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2024
06-13應(yīng)用分享 | 全固態(tài)電池截面的原位 FIB 加工和分析
鋰離子電池具有自放電小、開(kāi)路電壓高、能量密度大、循環(huán)壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)，自問(wèn)世以來(lái)就備受關(guān)注。但是，鋰離子電池采用含有機(jī)溶劑的液體電解質(zhì)，存在不容忽視的安全隱患。對(duì)此，全固態(tài)電池（ABBS）應(yīng)運(yùn)而生，因其電解質(zhì)在內(nèi)的所有組件都是固態(tài)的，在安全性和熱穩(wěn)定性上有著明顯優(yōu)勢(shì)，已然成為新能源、儲(chǔ)能技術(shù)、材料科學(xué)等領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。然而，電極與固體電解質(zhì)之間的界面存在著來(lái)源尚不明確的電阻，成為影響ABBS實(shí)際應(yīng)用的較大障礙之一。因此，利用有效的表面分析技術(shù)研究SE/陰極界面的相互作用，對(duì)提高全固態(tài)電池的性能至關(guān)必2024
05-29應(yīng)用分享 | 使用高分辨率表面光電壓(SPV)光譜分析SiC晶圓的表面質(zhì)量
具有寬帶隙的碳化硅基半導(dǎo)體，在制備各種高頻、高溫和大功率電子器件方面具有非常有前景。因此，提高SiC晶圓的質(zhì)量，解決SiC制造工藝的高成本和低成品率是目前工業(yè)生產(chǎn)緊迫的問(wèn)題之一[1]。而對(duì)于在線批量生產(chǎn)，檢測(cè)SiC晶圓的質(zhì)量不能不能對(duì)其表面產(chǎn)生損傷，因此需要使用高分辨率、非破壞性表面檢測(cè)技術(shù)。表面光電壓（SPV）技術(shù)是一種研究光活性材料中電荷分離和轉(zhuǎn)移過(guò)程的先進(jìn)方法[2]。光生載流子在空間上的分離和表面光生載流子的演化有關(guān)。因此，該技術(shù)靈敏度高、非接觸式并且在表面監(jiān)測(cè)中不具有破壞性。此外，它還適2024
05-292024
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05-22XRM應(yīng)用分享 | 農(nóng)林科學(xué)
近些年來(lái)，XRM技術(shù)開(kāi)始逐漸廣泛應(yīng)用于土壤學(xué)和植物科學(xué)，研究土壤性質(zhì)、土壤微生物對(duì)土壤性質(zhì)的影響、植物根發(fā)育及其內(nèi)部結(jié)構(gòu)、內(nèi)部養(yǎng)分運(yùn)輸機(jī)制等等。而隨著發(fā)展的深入，目前XRM技術(shù)也開(kāi)始被應(yīng)用于植物地上結(jié)構(gòu)的研究中。實(shí)例一木材內(nèi)部多孔結(jié)構(gòu)及木質(zhì)部導(dǎo)管表征，BrukerSkyscan1273,7um.木材內(nèi)部多孔結(jié)構(gòu)正交三視圖及局部放大表征木材內(nèi)部整體結(jié)構(gòu)三維表征（左圖）木材木質(zhì)部導(dǎo)管三維分布表征（右圖）實(shí)例二土壤內(nèi)部孔隙結(jié)構(gòu)三維表征及定量分析，BrukerSkyscan1275，15um.土壤樣品（2024
05-222024
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04-17應(yīng)用分享 | 三維X射線顯微鏡（3D XRM/Micro CT）在食品科學(xué)研究中的應(yīng)用
MicroCT或3DXRM是一種非破壞性的成像技術(shù)，能夠提供物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率三維圖像。這種技術(shù)在油氣地質(zhì)醫(yī)學(xué)領(lǐng)域已經(jīng)非常成熟，但在食品科學(xué)的應(yīng)用則是近年來(lái)才開(kāi)始興起。它的非侵入性特點(diǎn)使科學(xué)家能夠不破壞食品樣品的情況下，觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和特性。這一技術(shù)對(duì)于理解食品的微觀結(jié)構(gòu)，尤其是在加工、儲(chǔ)存、包裝過(guò)程中發(fā)生的變化至關(guān)重要。那么，MicroCT技術(shù)在食品科學(xué)中具體有哪些應(yīng)用呢？1）結(jié)構(gòu)分析與質(zhì)構(gòu)評(píng)估：食品的質(zhì)地和口感往往與其微觀結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。利用XRM，科學(xué)家們能夠觀察食品內(nèi)部的氣泡、纖維、孔2024
04-17弗萊貝格PIDcon bifacial｜雙面電池的可逆與不可逆PID快速測(cè)試解決方案
論文來(lái)源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙面PERC電池背面PID會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面PERC太陽(yáng)能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評(píng)估太陽(yáng)能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的PID測(cè)試方法，需要在高壓測(cè)試上附加光照。此外，還需要在測(cè)試方案中加入恢復(fù)步驟來(lái)將可逆2024
03-26應(yīng)用分享 | ESR5000 助力苯乙烯生產(chǎn)中的單體控制
乙烯基單體（如苯乙烯）在其合成和純化的工業(yè)過(guò)程中，可能發(fā)生不被期望的聚合反應(yīng)。為了避免這一現(xiàn)象，需要向單體反應(yīng)體系中加入諸如2,2,6,6-四甲基哌啶-1-氧自由基（TEMPO）及其類似物的聚合抑制劑。TEMPO（圖1）是一種自由基化合物，它通過(guò)阻止自由基鏈?zhǔn)椒磻?yīng)來(lái)抑制聚合反應(yīng)（圖2）。典型工業(yè)單體，如丙烯酸酯、氯乙烯、丁二烯和苯乙烯，在加工及安全運(yùn)輸和儲(chǔ)存過(guò)程中都需要聚合抑制劑。許多單體在工業(yè)上通過(guò)蒸餾法提純，因而可能導(dǎo)致熱引發(fā)聚合反應(yīng)的發(fā)生。例如，苯乙烯在100℃以上的溫度下進(jìn)行蒸餾時(shí)，會(huì)以2024
03-20布魯克全新臺(tái)式D6 PHASER應(yīng)用報(bào)告系列（三）—— 二維衍射
粉末衍射中檢測(cè)所有帶有特征強(qiáng)度的晶面反射的一個(gè)基本要求是樣品架中要存在足夠數(shù)量的尺寸合適的晶粒且滿足統(tǒng)計(jì)學(xué)排列。二維衍射法則是一種很容易觀察到過(guò)大或過(guò)少晶粒的存在，以及它們的擇優(yōu)排列的有效方法。該應(yīng)用報(bào)告顯示，一維LYNXEYE探測(cè)器可以與線聚焦的X射線光管結(jié)合起來(lái)，有效地監(jiān)測(cè)樣品制備的質(zhì)量，而無(wú)需昂貴的二維探測(cè)器。而二維探測(cè)器的真正優(yōu)勢(shì)在于，將點(diǎn)聚焦的X射線光管和可變的樣品到探測(cè)器的距離相結(jié)合，可以進(jìn)行定量的粉末衍射、應(yīng)力和織構(gòu)分析。然而，這需要具有一定尺寸的二維探測(cè)器，這在臺(tái)式X射線衍射儀上2024
03-13應(yīng)用分享 | 三維X射線顯微鏡（XRM）即Micro CT在藥物片劑逆向工程中的應(yīng)用
在現(xiàn)代藥物研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域，三維X射線顯微成像或顯微計(jì)算機(jī)斷層掃描（Micro-CT）技術(shù)已經(jīng)成為一個(gè)缺少不可的工具。特別是在藥物片劑的逆向工程研究中，該技術(shù)以其非破壞性、高分辨率的成像能力，為藥物的質(zhì)量評(píng)估和新藥研發(fā)提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。本文中我們將在布魯克桌面型三維X射線顯微鏡（XRM/MicroCT）SKyScan1272的協(xié)助下，探究顯微CT在藥物片劑逆向工程中的三個(gè)關(guān)鍵應(yīng)用：孔隙分析、活性的藥物成分（API）分布以及包衣厚度表征?！幬锲瑒┘扒衅瑘D像正交三視圖孔隙分析藥物片劑的孔2024
02-28布魯克三維X射線顯微鏡（Bruker 3D XRM）在考古紡織品研究中的應(yīng)用
對(duì)于考古紡織品結(jié)構(gòu)和材料的研究通常很復(fù)雜，并且由于樣品容易受到沉積后的影響，如污垢和腐爛，這可能使研究人員的工作變得更加費(fèi)力和麻煩。在考古學(xué)的相關(guān)研究中，侵入式的研究方法是不可取的，因?yàn)榘l(fā)掘出來(lái)的大多數(shù)物品都是稀缺的，保存這些物品至關(guān)重要，尤其是考古紡織品，很容易破損，而且其外部通常覆蓋著硬化的泥土或粘土，無(wú)法去除。這時(shí)，使用μCT或3DXRM這種能夠提供微米尺度的無(wú)損成像技術(shù)將很好地幫助我們通過(guò)橫截面或3D可視化來(lái)研究這些易碎物品并且不會(huì)損壞它們，以達(dá)到樣品重復(fù)利用研究的目的。此外，來(lái)自μCT2024
02-28應(yīng)用分享 | 電阻率測(cè)試對(duì)碳化硅半導(dǎo)體的意義
隨著全球?qū)δ茉葱枨蟮牟粩嘣黾?，特別是在電動(dòng)或混合動(dòng)力汽車和可再生能源管理這些領(lǐng)域，人們?cè)絹?lái)越注重以較低的電力消耗為目標(biāo)，因此能在高頻、高溫、高壓環(huán)境下工作的第三代半導(dǎo)體材料碳化硅（SiC）逐漸受到了廣泛的關(guān)注。目前碳化硅產(chǎn)業(yè)已成為全球范圍內(nèi)一個(gè)新興的高技術(shù)行業(yè)，涵蓋了材料、器件、模塊以及應(yīng)用等多個(gè)方面的產(chǎn)業(yè)鏈。然而，在生產(chǎn)和制備過(guò)程中應(yīng)怎樣確保SiC的穩(wěn)定性和工作效率呢？較基礎(chǔ)、高效的方式就是準(zhǔn)確測(cè)量它們的電阻率或電導(dǎo)率。按照摻雜后SiC的電阻率來(lái)分類，碳化硅襯底主要有導(dǎo)通型襯底和半絕緣襯底兩種2024
02-252024
02-21少子壽命測(cè)試儀應(yīng)用分享｜缺陷濃度測(cè)定
許多壽命測(cè)量方法，如QSSPC、μPCD或CDI，以及MDP在極低的注入濃度下都存在異常高的測(cè)量壽命。這種效應(yīng)是由于樣品中的捕獲中心造成的。這些捕獲中心對(duì)于了解材料中載流子的行為非常重要，并且也會(huì)對(duì)太陽(yáng)能電池產(chǎn)生影響。因此，需要以高分辨率來(lái)測(cè)量缺陷密度和這些缺陷中心的活化能。借助MDPmap和MDPingot，可以通過(guò)一次測(cè)量來(lái)測(cè)量光電導(dǎo)率以及少數(shù)載流子壽命，并在寬注入范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。巧妙的算法可以確定樣品中的缺陷濃度。根據(jù)注入相關(guān)壽命曲線，可以確定低注入下的壽命τLLI，并且光電導(dǎo)率與修2024
01-192024
01-19SC-XRD應(yīng)用分享 | 粉末X射線衍射（PXRD）在藥物晶型研究中的應(yīng)用
藥物大部分以晶體的形式存在，利用X射線衍射，我們可以獲得每種不同的晶型的藥物特征的衍射信息。如同指紋一樣，在數(shù)據(jù)庫(kù)中每種晶型都有特征的衍射圖譜。即使對(duì)于含有多成分的固體制劑而言，其中原料藥與輔料各自對(duì)應(yīng)的粉末X射線衍射圖譜不會(huì)發(fā)生變化，可作為藥物晶型定性判斷的依據(jù)。因而對(duì)于未知的藥物樣品，通過(guò)PXRD，我們可以很快通過(guò)比對(duì)實(shí)測(cè)圖中的衍射峰的位置，強(qiáng)度，從已有數(shù)據(jù)庫(kù)中查到原料藥的晶體結(jié)構(gòu)相匹配的衍射圖譜，從而準(zhǔn)確鑒定該藥物的晶型。PXRD對(duì)于藥物晶型的定性研究主要分為兩個(gè)方面：（1）對(duì)原料藥多晶型2024
01-19XRD應(yīng)用分享 | X射線全散射對(duì)分布函數(shù)方法分析結(jié)晶/非晶無(wú)機(jī)材料局域結(jié)構(gòu)
局域結(jié)構(gòu)是指構(gòu)成材料的原子或離子在幾個(gè)晶胞尺度范圍內(nèi)（具體來(lái)說(shuō)，使用X射線等探針對(duì)目標(biāo)樣品進(jìn)行散射實(shí)驗(yàn)后，獲得的信號(hào)強(qiáng)度I隨Q的分布函數(shù)I（Q）（Q=4πsinθ/λ）中同時(shí)包含了相干散射、非相干散射以及背景信號(hào)，扣除背景后按照下式進(jìn)行處理從而獲得全散射函數(shù)S(Q)：而后，對(duì)S(Q)-1以Q為權(quán)重處理后（即Q[S(Q)-1]，也被稱作F(Q)），再進(jìn)行傅里葉變換，即可得到對(duì)分布函數(shù)G(r)：對(duì)于不同結(jié)構(gòu)的材料，其原子對(duì)的分布規(guī)律也各不相同，圖1展示了立方堆積和六方堆積的G(r)圖像。注意到G(r2024
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