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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設(shè)備>光學顯微鏡>其它顯微鏡>AFSEM Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡

AFSEM Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 優(yōu)尼康科技有限公司
  • 品牌 Nanosurf
  • 型號 AFSEM
  • 產(chǎn)地 瑞士
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2025/6/25 11:21:55
  • 訪問次數(shù) 3168

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優(yōu)尼康科技有限公司成立于 2012 年。在香港、上海、東莞、天津、成都和蘇州設(shè)有分支機構(gòu)或辦公室。從成立伊始一直專注于精密薄膜測量領(lǐng)域,為半導體、面板等高科技企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供精密測量設(shè)備與解決方案。我們秉承“真誠,專注,信賴”的理念,用我們真誠的態(tài)度與行動服務客戶,專注于為客戶提供好品質(zhì)、適合用戶需求的產(chǎn)品,與每一位客戶建立互相信賴的合作伙伴關(guān)系。我們真誠希望與大家共同成長,共同發(fā)展,一起創(chuàng)造美好的明天。







主動式減震臺,Profilm3D光學輪廓儀,Filmetrics膜厚測量儀,薄膜厚度測量儀,粗糙度測量,輪廓測量,橢偏儀

產(chǎn)地類別 進口 應用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡




Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡產(chǎn)品介紹:

Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯(lián)合兩種功能強大的分析工具,原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM),構(gòu)造真實的三維表面形貌,精確地測量高度信息、距離信息甚至材料屬性,但同時保持了在SEM的大范圍視場里定位AFSEM懸臂梁到您想要測量的準確位置上。進而大大地擴展了您的相關(guān)顯微鏡測量與分析的可行性。



Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡產(chǎn)品特點:

  • 實時在您的真空環(huán)境中進行AFM分析

  • 方便集成在SEM中進行相關(guān)AFM分析

  • 兼容于大多數(shù)電鏡而不影響SEM正常操作

  • 可適配真空腔室環(huán)境兼容大氣環(huán)境測量

  • 操作簡便而直觀



Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡產(chǎn)品優(yōu)勢:

實時在您的電鏡中進行AFM分析

原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM)的互為補充可以對您的樣品進行的表征成為可能。AFSEM可以讓您同時對您的樣品進行高分辨成像,構(gòu)造真實的三維表面形貌,精確地測量高度信息、距離信息甚至材料屬性,但同時保持了在SEM的大范圍視場里定位AFSEM懸臂梁到您想要測量的準確位置上。優(yōu)化的AFSEM工作流(不影響SEM正常運行)確保了高效的操作,而強大的控制軟件可以實現(xiàn)智能化的測量、系統(tǒng)操作與數(shù)據(jù)分析。


SEM-AFM相關(guān)性分析

對于產(chǎn)品或材料分析,我們總是期望利用多種技術(shù)來進行樣品分析,而且尋求參數(shù)之間的相關(guān)性,而像原子力顯微鏡(AFM)與掃描電鏡(SEM)這類成像技術(shù),我們就希望在同一個準確的位置進行分析!


同步于AFM與SEM的多種其他分析技術(shù)工具

因為AFSEM設(shè)計保持了全部的SEM功能性,它就可以聯(lián)合其他的一些標準的SEM分析技術(shù)如FIB,F(xiàn)EBID與EDX等,樣品無需掃描,而且相對重的或定制的樣品臺,比如張力牽拉臺、納米壓痕臺等,都可以輕松地聯(lián)合在AFSEM中。


兼容于大多數(shù)電鏡而不影響SEM正常操作

AFSEM適配于大多數(shù)SEM或雙光束系統(tǒng)(SEM/FIB):它直接地安裝在系統(tǒng)腔室的門上,而不改變樣品臺自身。而且狹小的針尖掃描設(shè)計配合了自感應探針系統(tǒng)在電子柱的頂部與樣品之間只需要4.5 mm空間即可。所以AFSEM能兼容于大部分標準的與可選的樣品臺,而且?guī)缀蹩梢蕴幚砟芊胚M系統(tǒng)腔室的任何一個樣品。這種設(shè)計可以在電鏡中實現(xiàn)亞納米級別臺階高度的測量.


操作簡便而直觀

AFSEM提供了操作的靈活性與智能化定位,三軸粗定位臺移動探針進入或者離開SEM的視場中的位置并定位探針到感興趣的位置,SEM樣品臺橫向移動樣品為方便AFSEM與SEM測量:垂直方向上,AFM與可以與樣品一起移動,可以讓您安全地安全地上下移動樣品而不會撞壞AFM探針。通過一個訂制的適配板與電路密封件可以在SEM里實現(xiàn)AFSEM的安裝,AFSEM可以通過僅僅四個螺絲就可以安裝或拆下下來,整個過程可以不到五分鐘,可以快速與方便的集成或從系統(tǒng)中移除。探針都預安裝在一個標準的接口上,可以快速實現(xiàn)探針更換,因此大大節(jié)省了系統(tǒng)的down機時間。因為自感應探針技術(shù)與自動化探針定位調(diào)整,AFSEM系統(tǒng)馬上就可以開始進行操作.



Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡部件與附件:

  • AFSEM 測量頭

  • AFSEM工具套裝(包含探針)

  • 定位AFSEM測量頭用XYZ樣品臺+SEM定制適配板與密封間法蘭

  • 控制器、高壓放大器、計算機(在一個控制柜里)+軟件

  • AFSEM探針



Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡常見測量模式:

靜態(tài)力成像

動態(tài)力成像

相位成像

導電力原子力顯微鏡(C-AFM)

力譜測量

力調(diào)制成像




Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡圖:










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