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EmiosAT-1500 非接觸式膜厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號 EmiosAT-1500
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2020/6/16 10:58:15
  • 訪問次數(shù) 2439

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


大塚電子(蘇州)有限公司成立于20074月,致力于讓中國客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)與生產(chǎn)的測量與分析設(shè)備。

我們的產(chǎn)品涵蓋LED、OLED等光源和照明行業(yè),產(chǎn)品包括有液晶和有機(jī)EL顯示行業(yè)的光學(xué)特性評估與檢測設(shè)備;用于測量半導(dǎo)體晶圓和薄膜化學(xué)品厚度的設(shè)備;以及評估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒(粒徑和ζ電位測量)設(shè)備,這些設(shè)備均應(yīng)用了我們的“光”技術(shù)。

在日本,我們的產(chǎn)品擁有眾多交付實(shí)績。為提供全面的售前和售后支持,我們設(shè)立了技術(shù)和維護(hù)中心,努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關(guān)懷和價值的服務(wù)。

我們致力于不斷提升產(chǎn)品價值和支持服務(wù),做到讓客戶能主動向他人推薦大塚電子的產(chǎn)品。

我們是大塚集團(tuán)的一員,繼承了集團(tuán)的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide

以及大塚集團(tuán)歷代的3個思想,即「流汗悟道」「實(shí)證」「創(chuàng)造性」,并以此行動。我們推出創(chuàng)新產(chǎn)品,開展業(yè)務(wù),為社會做出貢獻(xiàn)。

對于那些挑戰(zhàn)可能性邊界的人來說,天空是無限的。超越它,就會有一個全新的前沿世界。

利用大塚電子的技術(shù)“光”的力量,為業(yè)界提供解決方案是我們的使命。

Otsuka-people creating new products for better health worldwide

傳承大塚的“實(shí)證與創(chuàng)造”精神,時刻為了實(shí)踐“因?yàn)槭谴髩V所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號而努力奮斗。

大塚電子,通過革新的且富有創(chuàng)造性的產(chǎn)品(設(shè)備)服務(wù),在「健康和生活」的領(lǐng)域,不斷地為人民的生活做著貢獻(xiàn)。



zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 20萬-50萬
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,電子/電池,汽車及零部件

 非接觸式光學(xué)膜厚儀

 

非接觸式膜厚儀Eimos設(shè)備操作簡單,放置樣品即可測量的。一步到位。

縮短檢查工程,無標(biāo)準(zhǔn)曲線,精度高,分辨率高,輕松測量樣品的厚度。

光學(xué)方式為大冢電子*,不僅外形小巧,無論透明、粗糙還是易變形的樣品,都可以實(shí)現(xiàn)非接觸式的高精度測量。

 

非接觸式膜厚儀特點(diǎn):

  • 非接觸式測量不透明、粗糙,易變形的樣品
  • 反復(fù)性,再現(xiàn)性高
  • 無標(biāo)準(zhǔn)曲線也可知道厚度
  • 測量徑很小,不受斑點(diǎn)的影響
  • 樣品位置無需調(diào)整,放進(jìn)去即可。
  • 穩(wěn)定性高,不會產(chǎn)生誤差,所以誰都能操作。
  • 光學(xué)方式原理所以安全


式樣

 AT-1500
厚度范圍10μm~1.5mm
重復(fù)性0.1μ(2σ)以下(測量1nm的guage black)
樣品尺寸

小Φ10mm,大100mm

(測量位置在中間部)

測量徑約50μm
測量時間1秒以下
裝置尺寸·重量

W300×D364×H400(mm)·20(kg)

(本體部:開發(fā)過程中可能發(fā)生變更)

電源                                AC100-220V/200V

 

構(gòu)成圖/原理

1)構(gòu)成圖

任何人都會使用大塚電子非接觸式光學(xué)膜厚儀 Eimos進(jìn)行測量

1STEP-01.jpg

1STEP-02.jpg

2)原理

將光分別照射樣品上下部
測量距離基準(zhǔn)面的距離。
d=dall-(d1+d2)
ncftm2_2.gif

比較測量方法

樣品例子和測量方法的比較

 非接觸光學(xué)膜厚儀接觸式膜厚儀X線式膜厚儀変位計
樣品凝膠片×
不織布××
金屬板
樹脂
多孔質(zhì)×
陶瓷×
紙?木×
測量

測量時間○ 高速
非接觸測量○ 非接觸×
前處理○ 不要×

測量案例

ncftm4-1.gif

ncftm4-2.gif

ncftm4-3.gif

 關(guān)聯(lián)產(chǎn)品



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