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布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級(jí)測(cè)量新選擇

參考價(jià) 900000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京儀光科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地 德國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/8/20 13:49:04
  • 訪問次數(shù) 20

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  北京儀光科技,專注顯微形貌分析!
  北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺(tái)式掃描電鏡/臺(tái)階儀/電鏡原位分析、各進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機(jī)、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設(shè)備、顯微相機(jī)、冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、光學(xué)平臺(tái)等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測(cè)等全套分析檢測(cè)解決方案。
  我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國(guó)徠卡等進(jìn)口及國(guó)產(chǎn)各類型光學(xué)顯微鏡、安徽澤攸臺(tái)式掃描電鏡&臺(tái)階儀&電鏡原位分析、美國(guó)RMC超薄切片機(jī)/半薄切片機(jī)、德國(guó)蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國(guó)Linkam冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、防震平臺(tái)等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車、工業(yè)材料、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測(cè)分析等各個(gè)行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為科研和工業(yè)等用戶提供專業(yè)、全面的顯微形貌分析應(yīng)用解決方案。
  愿景:讓科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效!
  使命:為材料用戶提供準(zhǔn)確、可靠、全面的毫米級(jí)到納米級(jí)樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

 

西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析、徠卡等光學(xué)顯微鏡、RMC超薄切片機(jī)、Linkam冷熱臺(tái)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合

布魯克 Dimension Edge 白光干涉光學(xué)輪廓儀,專注納米級(jí)微觀測(cè)量,為高精度檢測(cè)需求提供支持。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級(jí)測(cè)量新選擇
產(chǎn)品細(xì)節(jié)
Dimension Edge 設(shè)計(jì)精密,機(jī)身帶有防震減震裝置。操作界面專業(yè),支持多種高級(jí)測(cè)量模式設(shè)置,滿足復(fù)雜樣品檢測(cè)需求。樣品臺(tái)采用壓電驅(qū)動(dòng),移動(dòng)精度高,可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)定位。
產(chǎn)品性能
測(cè)量分辨率高,能捕捉納米級(jí)表面起伏與缺陷。采用先進(jìn)干涉算法,數(shù)據(jù)處理精準(zhǔn),對(duì)超光滑表面測(cè)量效果突出。支持長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)量,性能穩(wěn)定性較好。
用材講究
核心干涉組件采用特殊光學(xué)材料,保證干涉信號(hào)穩(wěn)定。驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)選用高精度壓電陶瓷,實(shí)現(xiàn)微納米級(jí)位移控制。設(shè)備內(nèi)部線路采用屏蔽設(shè)計(jì),減少電磁干擾。
參數(shù)詳情
參數(shù)項(xiàng)
具體數(shù)值
縱向分辨率
可達(dá) 0.1nm
樣品臺(tái)移動(dòng)精度
±1nm
測(cè)量范圍
縱向最大 100μm
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
支持大容量數(shù)據(jù)保存
工作濕度
30% - 60% RH
廣泛用途
適用于光學(xué)薄膜厚度測(cè)量、納米涂層質(zhì)量檢測(cè)、高精度傳感器表面形貌分析等高精度場(chǎng)景,為前沿技術(shù)研發(fā)提供數(shù)據(jù)支持。
使用說明
需在恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室使用,遠(yuǎn)離磁場(chǎng)與振動(dòng)源。測(cè)量前對(duì)設(shè)備進(jìn)行精細(xì)校準(zhǔn),使用專用樣品固定工具。操作人員需經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn),熟悉高級(jí)功能設(shè)置。測(cè)量完成后,妥善保存數(shù)據(jù),定期進(jìn)行設(shè)備標(biāo)定。

布魯克這四款白光干涉光學(xué)輪廓儀,針對(duì)不同場(chǎng)景設(shè)計(jì),憑借各自特點(diǎn)滿足科研、桌面檢測(cè)、工業(yè)生產(chǎn)、高精度測(cè)量等多樣需求,為微觀測(cè)量領(lǐng)域提供可靠支持。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級(jí)測(cè)量新選擇



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