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2023
11-08

脈沖IV測(cè)試系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)
隨著電動(dòng)汽車(chē)和可再生能源產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，電池性能測(cè)試和評(píng)估變得尤為重要。脈沖IV測(cè)試系統(tǒng)作為一種先進(jìn)的電池測(cè)試技術(shù)，能夠高效、精確地檢測(cè)電池的電化學(xué)性能和健康狀態(tài)。脈沖IV測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)向電池施加一系列脈沖電流，并測(cè)量相應(yīng)的電壓響應(yīng)，來(lái)評(píng)估電池的電化學(xué)性能。這種測(cè)試方法模擬了實(shí)際使用條件下電池的動(dòng)態(tài)行為，能夠更準(zhǔn)確地反映電池的實(shí)際性能。相比傳統(tǒng)的DC(直流)測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有更高的測(cè)試效率和精度，同時(shí)還能檢測(cè)出電池內(nèi)部的故障和問(wèn)題。系統(tǒng)由硬件和軟件兩部分組成。硬件部分包括電源、測(cè)試夾具和數(shù)據(jù)采集
2023
10-24

高低溫探針臺(tái)是研究超導(dǎo)和低溫物理的重要工具
高低溫探針臺(tái)是一種在超導(dǎo)和低溫環(huán)境下進(jìn)行科學(xué)研究的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，對(duì)于研究超導(dǎo)和低溫物理具有重要意義。超導(dǎo)現(xiàn)象是指某些材料在低溫下電阻為零的現(xiàn)象，而低溫環(huán)境則是實(shí)現(xiàn)這一現(xiàn)象的重要條件。它的主要作用是在超導(dǎo)和低溫環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行測(cè)量和分析。它可以在極低的溫度下對(duì)材料進(jìn)行測(cè)量，并且可以在測(cè)量過(guò)程中對(duì)溫度進(jìn)行精確控制，從而獲得更準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。高低溫探針臺(tái)的結(jié)構(gòu)包括以下幾個(gè)部分：制冷系統(tǒng)：需要使用制冷劑來(lái)制造低溫環(huán)境，通常使用液氦或液氮作為制冷劑。制冷系統(tǒng)包括一個(gè)低溫容器和一套制冷設(shè)備，用于將溫度降低到所需
2023
10-16

高低溫探針臺(tái)的構(gòu)造與工作原理
高低溫探針臺(tái)是一種用于材料科學(xué)、物理、化學(xué)等領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，主要用于在高溫和低溫環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行各種實(shí)驗(yàn)和研究。下面是它的構(gòu)造和工作原理。一、主要包括以下幾個(gè)部分：制冷系統(tǒng)：通常采用液氦或制冷機(jī)等制冷技術(shù)，將溫度降低到極低的溫度范圍，以適應(yīng)低溫實(shí)驗(yàn)的要求。加熱系統(tǒng)：為了在不同的溫度下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，高低溫探針臺(tái)通常配備有加熱系統(tǒng)，例如電熱絲或電阻爐等加熱裝置。溫度控制系統(tǒng)：通常采用先進(jìn)的溫度控制系統(tǒng)，如PID控制器或模糊邏輯控制器等，以實(shí)現(xiàn)對(duì)溫度的精確控制和穩(wěn)定。探針臺(tái)：通常配備有各種類(lèi)型的探針，如電
2023
09-24

芯片分選機(jī)實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)化操作
芯片分選機(jī)是一種用于將不同規(guī)格、型號(hào)和質(zhì)量的芯片自動(dòng)分揀和分類(lèi)的設(shè)備。它主要由供料裝置、分選裝置和收集裝置等組成，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)芯片的高效、準(zhǔn)確分選。它廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子制造等領(lǐng)域中，為實(shí)現(xiàn)大規(guī)模、高效的生產(chǎn)提供了重要的技術(shù)支持。供料裝置是設(shè)備的入口，它通過(guò)振動(dòng)盤(pán)、料倉(cāng)等將芯片按照預(yù)設(shè)的軌道進(jìn)行排列，并將其送入分選裝置。分選裝置是核心部分，它通過(guò)一系列的傳感器、電磁鐵和機(jī)械手等部件，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片的識(shí)別、分類(lèi)和分揀。根據(jù)芯片的不同規(guī)格、型號(hào)和質(zhì)量，分選裝置會(huì)將其送入不同的收集裝置中。收集裝置是設(shè)備的
2023
09-18

全自動(dòng)探針臺(tái)的結(jié)構(gòu)包括以下幾個(gè)主要部分
全自動(dòng)探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體行業(yè)的重要設(shè)備，主要用于在制造集成電路的過(guò)程中對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證。探針是用來(lái)與芯片上的接觸點(diǎn)進(jìn)行接觸并測(cè)試其性能的工具，而探針臺(tái)則是用于控制探針的精確位置和操作，以及進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和處理的重要設(shè)備。全自動(dòng)探針臺(tái)的結(jié)構(gòu)包括以下幾個(gè)主要部分：機(jī)械系統(tǒng)：機(jī)械系統(tǒng)是核心部分，它包括一個(gè)精密的XYZ坐標(biāo)系，用于控制探針的移動(dòng)。這個(gè)坐標(biāo)系通常由高精度的直線導(dǎo)軌、伺服電機(jī)和光學(xué)編碼器組成。此外，機(jī)械系統(tǒng)還包括一個(gè)可以容納多個(gè)探針的探針座，以及一個(gè)可以自動(dòng)更換探針的裝置。光學(xué)系統(tǒng)：光
2023
08-25

高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)是精確測(cè)試與可靠性驗(yàn)證的關(guān)鍵設(shè)備
高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)是一種用于進(jìn)行溫度相關(guān)測(cè)試和可靠性驗(yàn)證的關(guān)鍵設(shè)備。本文將介紹該設(shè)備的作用、原理以及在科研和工業(yè)領(lǐng)域中的重要性。在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中，溫度對(duì)于材料和器件的性能具有重要影響。高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)提供了一個(gè)控制溫度環(huán)境的平臺(tái)，使得研究人員和工程師能夠?qū)Σ牧?、電子元件等進(jìn)行精確的溫度相關(guān)測(cè)試。這些測(cè)試可以包括電特性測(cè)量、熱傳導(dǎo)性能評(píng)估、溫度應(yīng)力測(cè)試等。該設(shè)備的基本原理是通過(guò)加熱和冷卻系統(tǒng)控制探針臺(tái)上的溫度，并通過(guò)測(cè)量和監(jiān)控溫度變化來(lái)實(shí)現(xiàn)精確的控制。半自動(dòng)探針臺(tái)通常配備有多個(gè)探針接口，可
2023
08-14

MPI探針臺(tái)：高效無(wú)損檢測(cè)解決方案
MPI探針臺(tái)是一種專(zhuān)用設(shè)備，用于進(jìn)行磁粉無(wú)損檢測(cè)。磁粉無(wú)損檢測(cè)是一種常用的材料和零部件質(zhì)量檢測(cè)方法，通過(guò)利用磁場(chǎng)和磁粉的相互作用，檢測(cè)材料中的表面和近表面缺陷。結(jié)合了先進(jìn)的磁粉無(wú)損檢測(cè)技術(shù)和高效的自動(dòng)化操作，提供了一種快速、準(zhǔn)確的無(wú)損檢測(cè)解決方案。工作原理是利用磁場(chǎng)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行磁化，然后施加磁粉，通過(guò)觀察磁粉在缺陷處的聚集情況來(lái)判斷是否存在缺陷。探針臺(tái)通過(guò)控制磁場(chǎng)的強(qiáng)度和方向，以及磁粉的施加方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物體的全面檢測(cè)。同時(shí)，探針臺(tái)配備了高分辨率的圖像采集系統(tǒng)和圖像處理軟件，可以對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)
2023
04-20

探針臺(tái)主要檢測(cè)什么？
一、半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。二、維護(hù)與保養(yǎng)：(1)相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。(2)由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±
2023
03-15

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備的簡(jiǎn)介
一、應(yīng)用原理：(1)探針卡(probecard)探針卡是自動(dòng)測(cè)試機(jī)與待測(cè)器件(DUT)之間的接口,在電學(xué)測(cè)試中通過(guò)探針傳遞進(jìn)出wafer的電流。(2)探針臺(tái)(prober)因此測(cè)試對(duì)于檢驗(yàn)芯片的功能性來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)非常重要的工作,硅片測(cè)試能夠分辨一個(gè)好的芯片和一個(gè)有缺陷的芯片。RDON是VDMOS在導(dǎo)通狀態(tài)下漏源之間的導(dǎo)通電阻。二、發(fā)展背景介紹：(1)半導(dǎo)體檢測(cè)貫穿半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝三大流程。半導(dǎo)體制造工藝十分復(fù)雜，包含成百上千道工序，每一道出錯(cuò)都可能影響芯片功效。為了提高良率、控制成本，需
2023
01-13

什么是微波射頻測(cè)量設(shè)備
一、包含有太赫茲有源負(fù)載牽引系統(tǒng)、Maury微波校準(zhǔn)件、Maury微波適配器、微波射頻測(cè)試附件、波導(dǎo)轉(zhuǎn)接頭、同軸轉(zhuǎn)接頭、高速調(diào)諧器Tuner、自動(dòng)阻抗調(diào)諧器、負(fù)載牽引、Loadpull、阻抗-MT2000混合信號(hào)有源負(fù)載牽等。二、直流電源的基本功能是提供穩(wěn)定純凈的直流電源，設(shè)置電壓源或電流源，功率分析測(cè)量功能，監(jiān)測(cè)輸出電壓和電流，輸出電壓、電流、功率變化的高速分析采集記錄輸出電壓波形編輯，負(fù)載變化快速恢復(fù)功能脈沖電源設(shè)置。三、功率計(jì)是射頻信號(hào)功率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。功率計(jì)不能區(qū)分信號(hào)頻率，測(cè)量工作帶
2023
01-10

探針臺(tái)探針的三種清洗方法
探針臺(tái)探針是電測(cè)試的接觸媒介，為電子五金元器件。探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針?lè)胖迷诠杈?，從而可以與測(cè)試儀器、半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來(lái)測(cè)試芯、半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查。也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測(cè)試?？梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過(guò)程中多次測(cè)試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開(kāi)
2023
01-06

ESD測(cè)試介紹
ESD測(cè)試即靜電放電測(cè)試。ESD測(cè)試在芯片和系統(tǒng)設(shè)計(jì)中是一項(xiàng)很重要的指標(biāo)，通常暴露在外面的接口更要注意靜電防護(hù)。靜電放電(ESD)是一種自然現(xiàn)象，經(jīng)驗(yàn)表明，人在合成纖維的地毯上行走時(shí)，通過(guò)鞋子與地毯的摩擦，只要行走幾步，人體上積累的電荷就可以達(dá)到10-6庫(kù)侖以上(這取決于鞋子與地毯之間的電阻)，在這樣一個(gè)"系統(tǒng)"里(人/地毯/大地)的平均電容約為幾十至上百pF，可能產(chǎn)生的電壓要達(dá)到15kV。研究不同的人體產(chǎn)生的靜電放電，會(huì)有許多不同的電流脈沖，電流波形的上升時(shí)間在100ps至30ns之間。工程師
2022
12-16

晶圓探針臺(tái)的檢測(cè)流程
晶圓探針臺(tái)是在半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程中用于檢測(cè)晶圓電氣特性的設(shè)備。電氣測(cè)試包括通過(guò)探針或探針卡將測(cè)試信號(hào)從測(cè)定器或測(cè)試儀發(fā)送到晶圓上的各個(gè)器件，并得到各器件的信號(hào)反饋。這個(gè)時(shí)候，用于晶圓搬送并與事先設(shè)定的位置進(jìn)行接觸的設(shè)備稱(chēng)為晶圓探針臺(tái)。它能夠滿足12英寸、8英寸晶圓的測(cè)試需求，通過(guò)高精度定位平臺(tái)、高剛性晶圓承載臺(tái)和高分辨率仰視相機(jī)(探針相機(jī))及俯視相機(jī)(晶圓相機(jī))，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)上下晶圓料片、對(duì)針和高精度扎針，與測(cè)試機(jī)配合完成對(duì)晶圓上集成電路的品質(zhì)檢測(cè)。圓測(cè)試是在半導(dǎo)體器件制造過(guò)程中執(zhí)行的一個(gè)步驟。
2022
12-07

探針臺(tái)的使用環(huán)境說(shuō)明
探針臺(tái)是一種成熟的工具，用于測(cè)試硅晶片、裸片和開(kāi)放式微芯片上的電路和設(shè)備。它允許用戶(hù)將電子、光學(xué)或射頻探針?lè)胖迷谠O(shè)備上，然后測(cè)試該設(shè)備對(duì)外部刺激(電子、光學(xué)或射頻)的響應(yīng)。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以更復(fù)雜，涉及復(fù)雜微電路的全功能測(cè)試。它的應(yīng)用行業(yè)有許多，常見(jiàn)的包括半導(dǎo)體、光電以及集成電路等行業(yè)，半導(dǎo)體企業(yè)不僅有效促進(jìn)了經(jīng)濟(jì)發(fā)展。主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試，能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境，并進(jìn)行高精度的直流/射頻測(cè)量?？梢栽?
2022
12-05

探針臺(tái)的發(fā)展原理
一、探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)二、從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái))，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)三、經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型：(1)根據(jù)客戶(hù)需求定制(2)chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(3)X-Y移動(dòng)行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(4)chuckZ軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離(5)顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)(6)顯微鏡移動(dòng)方式
2022
11-23

如何去選擇芯片分選機(jī)？
芯片分選機(jī)基于最新高新科技設(shè)計(jì)，可以提供高產(chǎn)出、高精準(zhǔn)度的一站式IC測(cè)試解決方案，它適合Tray入料，卷帶（Reel）出料的進(jìn)出料形式，可針對(duì)各種封裝形式的IC進(jìn)行外觀檢測(cè)。該設(shè)備已經(jīng)取得了很大的技術(shù)進(jìn)步，未來(lái)將在設(shè)備的每小時(shí)產(chǎn)能、適用的芯片封裝種類(lèi)、換測(cè)時(shí)間以及系統(tǒng)的穩(wěn)定性等方面取得重要的成果。如今隨著經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展，用工成本越來(lái)越高，尤其在產(chǎn)品分級(jí)方面，高昂的人工費(fèi)用讓很多工廠企業(yè)越來(lái)越吃不消。自動(dòng)化分級(jí)必將成為未來(lái)的大趨勢(shì)。反觀目前的重量分選機(jī)市場(chǎng)，魚(yú)龍混雜，不少有分級(jí)需求的工廠企業(yè)被設(shè)備
2022
11-10

emmi微光顯微鏡是一款效率高的分析工具
emmi微光顯微鏡是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來(lái)檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。當(dāng)對(duì)樣品施加適當(dāng)電壓時(shí)，其失效點(diǎn)會(huì)因加速載流子散射或電子-空穴對(duì)的復(fù)合而釋放特定波長(zhǎng)的光子。這些光子經(jīng)過(guò)收集和圖像處理后，就可以得到一張信號(hào)圖。撤去對(duì)樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號(hào)圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點(diǎn)的位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)失效點(diǎn)的定位。對(duì)于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHPRecombination會(huì)放
2022
11-04

波形發(fā)生器簡(jiǎn)單了解
一、介紹：(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)生器，在調(diào)試硬件時(shí)，常常需要加入一些信號(hào)，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號(hào)發(fā)生器，不但笨重，而且只發(fā)一些簡(jiǎn)單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶(hù)要調(diào)試串口通信程序時(shí)，就要在計(jì)算機(jī)上寫(xiě)好一段程序，再用線連接計(jì)算機(jī)和用戶(hù)實(shí)驗(yàn)板，如果不正常，不知道是通訊線有問(wèn)題還是程序有問(wèn)題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能，就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過(guò)邏輯探勾輸出，調(diào)試起來(lái)簡(jiǎn)單快捷。二、設(shè)計(jì)原理：1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方波,三角波,正弦波,
2022
10-13

了解探針臺(tái)溫控有哪些功能
探針臺(tái)溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺(tái)，通過(guò)杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點(diǎn)：1、可編程精密控溫?？瑟?dú)立控制，也可從上位機(jī)軟件控制；2、探針需開(kāi)蓋移動(dòng)，樣品臺(tái)面電接地；3、探針，分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口；4、杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性更好；5、彎針探針，
2022
10-13

MPI探針臺(tái)使用方式
MPI探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。它主要的功能就是針對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行檢測(cè)，這里面說(shuō)的半導(dǎo)體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測(cè)試。通過(guò)探針臺(tái)配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)?？梢赃m用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查檢測(cè)等；可以保證這些半導(dǎo)體元件的質(zhì)量，縮短研發(fā)時(shí)間和器件制作工藝的成本，所以

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