FT110 X射線熒光鍍層厚度測量儀的主要特征：
1.FT110 X射線熒光鍍層厚度測量儀通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大提高樣品定位的操作性。
2.微區(qū)膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3.多達(dá)5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進行多達(dá)5層10元素的多鍍層測量。
4.廣域觀察系統(tǒng)（選配）可從大250×200mm的樣品整體圖像測量位置。
5.對應(yīng)大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。
6.低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。
［主要產(chǎn)品規(guī)格］
檢測器比例計數(shù)管
X射線源空冷式小型X射線管
準(zhǔn)直器0.1、0.2mmφ2種
樣品觀察CCD攝像頭
樣品臺移動量250（X）×200（Y）mm
樣品大高度150mm