當(dāng)前位置：束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司>>技術(shù)文章展示
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2024
09-04應(yīng)用分享 | 反光電子能譜IPES專輯之應(yīng)用案例（一）-XPS
反式鈣鈦礦太陽能電池（InvertedPerovskiteSolarCells，IPSCs）是一種新型太陽能電池技術(shù)，其制備方法是將常規(guī)鈣鈦礦太陽能電池中的陽極和陰極位置倒置。IPSCs相較于常規(guī)的PSCs，其電荷傳輸效率以及電池整體的光電轉(zhuǎn)換效率都顯著提高。此外，IPSCs還具備良好的相容性、對(duì)水氧低敏感性以及工作溫度范圍寬等諸多優(yōu)勢，對(duì)于推動(dòng)鈣鈦礦太陽能電池的商業(yè)化進(jìn)程至關(guān)重要。鈣鈦礦吸收層與空穴傳輸層之間界面的相互作用是影響鈣鈦礦電池穩(wěn)定性的關(guān)鍵因素。對(duì)此，戚亞冰教授研究團(tuán)隊(duì)制備了一種類石2024
09-04應(yīng)用分享 | 2025版PDF數(shù)據(jù)和JADE軟件應(yīng)用
國際衍射數(shù)據(jù)中心（ICDD）自1941年發(fā)行標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片數(shù)據(jù)庫（PDF數(shù)據(jù)庫）至今已有80多年的歷史，PDF數(shù)據(jù)庫是目前有效的分析粉末XRD數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)衍射數(shù)據(jù)庫。2024年9月，ICDD正式發(fā)行2025版PDF數(shù)據(jù)庫，根據(jù)用戶的不同需求，ICDD所發(fā)行的數(shù)據(jù)庫種類有PDF-5+、PDF-4Axiom、PDF-4Minerals和PDF-2數(shù)據(jù)庫；其中PDF-5+數(shù)據(jù)庫涵蓋之前的PDF-4+和PDF-4Organic的所有數(shù)據(jù)，無機(jī)物-有機(jī)物綜合性數(shù)據(jù)庫，收錄的數(shù)據(jù)超過110萬條，滿足粉末XRD數(shù)2024
08-282024
08-28晶體日記（十七）- 從孿晶的squeeze能學(xué)到什么- X射線衍射XRD
各種原因，好久沒更新了，有些疲憊。不過聽了很多老師的話，我還是打算重啟繼續(xù)。不為了改變什么，純粹自娛自樂也未嘗不可。現(xiàn)在就聊一點(diǎn)輕松的，關(guān)于學(xué)習(xí)方式的話題吧。關(guān)于自動(dòng)化的感悟關(guān)于自動(dòng)化，我始終持保留態(tài)度，不管你怎么跟我爭論它有多么“傻瓜”。目前的自動(dòng)化，我大多看不上眼，因?yàn)椤白詣?dòng)化”并沒有減輕我的工作量，反而讓我疲于解釋各種基礎(chǔ)的不能再基礎(chǔ)的問題。我理解的自動(dòng)化的意義應(yīng)該是讓人從冗繁無意義的重復(fù)勞動(dòng)中解決出來，而不是代替人去做基本的思考和學(xué)習(xí)。人應(yīng)該站在比自動(dòng)化更高的程度上，而不是依賴自動(dòng)化或者2024
08-28應(yīng)用分享｜少子壽命測試儀(MDP)在碳化硅材料質(zhì)量評(píng)估中的應(yīng)用
在半導(dǎo)體材料科學(xué)領(lǐng)域，碳化硅（SiC）作為一種寬帶隙半導(dǎo)體材料，近年來因其高性能而備受關(guān)注。SiC以其高硬度、高抗壓強(qiáng)度、高熱穩(wěn)定性和優(yōu)異的半導(dǎo)體特性，在大功率器件、高溫環(huán)境應(yīng)用以及裝甲陶瓷等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的潛力。特別是在高壓器件中，SiC已成為硅（Si）的有力競爭對(duì)手，其性能的提升對(duì)于推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。然而，SiC材料的質(zhì)量評(píng)估是確保其在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)揮高性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。少數(shù)載流子壽命（MinorityCarrierLifetime），作為衡量半導(dǎo)體器件性能的基本參數(shù)之一，對(duì)于Si2024
08-28應(yīng)用分享 | AES俄歇電子能譜儀表面分析技術(shù)
俄歇電子能譜（AugerElectronSpectroscopy,AES）作為一種高度靈敏的表面分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)及化學(xué)工程等領(lǐng)域，用于研究固體表面的化學(xué)組成及元素分布。ULVAC-PHI公司匠心打造的PHI710掃描俄歇納米探針系統(tǒng)，采用同軸筒鏡式電子能量分析器的設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)對(duì)納米表面特征、薄膜結(jié)構(gòu)和表面污染物成分全方面表征和二次電子成像同步觀測。圖1.PHI710設(shè)備外觀圖。PHI710掃描俄歇納米探針系統(tǒng)是該領(lǐng)域的先進(jìn)設(shè)備，其結(jié)構(gòu)構(gòu)成復(fù)雜而精密，主要包括以下幾個(gè)關(guān)鍵部分2024
08-232024
08-222024
08-21應(yīng)用分享 | Bruker SkyScan XRM 在電池與清潔能源領(lǐng)域的應(yīng)用
隨著全球?qū)η鍧嵞茉葱枨蟮娜找嬖鲩L，電池技術(shù)的進(jìn)步成為推動(dòng)這一轉(zhuǎn)變的關(guān)鍵因素之一。BrukerSkyScanX射線顯微鏡（XRM）因其在非破壞性高分辨率成像方面的優(yōu)異表現(xiàn)，正在電池材料研發(fā)與質(zhì)量控制中扮演著日益重要的角色。該技術(shù)的應(yīng)用能夠提高電池性能、延長電池壽命，同時(shí)加速清潔能源的創(chuàng)新進(jìn)程。BrukerSkyScanXRM是一種先進(jìn)的3DX射線顯微成像技術(shù)，能夠?qū)ξ⒚咨踔良{米級(jí)結(jié)構(gòu)進(jìn)行非破壞性觀察。這一技術(shù)結(jié)合了高分辨率、快速成像和深度分析能力，可以對(duì)復(fù)雜樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)分析，從而為電池材2024
08-21晶體日記（十六）：APEX4 -從“數(shù)據(jù)庫”里尋找答案
晶體學(xué)有時(shí)會(huì)讓人覺得很神奇，透過一個(gè)晶體，我們可以看到微觀的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。但是晶體在肉眼下就只是晶體，沒有X射線我們就只能看著它，可能對(duì)它無從下手。而且晶體結(jié)構(gòu)解析需要有一些已知的信息，不然我們就沒有辦法知道這里面會(huì)有什么。讓人失望的晶體做晶體實(shí)驗(yàn)總是會(huì)遇到一些意想不到的情況，晶體的生長并不會(huì)按照我們的意愿進(jìn)行。偶爾欣喜若狂地看到的晶體興許只是一些雜質(zhì)，或者只是鹽罷了。如果你是做蛋白晶體的，你一定會(huì)十分沮喪，心情一定是180°的轉(zhuǎn)彎。記得讀書時(shí)發(fā)生過無數(shù)次這樣的情況，然而一般看到是鹽晶，也就到此為止2024
08-21應(yīng)用分享 | 異形器件的失效分析測試方案之原位XPS+AES
失效分析（FailureAnalysis）是探究元器件失效根源的重要手段，旨在為元器件設(shè)計(jì)、工藝、制造等流程提供改進(jìn)方向，從而提升產(chǎn)品良率和可靠性。在失效分析中，經(jīng)常遇到異形器件，其不規(guī)則的形狀與多元組件構(gòu)成的特征尤為明顯，直接影響著產(chǎn)品的性能。值得注意的是，特征尺寸在微米/亞微米級(jí)別的異形器件的表征往往存在著諸多挑戰(zhàn)。一方面，受限于傳統(tǒng)分析設(shè)備的空間分辨能力，元器件微小特征的微區(qū)分析會(huì)遇到難以準(zhǔn)確定位和準(zhǔn)確分析的障礙，直接影響了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。對(duì)此，PHI創(chuàng)新性推出了掃描微聚焦型XPS技術(shù)，2024
08-21應(yīng)用分享 | 固態(tài)電池中電解質(zhì)/金屬鋰界面的XPS-HAXPES表征
以立方石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)作為固態(tài)電解質(zhì)的固態(tài)電池（SSB），具有高鋰離子電導(dǎo)率、低電子導(dǎo)電率（EC）、高機(jī)械和熱穩(wěn)定性以及寬電化學(xué)窗口等特點(diǎn)，有望成為推動(dòng)下一代儲(chǔ)能技術(shù)騰飛的“種子選手”。不過研究發(fā)現(xiàn)LLZO表面容易產(chǎn)生由LiOH和Li2CO3組成的鋰離子非均勻（厚度、成分差異）絕緣層，導(dǎo)致LLZO與金屬鋰的潤濕性較差，從而在充放電過程中引起高界面電阻甚至是Li枝晶的形成，嚴(yán)重影響LLZO-SSBs的電化學(xué)性能。為了增強(qiáng)固態(tài)電解質(zhì)與金屬鋰的浸潤性，本項(xiàng)工作中在界面引入S2024
08-172024
08-14應(yīng)用分享 | GCIB團(tuán)簇離子尺寸的自主調(diào)控和實(shí)際測量
離子濺射源，作為表面分析設(shè)備（如XPS、AES和TOF-SIMS）的重要組件之一，不僅能清潔樣品表面，還能輔助深度剖析，揭示樣品的內(nèi)在結(jié)構(gòu)。根據(jù)構(gòu)成濺射離子的原子/分子個(gè)數(shù)，可將離子濺射源分為單離子源（如：Ar+、Xe+、O2+）和團(tuán)簇離子源（如：C60、GCIB（GasClusterIonBeam））。其中，GCIB是由數(shù)百乃至數(shù)千個(gè)氣體原子/分子（如Ar-GCIB）組成的離子束，它能夠以極低的單原子能量進(jìn)行蝕刻，實(shí)現(xiàn)樣品表面的平坦化效果。正因如此，GCIB在有機(jī)物刻蝕方面以其低損傷特性而備受2024
08-14應(yīng)用分享 | 燃料電池電極界面的XPS-HAXPES表征
質(zhì)子交換膜燃料電池（PEMFC），作為化石燃料具有潛力的可替代者而備受關(guān)注。燃料電池由陽極、陰極和電解質(zhì)組成，其中電催化氧氣還原和氫氣氧化分別在不同的電極上單獨(dú)進(jìn)行，電子和質(zhì)子分別通過電路和離子交換膜傳輸。為了加速PEMFC的氧還原反應(yīng)（ORR）動(dòng)力學(xué)，在陰極側(cè)構(gòu)筑了高活性和穩(wěn)定性的催化層。催化層通常由催化材料和具備離子傳導(dǎo)性的離子聚合物組成，其化學(xué)態(tài)明顯影響著整個(gè)燃料電池的性能。近年來，開發(fā)替代昂貴商用鉑族金屬（PGMs）催化劑（如Pt/C）是當(dāng)前的研究重點(diǎn)。低成本、高活性及穩(wěn)定的非貴金屬M(fèi)N2024
08-14晶體日記 （十五）- 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量（2）
評(píng)判數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)也許是歷史傳統(tǒng)的問題，Rint（Rsym，Rmerge）被選中了作為評(píng)判數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)。甚至在很多不是很專業(yè)的書里，學(xué)生們都被告知Rint需要低于多少，I/σ高于多少才能表示數(shù)據(jù)可用。于是乎，這些數(shù)值變成了評(píng)判數(shù)據(jù)質(zhì)量所謂的金標(biāo)準(zhǔn)?？墒钱?dāng)提問Rint是什么意義時(shí)，跟什么因素相關(guān)時(shí)，大多數(shù)同學(xué)卻卡在了那里?？赡躌int在大多數(shù)同學(xué)眼里就是個(gè)發(fā)表文章的門檻數(shù)值，具體是什么意義已經(jīng)不再重要。不然就不會(huì)有那么多同學(xué)追問著怎么把Rint修下去，或者解決掉所謂的“錯(cuò)誤”。誠然Rint本身的2024
08-14晶體日記 （十四） - 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量（1）
數(shù)據(jù)前幾天涉及到一個(gè)數(shù)據(jù)，我和一個(gè)老師爭論了一陣的Checkcif問題。晶體數(shù)據(jù)很清晰的顯示的原子的位置，在Checkcif里卻認(rèn)為是有問題的Alert。如果是修，自然是可以修掉的，但是作為一個(gè)晶體學(xué)工作者的尊嚴(yán)，為了修而修，這不是科學(xué)，就成了畫畫了。但這個(gè)爭論也只持續(xù)了一會(huì)，我自知無力改變什么，一個(gè)科學(xué)發(fā)現(xiàn)就這樣淹沒在checkcif里。如同Alert簡單粗暴的被90%以上的同學(xué)和老師稱之為錯(cuò)誤，即便解釋了再多遍，也鮮有人認(rèn)真去改正。讀過Checkcif歷史的同學(xué)都會(huì)知道，Checkcif初衷2024
08-082024
08-08晶體日記 （十二）-尋找“Q”峰背后的原因(5)：無意的無序
奇怪的Q峰讀書時(shí)，老師和師兄們總教導(dǎo)我們要把蛋白提純了再去長晶體。純度越高越好（95%），這樣晶體才能長得漂亮。于是各種層析柱子的提純成了日常較多的工作。而且不光是表觀上SDS-PAGE的純度，我們還要求蛋白盡可能狀態(tài)的均一。甚至在我們的意識(shí)里，蛋白是有生命的，越早越快地提純出來，蛋白才是“活”的。于是各種加班加點(diǎn)的穿著棉襖在冷庫里做實(shí)驗(yàn)，廢寢忘食都不為過。然而到了工作的時(shí)候，接觸到了化學(xué)晶體，卻讓我對(duì)結(jié)晶對(duì)純度的要求一度十分的困惑，各種純度都有進(jìn)行長晶體的實(shí)驗(yàn)。對(duì)純度的要求好像沒有那么嚴(yán)格，甚2024
08-08應(yīng)用分享 | FIB-TOF‖高效的TOF-SIMS深度分析
聚焦離子束（FocusedIonbeam，簡稱FIB）技術(shù)是利用靜電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的顯微切割技術(shù)。離子束轟擊樣品時(shí)，其動(dòng)能會(huì)傳遞給樣品中的原子/分子，產(chǎn)生濺射效應(yīng)，從而達(dá)到不斷蝕刻，進(jìn)而切割樣品的效果。FIB對(duì)固體局部區(qū)域內(nèi)進(jìn)行高精度的切割和加工后，借助飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（Time-of-FlightSecondaryIonMassSpectrometry，簡稱TOF-SIMS），就能實(shí)現(xiàn)對(duì)該區(qū)域的原位、高靈敏度的化學(xué)成分分析，從而獲取樣品“由表及里”的豐富的化學(xué)信息。FIB-掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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