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2024
10-30XRD應用分享 | 微焦斑高分辨XRD在電子器件領域的應用——以PZT電容器為例
微電子器件的功能在很大程度上取決于其晶體結(jié)構(gòu)。高分辨率X射線衍射（HRXRD）是一種無損分析技術，能夠以亞納米級的精度研究晶體結(jié)構(gòu)-即使是在非環(huán)境或工作狀態(tài)下。使用實驗室X射線衍射儀通過HRXRD研究這些微米級尺寸的器件極其具有挑戰(zhàn)性，因為需要一束小于所關注結(jié)構(gòu)的X射線束。鋯鈦酸鉛（PZT）電容器在提高各種電子設備和系統(tǒng)的功能及性能方面起著至關重要的作用。由于其能夠在電能和機械能之間轉(zhuǎn)換，它們被用于需要高精度、控制和高效能量轉(zhuǎn)換的應用中。典型的例子包括微機電系統(tǒng)（MEMS）器件、壓電變壓器、致動2024
10-30應用分享｜少子壽命測試儀(MDP)針對碳化硅器件性能優(yōu)化的關鍵作用
1應用背景在微電子半導體行業(yè)日新月異的現(xiàn)狀，材料質(zhì)量的提升與器件性能的優(yōu)化成為推動技術進步的關鍵因素。碳化硅（SiC）作為一種新興的高性能半導體材料，以其優(yōu)異的導熱性、高擊穿電場強度及耐高溫特性，在電力電子、新能源汽車、航天航空等領域展現(xiàn)出巨大的應用潛力。然而，碳化硅器件的性能優(yōu)化并非易事，其涉及到材料質(zhì)量、加工工藝、器件設計等多個層面的精細控制。在這個過程中，少數(shù)載流子壽命（少子壽命）作為評價半導體材料質(zhì)量的重要參數(shù)之一，其精確測量與深度分析顯得尤為重要。2儀器介紹德國弗萊貝格儀器有限公司（F2024
10-252024
10-252024
10-232024
10-23晶體日記（二十三）-單晶測試容易犯的錯誤-以偏概全- X射線衍射XRD
前言寫這個的起因，是因為做DEMO時犯的一個錯誤。其實很多測試看起來確實很簡單，很多高大上的儀器，真正的操作其實也并沒有什么繁瑣的。甚至從培訓的時候就能看的出來。大部分同學聽完怎么操作就懶得再聽下去了，于是20人結(jié)果經(jīng)常堅持下來的人只有2人。我想大部分使用的人實際上連布拉格方程是什么都沒有理解。不然也不會有那么多人始終分不清單晶衍射儀和粉末衍射儀的區(qū)別。單晶X射線衍射SC-XRD是為了利用X射線衍射測定晶體的三維結(jié)構(gòu)（實空間）而設計。通過測試單顆晶體，獲取三維空間的倒易點陣信息。當有足夠多的數(shù)據(jù)2024
10-232024
10-202024
10-102024
10-102024
10-102024
09-242024
09-192024
09-14電子順磁共振波譜儀如何揭示分子結(jié)構(gòu)的秘密？
在物理、化學、生物等科學領域的研究實驗室中，電子順磁共振波譜儀是一種不可或缺的分析工具。它通過探測物質(zhì)分子中未配對電子的磁性質(zhì)，揭示了分子結(jié)構(gòu)的諸多秘密，為科學研究提供了強有力的支持。電子順磁共振波譜儀基于電子順磁共振現(xiàn)象，即未配對電子在磁場中對微波的吸收。這項技術涉及到將樣品置于一個嚴格控制的磁場環(huán)境中，并使其受到特定頻率微波的作用。當未配對電子吸收微波能量時，它們會在特定的能級之間躍遷，而這種躍遷被儀器檢測并記錄下來，形成特有的波譜圖。這種波譜圖是順磁共振波譜儀輸出的關鍵信息，它如同物質(zhì)的指2024
09-11全新臺式D6 PHASER應用報告系列（六）— 織構(gòu)分析- X射線衍射XRD
織構(gòu)簡介一般的多晶材料表現(xiàn)出各向同性，這是因為在多晶體中各晶粒無規(guī)取向。如果因為某些原因使得每個晶粒的取向趨于一致，我們稱之為擇優(yōu)取向或者織構(gòu)。出現(xiàn)織構(gòu)以后，材料將表現(xiàn)出不同程度的各向異性。在多數(shù)情況下，我們不希望有織構(gòu)。但一些織構(gòu)結(jié)構(gòu)可以提高材料的力學和電學性質(zhì)，因此樣品正確的取向或織構(gòu)至關重要。大多數(shù)金屬樣品在加工過程中由于加工技術而表現(xiàn)出一定程度的織構(gòu)結(jié)構(gòu)。比如電鍍層在形成時，織構(gòu)往往與電流傳導方向相關。金屬經(jīng)鍛造、軋制、擠壓、拉拔等加工時，由于加工應力的作用將形成形變織構(gòu)，而具有形變織構(gòu)2024
09-11應用分享 | 布魯克三維X射線顯微鏡在油氣地質(zhì)領域的應用
布魯克三維X射線顯微鏡（3DX-rayMicroscopy,3DXRM）在地質(zhì)油氣領域的應用極為普遍，能夠為巖石、沉積物和流體行為的研究提供高分辨率的三維成像。這項技術在巖石物理、儲層特性分析和微觀結(jié)構(gòu)研究中具有重要的應用價值。應用概述布魯克三維X射線顯微鏡通過X射線掃描樣品，生成其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率三維圖像。它能夠在不破壞樣品的前提下，提供詳細的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，對油氣地質(zhì)研究具有重要意義。主要應用領域一、巖石孔隙結(jié)構(gòu)分析孔隙率與滲透率測定：三維X射線顯微鏡可以精確測量巖石樣品的孔隙度和滲透率，幫2024
09-112024
09-112024
09-05晶體日記（二十）- 有效的數(shù)據(jù)收集是較省時間的方式據(jù)- X射線衍射XRD
從工作開始接觸化學小分子晶體學，經(jīng)常見的一句話：高角度沒點，怎么辦?這看似簡單的問題，實則隱藏著諸多未解之謎。盡管它十分普遍，但每次聽到，我總會陷入沉思。我明白提問者所要表達的意思。但是這個問題并沒有表達出晶體的衍射能力怎么樣？所謂的“沒點”又表示著怎樣的具體情況？然而多數(shù)情況下，稍微問一下，就發(fā)現(xiàn)“高角度沒點”只是空洞的訴求。分辨率，衍射能力，這是晶體學里重要的東西。然而化學晶體學很多時候都在弱化這些基礎。高角度無點，但晶體的分辨率是.9A？1.1A？1.5A？3A？還是更低？這些數(shù)字背后，其2024
09-04晶體日記（十九）- 給使用OMIT完整的證據(jù)鏈- X射線衍射XRD
有個存在于但是不限于晶體學的問題：遇到問題，優(yōu)先級不是想著怎么理解，怎么解決，而是想著怎么掩蓋，讓別人看不到，或者忽略。近期聽到一個有意思的詞，“離群衍射點”，指的是精修時發(fā)現(xiàn)的（FovsFc）誤差值過大的衍射點，orMostDisagreeableReflections。雖然聽到時是個烏龍，被當成了Q峰。當然這是常見的概念上的混亂和張冠李戴，這個就不吐槽了，太費神。但是“離群”就“刪掉”了之了么？聊聊OMIT既然說到了這個事情，那就得聊聊OMIT這個事情。如同Squeeze的濫用，為了獲得比較掃一掃訪問手機商鋪
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