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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀>F32 Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀

F32 Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 優(yōu)尼康科技有限公司
  • 品牌 KLA-Tencor
  • 型號(hào) F32
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/6/24 14:13:01
  • 訪問次數(shù) 3941

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優(yōu)尼康科技有限公司成立于 2012 年。在香港、上海、東莞、天津、成都和蘇州設(shè)有分支機(jī)構(gòu)或辦公室。從成立伊始一直專注于精密薄膜測量領(lǐng)域,為半導(dǎo)體、面板等高科技企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供精密測量設(shè)備與解決方案。我們秉承“真誠,專注,信賴”的理念,用我們真誠的態(tài)度與行動(dòng)服務(wù)客戶,專注于為客戶提供好品質(zhì)、適合用戶需求的產(chǎn)品,與每一位客戶建立互相信賴的合作伙伴關(guān)系。我們真誠希望與大家共同成長,共同發(fā)展,一起創(chuàng)造美好的明天。







主動(dòng)式減震臺(tái),Profilm3D光學(xué)輪廓儀,Filmetrics膜厚測量儀,薄膜厚度測量儀,粗糙度測量,輪廓測量,橢偏儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,鋼鐵/金屬

Filmetrics F32 光反射式膜厚儀




Filmetrics F32 光反射式膜厚儀產(chǎn)品介紹:

Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤,加上附加的分光計(jì),可達(dá)到四個(gè)不同的位置(EXR和UVX版本至多兩個(gè)位置)。F32膜厚儀軟件可以通過數(shù)字I/O或主機(jī)軟件來控制啟動(dòng)/停止/復(fù)位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動(dòng)導(dǎo)出到主機(jī)軟件中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制。還提供可選的透鏡組件,以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。



Filmetrics F32 光反射式膜厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢(shì):

  • 非接觸測量:避免損傷薄膜,適用于脆弱或敏感材料;

  • 高精度與寬量程&:垂直分辨率達(dá)納米級(jí),可測厚度范圍從1nm至3mm;

  • 多場景適用性:基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。

  • 測量速度快:配置完成后,數(shù)秒內(nèi)即可完成測量。

  • 預(yù)裝了100多種材料,使得單層和多層薄膜的測量很容易實(shí)現(xiàn)

  • 提供可選的透鏡組件,以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。


Filmetrics F32 光反射式膜厚儀產(chǎn)品測量原理:

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射,由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。



Filmetrics F32 光反射式膜厚儀產(chǎn)應(yīng)用與膜層范例:

薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

薄膜種類:透明及半透明薄膜,常見如氧化物、聚合物甚至空氣

薄膜狀態(tài):固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量

薄膜結(jié)構(gòu):單層膜、多層膜;平面、曲面



Filmetrics F32 光反射式膜厚儀產(chǎn)品常見工業(yè)應(yīng)用:

半導(dǎo)體膜層

顯示技術(shù)

消費(fèi)電子

派瑞林

光刻膠

OLED

防水涂層

電子產(chǎn)品/電路板

介電層

ITO和TCOs

射頻識(shí)別

磁性材料

砷化鎵

空氣盒厚

太陽能電池

醫(yī)學(xué)器械

微機(jī)電系統(tǒng)

PVD和CVD

鋁制外殼陽極膜

硅橡膠



Filmetrics F32 光反射式膜厚儀產(chǎn)品參數(shù):

波長范圍:

380-1050nm

光源:

鹵素?zé)?/span>

厚度測量范圍:

15nm-70um

測量精度:

0.02nm

光斑大?。?/span>

探頭距樣品距離0.007倍

樣品臺(tái)尺寸:

1mm-300mm



Filmetrics F32 光反射式膜厚儀測量圖:





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