、電導(dǎo)率都有嚴(yán)格的要求，其*冷卻水溫為22℃～24℃，一般不能超過30℃，超過35℃則使
2017
09-22

X射線熒光光譜儀的原理和組成部分介紹
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。X射線熒光光譜儀主要由以下幾部分組成：（1）X射線系統(tǒng)（X射線光管、高壓變壓器、管壓管流控制單元）；（2）水循環(huán)冷卻系統(tǒng)（內(nèi)外部冷卻水單元、溫度、電導(dǎo)率控制監(jiān)測單元）；（3）真空系統(tǒng)（真空泵、樣品室）；（4）檢測系統(tǒng)（光譜室、分光晶體、衰減器、狹縫、測角儀、晶體交換器等）；（5）檢測記錄系統(tǒng)（流〈充〉氣正比計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器、脈沖高度分析
2017
09-20

能量色散X射線熒光光譜儀介紹
能量色散X射線熒光光譜儀是根據(jù)元素輻射x射線熒光光子能量不同，經(jīng)探測器接收后用脈沖高度分析器區(qū)別，進(jìn)行元素鑒定，根據(jù)分析線脈沖高度分布的積分強(qiáng)度進(jìn)行元素定量的分析方法。能量色散X射線熒光光譜儀主要用于固體、粉末或液體物質(zhì)的元素分析，被廣泛用于許多部門和領(lǐng)域,已成為理化檢測、野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等的重要工具。能量色散X射線熒光光譜儀由X射線光管、樣品室、準(zhǔn)直器、探測器及技術(shù)電路和計(jì)算機(jī)組成。此外，亦可在樣品前加一單色器，達(dá)到降低背景的目的，以改善色散X射線熒光光譜儀的檢出限。它與波長色散X射

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