1概覽

The leading nano metrology tool for failure analysis and large sample research

作為一位失效分析工程師，您的任務(wù)是提供結(jié)果。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯(cuò)誤的存在。Park NX20，這架精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，在半導(dǎo)體和硬盤行業(yè)中大受贊揚(yáng)。

More powerful failure analysis solutions

Park NX20具備無二的功能，可輕易找出儀器失效的原因并幫助制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。的精密度為您帶來高分辨率數(shù)據(jù)，讓您能夠更加專注于工作。與此同時(shí)，True Non-Contact™掃描模式讓探針*更鋒利、更耐久，無需為頻繁更換而耗費(fèi)大量的時(shí)間和金錢。

Easy to use, even for entry level engineers

Park NX20原子力顯微鏡擁有業(yè)界較為便捷的設(shè)計(jì)和自動(dòng)界面，讓你在使用時(shí)無需花費(fèi)大量的時(shí)間和精力，也不用為此而時(shí)時(shí)監(jiān)督初級(jí)工師。借助這一系列特點(diǎn)，您可以更加專注于解決更為重大的問題并為客戶提供及時(shí)且富有洞察力的失效分析。

2技術(shù)信息

Accurate AFM Solutions for FA and Research Laboratories

Sidewall measurements for 3D structure study

Park NX20原子力顯微鏡的創(chuàng)新構(gòu)造讓您可以檢測(cè)樣品的側(cè)壁和表面，并能夠測(cè)量角度。眾多的功能和用途正是您的創(chuàng)新性研究和敏銳洞察力所*的。