納米探針科技對(duì)單個(gè)晶體管進(jìn)行電性測(cè)試,新一代 Thermo Scientific™ Hyperion II Nanoprober 是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米探針量測(cè)量?jī)x。該儀器消除了基于 SEM 納米探測(cè)技術(shù)的真空要求和電子束/樣品相互作用。
Hyperion II 的自動(dòng)化操作和成像模式使其快速、易于使用,而其精確定位電性缺陷的能力極大地提高了后續(xù)雙束束或透射電子顯微鏡分析的速度和效率。
產(chǎn)品經(jīng)理 Sean Zumwalt 在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行介紹
立即詢(xún)價(jià)
您提交后,專(zhuān)屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)