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2025
02-182025
01-162025
01-142025
01-132024
12-25全新臺式D6 PHASER應(yīng)用報告系列(八)——非室溫XRD
D6PHASER作為市面上功能強大的臺式X射線衍射儀之一，擁有高達1200W的光管功率和緊湊的測角儀半徑，是分析小體積樣品的選擇。非環(huán)境X射線粉末衍射（XRPD）可以方便地集成到D6PHASER臺式衍射儀中。AntonPaar的緊湊型BTS150/500加熱臺（圖1）可以裝載在D6PHASER內(nèi)。用戶能夠針對樣品進行原位變溫物相表征，BTS150加熱臺的測量溫度區(qū)間為-10~150℃，而BTS500加熱臺則可以從室溫加熱到500℃。D6PHASER的專有中心臺架保證從其他樣品臺替換為加熱臺后，全2024
12-25應(yīng)用分享 | 布魯克三維X射線顯微鏡SkyScan1273檢測漏液5號標準堿性電池
在現(xiàn)代電子設(shè)備中，5號（AA）電池是比較常見的電池類型之一。它廣泛應(yīng)用于各種家用電器、玩具、遙控器以及其他便攜設(shè)備中。了解電池的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和工作狀態(tài)對于提高電池的性能和安全性具有重要意義。布魯克三維X射線顯微鏡SkyScan1273作為一種高分辨率的無損檢測工具，能夠深入揭示電池內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和潛在缺陷。為了能夠使得檢測結(jié)果更具代表性，本文將詳細介紹應(yīng)用SkyScan1273表征漏液的標準5號堿電池內(nèi)部結(jié)構(gòu)的實驗結(jié)果。實驗方法1.儀器簡介布魯克SkyScan1273是一款先進的桌面型三維X射線顯微2024
12-18應(yīng)用分享 I 資源所發(fā)現(xiàn)新礦物“白鴿礦”-XPS
一、引言新礦物研究，是地球科學(xué)領(lǐng)域重要的基礎(chǔ)性研究工作。新礦物的發(fā)現(xiàn)不僅可以增加自然界的礦物種類，同時也可以為人類認識和利用自然界礦物提供新的參考。截至2022年3月，全球已累計發(fā)現(xiàn)新礦物5794種。新礦物的發(fā)現(xiàn)數(shù)量、研究深度及分析技術(shù)水平展現(xiàn)了一個國家基礎(chǔ)科技的軟實力與硬實力，是國家綜合實力的體現(xiàn)。近年來，我國加大了對新礦物研究的支持力度，我國新礦物事業(yè)迎來了難得的發(fā)展契機。中國地質(zhì)調(diào)查局礦產(chǎn)資源研究所李以科研究團隊長期致力于戰(zhàn)略性關(guān)鍵礦產(chǎn)成礦作用與資源評價研究工作。二、成果介紹12月2日，由2024
12-182024
12-18應(yīng)用分享 I 微區(qū) XPS 在摩擦學(xué)研究與抗磨材料開發(fā)中的應(yīng)用
摩擦副之間的相對運動必然會產(chǎn)生摩擦和磨損，全球約80%的機械零件失效都是由摩擦磨損造成的。此外，地球上每年近三分之一的一次能源消耗被用來克服各種系統(tǒng)和設(shè)備的摩擦，這不僅造成了大量的能量損失，而且限制了能源效率的優(yōu)化。因此，系統(tǒng)深入地研究材料摩擦過程中在表面、界面所發(fā)生的化學(xué)反應(yīng)，從微觀或分子、原子水平上認識材料有效和失效的機理，繼而指導(dǎo)設(shè)計制備具有優(yōu)異摩擦學(xué)特性的材料，對于節(jié)約能源、提高機械裝置使用壽命以及減少環(huán)境污染具有重要意義。XPS作為表面化學(xué)分析有效的技術(shù)之一，在摩擦學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用普遍。然而2024
12-162024
12-13超越光學(xué)顯微鏡：X射線顯微成像系統(tǒng)的獨特優(yōu)勢與挑戰(zhàn)
在科學(xué)探索的征程中，X射線顯微成像系統(tǒng)宛如一把神奇的鑰匙，開啟了微觀世界的大門，讓我們得以一窺物質(zhì)內(nèi)部的奧秘。顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)的相互作用。X射線具有高能量、短波長的特性，當它穿透樣品時，會因樣品內(nèi)部不同結(jié)構(gòu)對X射線吸收、散射等程度的差異而產(chǎn)生不同的信號。這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)化為圖像信息，從而呈現(xiàn)出樣品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的清晰圖像。X射線顯微成像系統(tǒng)在眾多領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。在材料科學(xué)領(lǐng)域，它能夠深入材料內(nèi)部，觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)缺陷、晶體結(jié)構(gòu)等。例如，在研究新型合金材料時，可以通過2024
12-04應(yīng)用分享｜關(guān)于鈣鈦礦電池中PID測試的新研究
應(yīng)用背景該文章翻譯于FraunhoferCSP和DiagnosticsａndMetrologySolarCellsdivision等機構(gòu)共同研究的工作。電勢誘導(dǎo)衰減（PID效應(yīng)）普遍存在于晶體硅太陽能電池中，通常是由鈉離子產(chǎn)生分流效應(yīng)引起的，傳統(tǒng)太陽能電池已經(jīng)開發(fā)出標準的PID測試條件。利用FreiburgInstruments開發(fā)的PIDcon設(shè)備，我們研究了標準化PID測試程序是否適用于各種結(jié)構(gòu)和成分的鈣鈦礦太陽能電池，結(jié)果發(fā)現(xiàn)盡管鈣鈦礦材料與硅基電池結(jié)構(gòu)有明顯差異，但PID測試結(jié)果顯示了它2024
11-27XRM應(yīng)用分享 | Skyscan 2214與MTS： 揭秘樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)與力學(xué)行為的黃金搭檔
在工程力學(xué)和材料科學(xué)領(lǐng)域，對材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和力學(xué)行為的深入研究至關(guān)重要。這不僅關(guān)系到材料的應(yīng)用性能，還直接影響到工程安全和效率。目前，我們要介紹的是Skyscan2214和MTS（材料力學(xué)試驗機）這一對在力學(xué)研究中不能缺少的黃金搭檔。Skyscan2214：高分辨率X射線成像系統(tǒng)Skyscan2214是由Bruker公司生產(chǎn)的高分辨率X射線成像系統(tǒng)，它在材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)研究中扮演著重要角色。以下是Skyscan2214的一些關(guān)鍵特性和應(yīng)用：1.高分辨率成像能力Skyscan2214擁有高達160kV2024
11-20全新臺式D6 PHASER應(yīng)用報告系列（七）— 掠入射衍射- X射線衍射XRD
掠入射衍射介紹掠入射衍射（GID,Grazingincidencediffraction）是研究多晶薄膜的一種常用方法。薄膜樣品在Bragg-Brentano對稱衍射中通常表現(xiàn)出非常微弱的衍射信號，原因在于X射線可穿透薄膜照射到底層襯底，由于襯底其較大的散射體積，導(dǎo)致其衍射信號在終端信號中占據(jù)主導(dǎo)地位。然而，如果不是BB幾何的發(fā)散光路，而是一束細的平行光束照向樣品表面，這樣它只穿透薄膜而不穿透下方的襯底材料，那么來自薄膜的衍射信號則會成為主導(dǎo)。通過優(yōu)化平行光束的入射角度，可以將薄膜層的散射信號與2024
11-20如何確保晶圓片在線面掃檢測儀的數(shù)據(jù)準確性？
在現(xiàn)代半導(dǎo)體制造業(yè)中，對晶圓片表面質(zhì)量的精確檢測是至關(guān)重要的。晶圓片在線面掃檢測儀作為一種先進的檢測設(shè)備，因其能夠?qū)崟r監(jiān)控晶圓片表面的微小缺陷，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體生產(chǎn)線上。晶圓片在線面掃檢測儀的設(shè)計充分考慮了高效檢測的需求。它通常由一個高速掃描系統(tǒng)和一個高分辨率成像系統(tǒng)組成，能夠在晶圓片傳輸過程中實時捕捉表面圖像，并通過圖像處理算法自動識別和分類各種缺陷。這種設(shè)計不僅能夠提高生產(chǎn)效率，還能夠顯著降低因缺陷導(dǎo)致的產(chǎn)品報廢率。晶圓片在線面掃檢測儀還具備多種高級功能，以滿足不同的應(yīng)用需求。例如，一些型2024
11-20應(yīng)用分享 | AES俄歇電子能譜專輯之應(yīng)用案例(二)
上篇介紹了俄歇電子能譜（AES）的定性分析、定量分析及化學(xué)態(tài)分析功能，本篇我們將繼續(xù)分享更多AES高級功能，其中包括表面形貌觀察、深度分析及顯微分析。表面形貌觀察AES作為一種先進的電子束探針表征技術(shù)，在納米級乃至更高精度的空間分辨要求上展現(xiàn)出了強大的優(yōu)勢，因此非常適用于納米尺度材料的表征。與掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）等依賴電子束探針的技術(shù)相似，AES在電子束聚焦能力上表現(xiàn)出色，尤其是場發(fā)射電子束技術(shù)的融入，極大地提升了其空間分辨能力。當前PHI710俄歇設(shè)備的SEM圖像2024
11-202024
11-152024
11-13應(yīng)用分享 | 氬離子設(shè)備 (XPS、PHI710、TOF-SIMS)
氬離子設(shè)備對于表面分析，樣品表面極易被污染。為了清潔被污染的固體表面,在能譜分析中,常常利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束對樣品表面進行濺射剝離,以清潔表面。利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束定量地剝離一定厚度的表面層,然后再分析表面成分,這樣就可以獲得元素成分沿深度方向的分布圖。同時，離子設(shè)備也兼具中和樣品表面荷電的作用。一、氬離子設(shè)備原理圖▲圖1氬離子設(shè)備原理圖二、氬離子設(shè)備實圖▲圖2氬離子設(shè)備圖三、氬離子設(shè)備主要作用清潔(樣品表面被污染)清潔被污染的樣品表面,利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束對樣品表面進行濺射剝離,以2024
10-30XRM應(yīng)用分享 | 高分辨顯微CT檢測技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域的前沿應(yīng)用
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，高分辨顯微CT（ComputedTomography）檢測技術(shù)作為一種非破壞性的三維成像技術(shù)，在生命科學(xué)領(lǐng)域展現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛力和價值。其不僅能夠?qū)崿F(xiàn)生物樣本的精確成像，還能提供豐富的生物學(xué)信息，為生命科學(xué)研究提供了強有力的技術(shù)支持。本文旨在探討高分辨顯微CT檢測技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域的前沿應(yīng)用，并分析其在推動科學(xué)進步方面的作用。一、概述高分辨顯微CT檢測技術(shù)是一種基于X射線的高精度三維成像技術(shù)，它結(jié)合了CT掃描與顯微鏡技術(shù)的優(yōu)點，能夠在不破壞樣本的前提下，實現(xiàn)亞微米級別的掃一掃訪問手機商鋪
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