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如何在ATECLOUD平臺(tái)中搭建一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試demo2023/02/10: ATECLOUD智能化測(cè)試軟件是國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的Labview替代軟件平臺(tái)，使用ATECLOUD可以很輕松的搭建各類測(cè)試方案以及項(xiàng)目，不僅方便快速，而且準(zhǔn)確高效。今天就為大家實(shí)例說(shuō)明一下如何在ATECLOUD平臺(tái)搭建一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試項(xiàng)目demo。我們以測(cè)試啟動(dòng)電壓的demo搭建為例。1.在項(xiàng)目維護(hù)界面點(diǎn)擊新增項(xiàng)目。2.在新增的項(xiàng)目頁(yè)面的左側(cè)可以自行添加測(cè)試名稱以及各類標(biāo)簽，以便后期管理與區(qū)分。新增項(xiàng)目頁(yè)面右側(cè)則添加測(cè)試中使用到的儀器，本次搭建的啟動(dòng)電壓測(cè)試demo需要負(fù)載和直流電源，所以可以選擇自己儀器

基于ATECLOUD新能源汽車電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試方案2023/02/10: 隨著環(huán)境與能源問(wèn)題的日益突出，新能源節(jié)能環(huán)保的優(yōu)秀特性便成為人們近些年重點(diǎn)的研發(fā)項(xiàng)目，而新能源汽車便是新能源發(fā)展的階段性成果。而新能源汽車的三大核心技術(shù)：電池系統(tǒng)、電機(jī)系統(tǒng)和電控系統(tǒng)是決定著汽車性能質(zhì)量的重要指標(biāo)，因此“三電”系統(tǒng)的測(cè)試對(duì)于車企和用戶就至關(guān)重要。本期為大家展示一下納米軟件開發(fā)的ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)針對(duì)新能源汽車電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試方案。方案：新能源汽車電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試方案使用儀器：示波器、8808A萬(wàn)用表、信號(hào)源、數(shù)據(jù)采集器、測(cè)試工裝、夾具（10個(gè)產(chǎn)品）、3458A數(shù)字萬(wàn)

示波器的波形數(shù)據(jù)如何保存？ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)幫您實(shí)現(xiàn)高效存儲(chǔ)2023/02/10: 示波器的波形數(shù)據(jù)是保存在一個(gè)文件中的。文件的名稱是.wfm。這個(gè)文件包含了示波器的所有波形數(shù)據(jù)。如果你想要導(dǎo)出波形數(shù)據(jù)，你可以使用示波器的導(dǎo)出功能。這個(gè)功能將生成一個(gè)新文件，文件的名稱是.csv。這個(gè)文件包含了波形數(shù)據(jù)的所有信息。一般示波器波形數(shù)據(jù)保存常用的有兩種方式：一種是將數(shù)據(jù)保存到硬盤中，另一種是將數(shù)據(jù)保存到內(nèi)存中。當(dāng)然，也可以選擇其他保存方式。硬盤保存方式的好處是數(shù)據(jù)可以一直保存，而且可以隨時(shí)查看。但是硬盤的容量有限，如果數(shù)據(jù)量過(guò)大，就可能無(wú)法全部保存。內(nèi)存保存方式的好處是數(shù)據(jù)可以隨時(shí)查

電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)比傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)試的優(yōu)勢(shì)介紹NSAT-80002023/02/10: 電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)NSAT-8000的優(yōu)勢(shì)在于，可以有效地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的準(zhǔn)確性高，可以有效提升產(chǎn)品質(zhì)量。此外，電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)還可以提高工作效率，減少人為錯(cuò)誤。電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)是顯而易見的，值得電源廠家關(guān)注。一、電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)相比傳統(tǒng)測(cè)試，不僅測(cè)試速度快、效率高，所測(cè)試的數(shù)據(jù)相較傳統(tǒng)測(cè)試更加準(zhǔn)確。電源產(chǎn)品所要測(cè)試的項(xiàng)目很多，在過(guò)去傳統(tǒng)測(cè)試手段下，測(cè)試的速度、效率都非常低，這極大的影響力企業(yè)的生產(chǎn)產(chǎn)能，同時(shí)還有一個(gè)致命的缺陷，那就是人工測(cè)量的時(shí)候，經(jīng)常會(huì)因?yàn)槿?

納米軟件分享：電源測(cè)試系統(tǒng)的多變性2023/02/10: 在電源測(cè)試設(shè)備行業(yè)，電源測(cè)試系統(tǒng)從來(lái)都沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)品，而是始終圍繞用戶的實(shí)際需求，做定制化的電源測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)制造。近些年，電源行業(yè)的變化用一日千里的說(shuō)法定義也不為過(guò)，從充電器、適配器等開關(guān)電源興起，到如今儲(chǔ)能電源的蓬勃發(fā)展，也就十來(lái)年的時(shí)間，不僅如此，電源產(chǎn)品的多樣性也決定了電源測(cè)試設(shè)備的這一特性，比如逆變器電源、LED電源、TV電源、PC電源、移動(dòng)電源、充電器、適配器、通信電源等等，不同電源產(chǎn)品的使用要求也不盡相同，所以對(duì)于測(cè)試要求也是各有不同。電源測(cè)試系統(tǒng)按需定制成為了行業(yè)準(zhǔn)則，測(cè)試項(xiàng)目的不同，

納米軟件科普：用源表測(cè)試IV參數(shù)的典型應(yīng)用及源表測(cè)試軟件2023/02/09: 器件的I-V功能測(cè)試和特征分析是實(shí)驗(yàn)過(guò)程中經(jīng)常需要測(cè)試的參數(shù)之一，一般我們用到源表進(jìn)行IV參數(shù)的測(cè)試，如果需要對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)IV曲線圖顯示及保存，可以用到源表測(cè)試軟件NS-SourceMeter。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享一下關(guān)于用源表測(cè)試IV參數(shù)的典型應(yīng)用及源表測(cè)試軟件。一、各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析包括1、分立和無(wú)源元件兩端口器件——傳感器、磁盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻三端口器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（B

一些關(guān)于S參數(shù)常見問(wèn)題的問(wèn)答2023/02/08: 網(wǎng)絡(luò)分析儀常用被用來(lái)測(cè)試器件的S參數(shù)，本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家整理一些關(guān)于S參數(shù)的常見問(wèn)題問(wèn)答，下面一起來(lái)看看吧。Q:S參數(shù)主要是什么參數(shù)?A:S參數(shù)英文是Scatteringparameter。是指元器件反射信號(hào)和傳輸信號(hào)的特性，因此S參數(shù)包含反射參數(shù)，如S11，S22等；傳輸參數(shù)S12，S21等。Q:請(qǐng)問(wèn)一下,在哪些產(chǎn)品的測(cè)試中需要測(cè)這個(gè)參數(shù),不了解.A:所有的無(wú)源和有源器件都可以用S參數(shù)表征。無(wú)源器件如濾波器、衰減器、隔離器、功分器、環(huán)形器等；有源器件如放大器、混頻器、

納米軟件分享：新能源汽車測(cè)試解決方案2023/02/08: 近年來(lái)，純電動(dòng)汽車、混合動(dòng)力汽車等新能源汽車成為了世界汽車市場(chǎng)發(fā)展的熱潮。純電動(dòng)汽車尤其是新能源汽車的主要路線，其主要部件：動(dòng)力電池、電動(dòng)機(jī)及控制器等，得到了快速發(fā)展。本篇文章納米軟件Namisoft將為大家詳細(xì)分享關(guān)于新能源汽車測(cè)試解決方案。1、新能源測(cè)試難點(diǎn)新能源汽車高壓系統(tǒng)的電壓普遍在幾百伏特，如此高的電壓對(duì)測(cè)試人員的安全產(chǎn)生了巨大的威脅，因此新能源電性能測(cè)試對(duì)于測(cè)試設(shè)備的安全性有著很高的要求，同時(shí)新能源汽車測(cè)試的安全性問(wèn)題也永遠(yuǎn)是第一命題。新能源整車電性能測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)很多，在測(cè)試準(zhǔn)備階段

納米軟件分享：射頻MEMS芯片測(cè)試解決方案2023/02/08: 射頻微電子機(jī)械系統(tǒng)（RF-MEMS）是一種基于MEMS的射頻無(wú)源器件，與傳統(tǒng)的微波器件相比，它具有許多優(yōu)點(diǎn)，包括提高隔離度、降低功耗、降低成本、尺寸和重量。其中最成功的是RF-MEMS開關(guān)。本篇文章納米軟件Namisoft將為大家詳細(xì)分享一下射頻MEMS芯片測(cè)試解決方案。該技術(shù)可用于智能手機(jī)、移動(dòng)基礎(chǔ)設(shè)施、物聯(lián)網(wǎng)和國(guó)防等領(lǐng)域的各種無(wú)線通信應(yīng)用。它們可用于天線調(diào)諧、阻抗匹配、天線波束形成、相移以及為軟件可定義無(wú)線電（SDR）開發(fā)可調(diào)諧濾波器。RFMEMS是MEMS技術(shù)的重要應(yīng)用領(lǐng)域之一，也是二十世

芯片測(cè)試需求激增，半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)NSAT-2000解決方案2023/02/08: 據(jù)了解，測(cè)試方案的優(yōu)劣直接影響到良率和測(cè)試成本。有資料顯示，芯片缺陷相關(guān)故障對(duì)成本的影響從IC級(jí)別的數(shù)十美元，增長(zhǎng)到模塊級(jí)別的數(shù)百美元，乃至應(yīng)用端級(jí)別的數(shù)千美元。此外，目前芯片開發(fā)周期縮短，對(duì)于流片的成功率要求非常高，任何一次失敗，對(duì)企業(yè)而言都是無(wú)法承受的。因此，在芯片設(shè)計(jì)及開發(fā)過(guò)程中需要進(jìn)行充分的驗(yàn)證和測(cè)試。然而，由于ATE不屬于工藝設(shè)備，因此產(chǎn)品迭代速度較慢，單類產(chǎn)品生命周期較長(zhǎng)。市場(chǎng)目前主流的ATE多是在同一測(cè)試技術(shù)平臺(tái)通過(guò)更換不同測(cè)試模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)多種類別的測(cè)試，并提高平臺(tái)延展性。如今，很多

SiC功率器件測(cè)試哪方面？碳化硅功率器件測(cè)試系統(tǒng)NSAT-20002023/02/08: SiC碳化硅功率半導(dǎo)體器件具有耐壓高、熱穩(wěn)定好、開關(guān)損耗低、功率密度高等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用在電動(dòng)汽車、風(fēng)能發(fā)電、光伏發(fā)電等新能源領(lǐng)域。近年來(lái)，全球半導(dǎo)體功率器件的制造環(huán)節(jié)以較快速度向我國(guó)轉(zhuǎn)移。目前,我國(guó)已經(jīng)成為全球重要的半導(dǎo)體功率器件封測(cè)基地。目前常用的SiC碳化硅功率半導(dǎo)體器件主要包括：碳化sbd(schottkybarrierdiode，肖特基二極管)與碳化硅mosfet(metal-oxide-semiconductorfield-effecttransistor，金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管)

納米軟件分享：太陽(yáng)能電池的IV特性和光電轉(zhuǎn)換效率如何測(cè)量？2023/01/06: 太陽(yáng)能電池板是光伏發(fā)電的核心部分．其原理是利用PN結(jié)的光生伏特的效應(yīng)．將太陽(yáng)能所發(fā)出的光能轉(zhuǎn)化為電能。目前，光伏市場(chǎng)上主流的電池是晶體硅電池，而決定一塊太陽(yáng)能電池板是否合格則需要經(jīng)過(guò)一系列測(cè)試，針對(duì)太陽(yáng)能電池板的測(cè)試一般會(huì)分為硬件檢測(cè)與內(nèi)部軟件測(cè)試兩大項(xiàng)目。硬件測(cè)試包括太陽(yáng)能電池板的表面陷光測(cè)試、外觀檢查等，主要是為了保證電池板物理外觀無(wú)損傷，焊點(diǎn)完整無(wú)氧化等硬件質(zhì)量問(wèn)題，而軟件測(cè)試則會(huì)設(shè)計(jì)到太陽(yáng)電池的光電轉(zhuǎn)換效率、輸出伏安特性曲線參數(shù)以及I-V特性的測(cè)量。針對(duì)太陽(yáng)能電池軟件的測(cè)量企業(yè)一般都會(huì)使

基于ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)的電源模塊測(cè)試方案2023/01/06: 測(cè)試名稱：基于ATECLOUD的電源模塊測(cè)試方案測(cè)試目的：提升電源模塊測(cè)試效率，減少測(cè)試人員成本，降低測(cè)試專業(yè)知識(shí)要求，增加數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度，為企業(yè)提供專業(yè)決策的數(shù)據(jù)支持，從而降本增效。測(cè)試設(shè)備：普源示波器HDO4404、普源電子負(fù)載DL3031A、普源電源DP832、普源數(shù)字萬(wàn)用表DM3068、納米BOX、ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)測(cè)試內(nèi)容：本次測(cè)試將示波器、電子負(fù)載、電源、萬(wàn)用表通過(guò)納米BOX連接到服務(wù)器上，在通過(guò)ATECLOUD的指令控制儀器對(duì)電源模塊進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，本次測(cè)試的項(xiàng)目包括空載測(cè)紋波、空

解決方案|模擬/混合IC集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)NSAT-20002023/01/05: 模擬/混合集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要是指針對(duì)以模擬信號(hào)電路、混合信號(hào)電路(以模擬為主，數(shù)字為輔)為主的集成電路測(cè)試而設(shè)計(jì)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，被測(cè)電路主要包括電源管理器件(如線性穩(wěn)壓器、脈寬調(diào)制控制器、充電電路、DC-DC轉(zhuǎn)換器等)、高精度模擬器件(如運(yùn)算放大器、視頻/音頻放大器、濾波器、鎖相環(huán)等)、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器(如AV/D轉(zhuǎn)換器、D/A轉(zhuǎn)換器等)、汽車電子(如功率放大器、各類驅(qū)動(dòng)器等)和分立器件(如MOSFET、IGBT等)。目前，國(guó)際上主要的模擬/混合集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有美國(guó)泰瑞達(dá)(Teradyne

解決方案|Keithley吉時(shí)利源表測(cè)試軟件的典型應(yīng)用及案例介紹2023/01/05: 數(shù)字源表又稱源測(cè)量單元(SMU)，是數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)、電壓源、實(shí)際電流源、電子負(fù)載和脈沖發(fā)生器的有用功能集成在儀器中，相當(dāng)于電壓源、電流源、電壓表、電流表和電阻表的綜合體可以作為四象限電壓源或電流源提供精確的電壓或電流，同時(shí)測(cè)量電流值或電壓值。目前市面上常用的如吉時(shí)利Keithley源表2400、2450、2600系列等，為了將源表的實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行保存，并繪制相應(yīng)的測(cè)試曲線圖，一般可搭配源表測(cè)試軟件NS-SourceMeter進(jìn)行使用。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享吉時(shí)利

納米軟件分享：為什么要進(jìn)行電池充放電測(cè)試？電池充放電系統(tǒng)測(cè)試步驟2023/01/05: 在日常生活中電能一直是我們接觸過(guò)的最為方便的能源，而我們也通過(guò)各種方法對(duì)電能進(jìn)行儲(chǔ)存從而讓我們能隨時(shí)隨地的使用這種能源，比如手機(jī)中的鋰電池、電動(dòng)車中的充電電池等。充電鋰電池經(jīng)過(guò)多年的技術(shù)革新，綜合性能不斷提升，已經(jīng)應(yīng)用在了非常多的領(lǐng)域，但正因?yàn)槿绱?，?duì)電池的進(jìn)行全面的測(cè)試非常有必要，因?yàn)殇囯姵卦诔浞烹姷倪^(guò)程中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)各種事故，導(dǎo)致人身傷害和財(cái)產(chǎn)損失。所以在電池的各項(xiàng)測(cè)試中，電池放電測(cè)試是其中重要的一環(huán)。電池的放電測(cè)試對(duì)電池循環(huán)壽命，放電性能評(píng)估有很大的幫助。一般來(lái)說(shuō)，電池的性能受電池溫度、電池

LABVIEW/BenchVue/ATECLOUD，儀器控制測(cè)試軟件2023/01/05: 儀器到手了，軟件沒(méi)有？如何保存數(shù)據(jù)？導(dǎo)出波形？還要自動(dòng)測(cè)試？各位工程師們，今天納米軟件Namisoft小編隆重為你推薦幾款可以輕松進(jìn)行儀器控制和自動(dòng)控制的幾款測(cè)試軟件。它們能解決工作臺(tái)測(cè)試的眾多問(wèn)題，通過(guò)簡(jiǎn)化儀器的連接和控制，將執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試序列變得更加簡(jiǎn)單，您能夠快速完成測(cè)試程序開發(fā)，比此前更快獲得測(cè)量結(jié)果。1、LABVIEW誕生于1986年的圖形編程語(yǔ)言LabVIEW，至今已經(jīng)整整36個(gè)年頭了，在編程語(yǔ)言歷史長(zhǎng)河中已經(jīng)算是爺爺輩的老牌古董編程語(yǔ)言了！1984年的蘋果劃時(shí)代的圖形化電腦Maci

什么是芯片老化測(cè)試？芯片老化測(cè)試系統(tǒng)NSAT-2000解決方案2023/01/05: 時(shí)間：2022-12-2849隨著半導(dǎo)體電子技術(shù)的進(jìn)步，老化測(cè)試已成為保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵流程。除了半導(dǎo)體元件外，PCB、IC和處理器部件也都需要在老化條件下進(jìn)行測(cè)試。本篇文章納米軟件Namisoft小編將帶大家分享一下關(guān)于芯片老化測(cè)試系統(tǒng)的相關(guān)知識(shí)。一、什么是芯片老化測(cè)試？芯片老化測(cè)試是一種采用電壓和高溫來(lái)加速器件電學(xué)故障的電應(yīng)力測(cè)試方法。老化過(guò)程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個(gè)壽命，因?yàn)槔匣^(guò)程中應(yīng)用的電激勵(lì)反映了芯片工作的最壞情況。根據(jù)不同的老化時(shí)間，所得資料的可靠性可能涉及到的器件的早期壽命或磨損

納米軟件分享：為什么需要對(duì)電子器件進(jìn)行絕緣耐壓測(cè)試？2022/12/30: 在電氣設(shè)備和器件的運(yùn)行器件，始終會(huì)處于各種外界因素的影響之下，因此這些電子器件的性能也會(huì)不斷發(fā)生相應(yīng)的變換，在高壓、電場(chǎng)等環(huán)境中，這些射頻器件會(huì)出現(xiàn)一系列的故障，從而導(dǎo)致運(yùn)行問(wèn)題與中斷。所以在這些射頻器件出廠時(shí)都會(huì)進(jìn)行耐壓絕緣測(cè)試，以確保在使用過(guò)程中安全穩(wěn)定。電子器件的絕緣耐壓性如果出現(xiàn)問(wèn)題，不僅會(huì)造成運(yùn)行故障，有時(shí)甚至?xí)?duì)人體造成傷害，所以針對(duì)器件的絕緣耐壓測(cè)試是不可少的環(huán)節(jié)。而在電子器件的絕緣耐壓測(cè)試中主要的測(cè)試項(xiàng)目有：1、直流/交流耐壓試驗(yàn)2、介質(zhì)損耗正切角試驗(yàn)3、絕緣電阻試驗(yàn)4、諧振耐壓

納米軟件分享：光伏逆變器ATE測(cè)試系統(tǒng)，逆變器測(cè)試解決方案2022/12/29: 光伏并網(wǎng)逆變器（以下簡(jiǎn)稱“逆變器”）是光伏發(fā)電系統(tǒng)的核心部件之一，其主要功能是將光伏陣列的直流逆變?yōu)榉想娋W(wǎng)接入要求的交流電并入電網(wǎng)。并網(wǎng)逆變器ATE測(cè)試平臺(tái)，主要是模擬光伏陣列特性輸入的直流電源、模擬電網(wǎng)電源、系統(tǒng)控制設(shè)備以及高精度測(cè)量設(shè)備，輔以配置靈活、操作簡(jiǎn)單的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試逆變器的電氣性能，主要應(yīng)用于光伏逆變器等出廠測(cè)試、研發(fā)測(cè)試、認(rèn)證測(cè)試。光伏并網(wǎng)逆變器ATE測(cè)試系統(tǒng)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)如下圖所示：ATE系統(tǒng)中，包含交流電網(wǎng)模擬電源、光伏陣列IV模擬器或光伏IV模擬直流電源、測(cè)試系統(tǒng)柜，同時(shí)可

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